[發(fā)明專利]自動(dòng)光學(xué)檢測方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710653164.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109387518B | 公開(公告)日: | 2022-06-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王帆;陸海亮;張凱 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團(tuán))股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時(shí)云 |
| 地址: | 201203 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動(dòng) 光學(xué) 檢測 方法 | ||
1.一種自動(dòng)光學(xué)檢測方法,用于檢測被檢測對(duì)象的表面缺陷,其特征在于,包括:將被檢測對(duì)象裝載到工件臺(tái)上,以依序分別采集所述被檢測對(duì)象在至少兩種照明系統(tǒng)的照明下的圖像信息,并且,所述至少兩種照明系統(tǒng)的入射光線照射所述被檢測對(duì)象的同一表面,且對(duì)應(yīng)的圖像信息均通過探測反射光線獲得;
采集所述被檢測對(duì)象在每種所述照明系統(tǒng)的照明下的圖像信息的方法為:當(dāng)所述工件臺(tái)承載所述被檢測對(duì)象移動(dòng)到測量位置時(shí),工件臺(tái)發(fā)出一同步信號(hào)給同步控制器,同步控制器發(fā)出一同步信號(hào)給探測器,所述探測器用于采集所述被檢測對(duì)象的圖像信息,所述同步控制器還發(fā)出一同步信號(hào)給相應(yīng)的所述照明系統(tǒng)以對(duì)被檢測對(duì)象進(jìn)行照明;
計(jì)算機(jī)對(duì)在所述至少兩種照明系統(tǒng)的照明下分別采集的圖像信息進(jìn)行分析,以得到被檢測對(duì)象的表面缺陷信息,并通過計(jì)算機(jī)保存所述表面缺陷信息;通過計(jì)算機(jī)對(duì)所有的表面缺陷信息進(jìn)行整合,以合并重復(fù)的表面缺陷信息,得到經(jīng)過整合后的表面缺陷信息。
2.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,計(jì)算機(jī)在保存的圖像信息中選擇至少一種照明系統(tǒng)照射下的圖像信息,將表面缺陷信息標(biāo)注到選擇的圖像信息中,再將圖像信息輸出并保存。
3.如權(quán)利要求2所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,計(jì)算機(jī)在保存的圖像信息中選擇圖像信息時(shí),僅選擇在一種照明系統(tǒng)的照射下保存的圖像信息。
4.如權(quán)利要求2所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,計(jì)算機(jī)在保存的圖像信息中選擇圖像信息時(shí),選擇至少在兩種照明系統(tǒng)的照射下保存的圖像信息,并將一部分的表面缺陷信息標(biāo)注在一部分選擇的圖像信息中,另一部分的表面缺陷信息標(biāo)注在另一部分選擇的圖像信息中。
5.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,探測器采集被檢測對(duì)象的圖像信息時(shí),通過掃描的方式采集被檢測對(duì)象的圖像信息。
6.如權(quán)利要求5所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,掃描時(shí),所述探測器的位置不變,所述被檢測對(duì)象移動(dòng)。
7.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述探測器采集被檢測對(duì)象的圖像信息之前,通過同步控制器使相應(yīng)的照明系統(tǒng)照射被檢測對(duì)象。
8.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,在對(duì)被檢測對(duì)象進(jìn)行檢測之前,將被檢測對(duì)象放置在工件臺(tái)上,并通過工件臺(tái)將第一同步信號(hào)發(fā)送給同步控制器,同步控制器將第二同步信號(hào)和第三同步信號(hào)分別發(fā)送給探測器和相應(yīng)的照明系統(tǒng),以使探測器開始采集被檢測對(duì)象的圖像信息,并使相應(yīng)的照明系統(tǒng)照明檢測對(duì)象。
9.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,同步控制器先將第二同步信號(hào)發(fā)送給探測器,使探測器開始采集被檢測對(duì)象的圖像信息,在探測器采集被檢測對(duì)象的圖像信息的過程中,同步控制器將第三同步信號(hào)分別發(fā)送給相應(yīng)的照明系統(tǒng),以使相應(yīng)的照明系統(tǒng)照明被檢測對(duì)象。
10.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,僅有兩種照明系統(tǒng),一種為明場照明系統(tǒng),另一種為暗場照明系統(tǒng)。
11.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述照明系統(tǒng)有三種,一種為明場照明系統(tǒng),一種為暗場照明系統(tǒng),一種為紅外照明系統(tǒng)。
12.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述探測器的數(shù)量為多個(gè),一個(gè)探測器僅采集一種照明系統(tǒng)照射下的圖像信息。
13.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述探測器的數(shù)量為一個(gè),可采集多種照明系統(tǒng)照射下的圖像信息。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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