[發明專利]一種半導體電機切阻控制器的晶閘管檢測方法在審
| 申請號: | 201710683030.0 | 申請日: | 2017-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN109061427A | 公開(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發明(設計)人: | 林樂;林羽 | 申請(專利權)人: | 上海英奇電氣科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 上海宣宜專利代理事務所(普通合伙) 31288 | 代理人: | 劉君 |
| 地址: | 200000 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微處理器 加速控制器 晶閘管 主板 風扇驅動電路 控制器 導通 半導體 電機 電源 晶閘管驅動電路 電壓檢測電路 啟動控制信號 狀態檢測模塊 加速接觸器 反向控制 檢測模塊 連接控制 正向控制 可控硅 顯示板 短路 風扇 檢測 市電 發送 供電 | ||
本發明提供一種半導體電機切阻控制器的晶閘管檢測方法,包括:主板,所述主板上設有顯示板,所述主板上設有微處理器、加速控制器,所述微處理器上連接有電源,所述市電通過電源給微處理器供電,所述微處理器上連接風扇驅動電路,微處理器通過風扇驅動電路連接控制風扇,所述微處理器上設有啟動控制信號檢測模塊,所述微處理器通過晶閘管驅動電路連接于加速控制器,加速控制器通過晶閘管狀態檢測模塊連接于微處理器,加速控制器通過電壓檢測電路連接于微處理器。本發明正向控制輸入信號和反向控制輸入信號同時輸入不導通,避免出現同時導通,發送短路風險,而且實現加速接觸器控制,同時還能加測內部可控硅好壞。
技術領域
本發明涉及起重機電機控制技術領域,具體為一種半導體電機切阻控制器的晶閘管檢測方法。
背景技術
晶閘管是一種具有三個PN結的四層結構的大功率半導體器件。晶閘管具有體積小、結構相對簡單、功能強等特點,是比較常用的半導體器件之一。該器件被廣泛應用于各種電子設備和電子產品中,多用來作可控整流、逆變、變頻、調壓、無觸點開關等。家用電器中的調光燈、調速風扇、空調機、電視機、電冰箱、洗衣機、照相機、組合音響、聲光電路、定時控制器、玩具裝置、無線電遙控、攝像機及工業控制等都大量使用了晶閘管器件。
晶閘管雖然應用廣泛,但故障檢測手段有限,在實際運行過程中,僅能依靠被控制設備的異常運行來判斷晶閘管是否處于故障狀態,對于電器的安全運行非常不利,但在實際運行中,如果晶閘管出現損壞或短路,就會直接影響電器設備的正常運行,甚至會造成電器設備的嚴重損毀,為此對晶閘管的適時檢測,非常重要。
發明內容
本發明所解決的技術問題在于提供一種半導體電機切阻控制器的晶閘管檢測方法,以解決上述背景技術中的問題。
本發明所解決的技術問題采用以下技術方案來實現:一種半導體切阻控制器的晶閘管檢測系統,包括:主板,所述主板上設有顯示板,所述主板上設有微處理器、切阻控制器,所述微處理器上連接有電源處理電路,所述市電通過電源處理電路給微處理器供電,所述微處理器上連接風扇驅動電路,微處理器通過風扇驅動電路連接控制風扇,所述微處理器上設有起動控制信號檢測模塊,控制信號通過起動控制信號檢測模塊,給微處理器傳送信號,所述微處理器通過晶閘管驅動電路連接于切阻控制器,切阻控制器通過晶閘管溫度檢測模塊連接于微處理器,切阻控制器通過電壓檢測電路連接于微處理器。
所述切阻控制器包括1號晶閘管模塊、2號晶閘管模塊、3號晶閘管模塊,1號晶閘管模塊、2號晶閘管模塊、3號晶閘管模塊并聯設置,所述1號晶閘管模塊、2號晶閘管模塊、3號晶閘管模塊對應外部U、V、W信號,1號晶閘管模塊、2號晶閘管模塊、3號晶閘管模塊通過晶閘管狀態檢測模塊、電壓檢測電路連接于微處理器。
所述微處理器上連接有故障DO輸出接口、起動DO輸出接口、超溫故障指示燈、溫度檢測模塊、晶閘管狀態指示燈。
所述顯示板包括人機交互界面,人機交互界面上設有工作狀態指示燈、顯示模塊、操作按鍵。
一種通過加速控制器的晶閘管檢測方法,包括以下步驟:
(1)U6通過U7輸入檢測模塊檢測輸入起動控制信號是否有效,U6通過U5和T1、T2、T3檢測A1與A2之間電壓,B1與B2之間電壓,C1與C2之間電壓;
(2)當輸入控制信號有效,且A1A2具有電壓信號、B1B2具有電壓信號、C1C2具有電壓信號時,具備控制條件,控制晶閘管導通,晶閘管導通后,A1A2、B1B2、C1C2電壓信號消失;
若A1A2、B1B2、C1C2其中一組或多組繼續有電壓信號,則晶閘管損壞,U6發出晶閘管故障報警,同時關閉晶閘管,實現晶閘管檢測。
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