[發(fā)明專利]低泄漏密封性能檢驗裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710677442.3
• 申請日: 2017-08-09
• 公開（公告）號: CN109387338A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 肖安山;鄒兵;馬志剛;邱平;毛華平;王春鵬;韓嘉興;王志強
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司青島安全工程研究院;蘇州寶驊密封科技股份有限公司;中國石化工程建設(shè)有限公司
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31251
• 代理人: 張惠明

本發(fā)明涉及一種低泄漏密封性能檢驗裝置，主要解決現(xiàn)有技術(shù)中無法在工況條件下對第泄漏密封件進行密封性能檢驗的問題。本發(fā)明采用一種具有工況模擬功能的低泄漏密封性能檢驗裝置，包括模擬工況系統(tǒng)、密封組件試驗工位和泄漏檢測系統(tǒng)的技術(shù)方案較好地解決了上述問題，可用于工況條件下低泄漏密封性能檢驗中。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種低泄漏密封性能檢驗裝置。

背景技術(shù)

近幾年，隨著國內(nèi)空氣污染的不斷加劇，揮發(fā)性有機物(VOCs)排放控制成為環(huán)保治理的重點工作之一。石油化工企業(yè)生產(chǎn)過程中多數(shù)物料、介質(zhì)都屬于揮發(fā)性有機化合物，并且工藝設(shè)備中涉及眾多閥門、法蘭、泵等靜密封和動密封組件，在生產(chǎn)運行過程中會不可避免地產(chǎn)生大量VOCs的泄漏排放，導(dǎo)致石油化工行業(yè)成為大氣VOCs的主要排放源之一。為治理空氣污染，《國家環(huán)境保護“十二五”規(guī)劃》明確提出：“加強石化行業(yè)生產(chǎn)、輸送和存儲過程揮發(fā)性有機污染物排放控制”。石油化工企業(yè)為減少環(huán)境污染、降低加工損失，也正在不斷加大對VOCs的排放控制。據(jù)統(tǒng)計，設(shè)備組件泄漏(即無組織排放)占石化VOCs排放約70％，是VOCs主要排放源，解決設(shè)備組件泄漏成為石油化工行業(yè)控制VOCs排放的重中之重。而在導(dǎo)致設(shè)備組件泄漏的原因中，除密封組件維護保養(yǎng)不到位、人工操作或安裝不當?shù)仍蛲猓O(shè)備密封材料失效也是其中最主要的原因，主要表現(xiàn)在墊片、填料等密封材料選型等級不夠，性能未達到預(yù)期。因此，設(shè)備密封組件的性能驗證，確保密封組件各項技術(shù)指標達到相關(guān)密封等級要求，是實現(xiàn)設(shè)備組件零泄漏的源頭保證。

目前國內(nèi)外針對低泄漏密封件的檢驗，主要是在常溫常壓或特定溫度條件下進行檢驗，缺乏工況條件下密封件性能檢驗手段，不能真實反映密封件在工況條件下的密封性能[丘平，王志強，低泄漏閥門試驗標準及其工業(yè)應(yīng)用，石油化工安全環(huán)保技術(shù)，2008，24(2)：52-55.]。

建立抗逸散密封組件驗證技術(shù)平臺，就是要開展閥門、法蘭等設(shè)備密封組件的性能驗證，保證石化密封設(shè)備的設(shè)計及選型符合要求，從源頭上減少設(shè)備泄漏，實現(xiàn)對VOCs排放的“源頭控制”。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有技術(shù)中無法在工況條件下對第泄漏密封件進行密封性能檢驗的問題，提供一種新的低泄漏密封性能檢驗裝置。該裝置具有工況模擬、實驗介質(zhì)可選、檢測方法多樣的優(yōu)點。

為解決上述問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：一種低泄漏密封性能檢驗方法，采用具有工況模擬功能的低泄漏密封性能檢驗裝置進行低泄漏密封性能檢驗，所述低泄漏密封性能檢驗裝置包括模擬工況系統(tǒng)、密封組件試驗工位和泄漏檢測系統(tǒng)，模擬工況系統(tǒng)由壓縮機、原料罐、緩沖罐和加熱冷卻系統(tǒng)組成，密封組件試驗工位包括一個閥門與填料或法蘭與墊片試驗工位，泄漏檢測系統(tǒng)包括檢測器，泄漏檢測系統(tǒng)與所述試驗工位相連，壓縮機出口與加熱裝置入口相連，加熱裝置出口與試驗工位相連，試驗工位出口管線經(jīng)換熱器后分別與緩沖罐、壓縮機入口、原料罐相連，原料罐上接有實驗介質(zhì)管線；控制系統(tǒng)與工況模擬系統(tǒng)相連。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述裝置具有工況模擬功能。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，檢測器為光離子化檢測器(PID)、火焰離子化檢測器(FID)或質(zhì)譜儀。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，試驗工位為閥門與填料或法蘭與墊片。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，試驗介質(zhì)為氦氣或甲烷。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述裝置能夠模擬高溫高壓到常溫常壓之間工況變化，通過設(shè)計不同參數(shù)的變化頻率，獲取特定工況條件下密封組件性能參數(shù)。

上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，試驗工位出口管線與換熱器管程相連，換熱器殼程通過管線與冷卻器相連。