[發(fā)明專利]樣品濃度檢測(cè)裝置及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710644585.4
• 申請(qǐng)日: 2017-07-31
• 公開（公告）號(hào): CN107449789A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周建斌;洪旭;趙文斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 四川新先達(dá)測(cè)控技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/02
• 分類號(hào): G01N23/02
• 代理公司: 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11371
• 代理人: 鄧超

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及濃度檢測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種樣品濃度檢測(cè)裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

乏燃料是經(jīng)受過輻射照射、使用過的核燃料，通常是由核電站的核反應(yīng)堆產(chǎn)生。核燃料在堆內(nèi)經(jīng)中子轟擊發(fā)生核反應(yīng)，經(jīng)一定時(shí)間從堆內(nèi)卸出。乏燃料的鈾含量降低，無法繼續(xù)維持核反應(yīng)，但是包含有大量的放射性元素，具有放射性，如果不加以妥善處理，會(huì)嚴(yán)重影響環(huán)境與接觸它們的人的健康。在處理乏燃料的過程中，需要對(duì)其中的放射性元素如鈾(U)、钚(Pu)、镎(Np)等的含量進(jìn)行監(jiān)測(cè)，目前，對(duì)于放射性元素含量的監(jiān)測(cè)，不同濃度的樣品采用同一探測(cè)器進(jìn)行測(cè)量檢測(cè)，得到的結(jié)果可能會(huì)有誤差，不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種樣品濃度檢測(cè)裝置及系統(tǒng)，通過雙探測(cè)器采用不同的測(cè)量方式對(duì)樣品的濃度進(jìn)行檢測(cè)，以得到更加準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。

為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下所述：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種樣品濃度檢測(cè)裝置，所述樣品濃度探測(cè)裝置與一上位機(jī)連接，所述樣品濃度探測(cè)裝置包括殼體、X光管、第一探測(cè)器、第二探測(cè)器、第一多道脈沖幅度分析器、第二多道脈沖幅度分析器和樣品容納部，所述X光管、第一探測(cè)器、第二探測(cè)器、第一多道脈沖幅度分析器、第二多道脈沖幅度分析器及所述樣品容納部均安裝于所述殼體，所述第二探測(cè)器與所述X光管相對(duì)設(shè)置，所述樣品容納部設(shè)置在所述第二探測(cè)器和所述X光管之間，所述樣品容納部與所述第二探測(cè)器之間設(shè)置有透射通道，所述第一探測(cè)器和所述第二探測(cè)器的探頭朝向所述樣品容納部，所述第一探測(cè)器與所述第一多道脈沖幅度分析器連接，所述第二探測(cè)器與所述第二多道脈沖幅度分析器連接，第一多道脈沖幅度分析器和第二多道脈沖幅度分析器均直接或間接地與所述上位機(jī)連接；所述樣品容納部被配置為容納待測(cè)樣品；所述X光管被配置為產(chǎn)生射線以激發(fā)所述待測(cè)樣品使所述待測(cè)樣品產(chǎn)生特征X射線；所述第一探測(cè)器被配置為探測(cè)所述特征X射線，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的脈沖信號(hào)，將所述脈沖信號(hào)發(fā)送至所述第一多道脈沖幅度分析器；所述第一多道脈沖幅度分析器被配置為將所述第一探測(cè)器發(fā)送的脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)換為第一能譜數(shù)據(jù)并將所述第一能譜數(shù)據(jù)發(fā)送至所述上位機(jī)，以便于所述上位機(jī)根據(jù)所述第一能譜數(shù)據(jù)分析得到對(duì)應(yīng)的第一樣品濃度；所述第二探測(cè)器被配置為探測(cè)所述X光管產(chǎn)生的經(jīng)過所述待測(cè)樣品后的射線，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的脈沖信號(hào)，將所述脈沖信號(hào)發(fā)送至所述第二多道脈沖幅度分析器；所述第二多道脈沖幅度分析器被配置為將所述第二探測(cè)器發(fā)送的脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)換為第二能譜數(shù)據(jù)并將所述第二能譜數(shù)據(jù)發(fā)送至所述上位機(jī)，以便于所述上位機(jī)根據(jù)所述第二能譜數(shù)據(jù)分析得到對(duì)應(yīng)的第二樣品濃度。

進(jìn)一步地，所述樣品容納部包括固定樣品托、移動(dòng)樣品托和樣品池，所述固定樣品托固定安裝在所述殼體上，所述固定樣品托包括凹槽，所述移動(dòng)樣品托被配置為可取出地容納在所述固定樣品托的凹槽內(nèi)，所述樣品池被配置為可取出地容納在所述移動(dòng)樣品托內(nèi)，所述固定樣品托的凹槽相對(duì)的兩個(gè)面設(shè)置有透射孔，所述透射孔被配置為通過所述X光管產(chǎn)生的射線，使所述射線到達(dá)所述第二探測(cè)器的探頭。

進(jìn)一步地，所述凹槽呈“十”型，所述移動(dòng)樣品托容納在所述凹槽內(nèi)的部位呈長(zhǎng)方體。

進(jìn)一步地，所述第一探測(cè)器與所述透射通道呈45°設(shè)置。

進(jìn)一步地，所述第一多道脈沖幅度分析器和第二多道脈沖幅度分析器均包括前端電路、高速模數(shù)變換器、數(shù)字脈沖成形電路、幅度甄別電路、計(jì)數(shù)率校正電路及微控制器，所述數(shù)字脈沖成形電路包括慢成形電路和快成形電路，所述前端電路與所述高速模數(shù)變換器連接，所述高速模數(shù)變換器與所述慢成形電路和快成形電路均連接，所述慢成形電路與所述幅度甄別電路連接，所述快成形電路通過所述計(jì)數(shù)率校正電路與所述幅度甄別電路連接，所述幅度甄別電路與所述控制器連接，所述前端電路被配置為將脈沖信號(hào)放大，所述高速模數(shù)變換器被配置為將所述脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，所述數(shù)字脈沖成形電路被配置為將所述數(shù)字信號(hào)整形，所述計(jì)數(shù)率校正電路被配置為將所述慢成形電路整形的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)率校正，所述幅度甄別電路被配置為將所述數(shù)字脈沖成形電路整形后的數(shù)字型號(hào)進(jìn)行幅度甄別，形成多道能譜數(shù)據(jù)，所述控制器被配置為將所述能譜數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)。

進(jìn)一步地，所述樣品濃度檢測(cè)裝置還包括頂蓋，所述頂蓋與所述殼體可拆卸地連接，所述頂蓋被配置為蓋設(shè)在所述殼體上時(shí)，遮擋所述待測(cè)樣品。

進(jìn)一步地，所述固定樣品托采用金屬材料制作而成。

進(jìn)一步地，所述第一探測(cè)器和第二探測(cè)器均為FAST-SDD探測(cè)器。