[發(fā)明專利]一種含電容傳感器的產(chǎn)品的觸發(fā)測試方法和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710632264.2 | 申請日： | 2017-07-28 |
| 公開（公告）號： | CN107425839B | 公開（公告）日： | 2021-05-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 賈小月;全新妍;李飛 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海科世達(dá)-華陽汽車電器有限公司;科世達(dá)（上海）管理有限公司 |
| 主分類號： | H03K17/96 | 分類號： | H03K17/96 |
| 代理公司： | 北京信遠(yuǎn)達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11304 | 代理人： | 魏曉波 |
| 地址： | 201814 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電容 傳感器 產(chǎn)品 觸發(fā) 測試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種含電容傳感器的產(chǎn)品的觸發(fā)測試方法，其特征在于，包括：
S100、獲取按壓所述產(chǎn)品后形成的第一電容值；
S200、獲取釋放所述產(chǎn)品后形成的第二電容值；
S300、根據(jù)所述第一電容值和所述第二電容值得到所述產(chǎn)品的電容標(biāo)定值，所述電容標(biāo)定值為所述第一電容值和所述第二電容值之間差值；
S400、根據(jù)所述電容標(biāo)定值和所述產(chǎn)品的電容閥值得到電容偏差值，所述電容偏差值為所述電容標(biāo)定值與所述電容閥值之間的偏差，所述電容閥值是根據(jù)批量產(chǎn)品的多個所述電容標(biāo)定值得到的一個平均參考值；
S500、將所述電容偏差值作為電容補(bǔ)償值寫入所述產(chǎn)品的觸發(fā)算法中，得到補(bǔ)償觸發(fā)算法，其中，所述觸發(fā)算法為：
釋放所述產(chǎn)品后形成的釋放電容值減去按壓所述產(chǎn)品后形成的按壓電容值，得到電容閾值；
比較所述電容閾值和所述電容閥值的大小，如果所述電容閾值大于或等于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)成功，如果所述電容閾值小于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)不成功。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸發(fā)測試方法，其特征在于，所述步驟S300具體為：所述第二電容值減去所述第一電容值，得到所述電容標(biāo)定值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸發(fā)測試方法，其特征在于，所述步驟S400具體為：所述電容閥值減去所述電容標(biāo)定值，得到所述電容偏差值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸發(fā)測試方法，其特征在于，所述步驟S500中的補(bǔ)償觸發(fā)算法為：
釋放所述產(chǎn)品后形成的釋放電容值減去按壓所述產(chǎn)品后形成的按壓電容值，得到電容閾值；
將所述電容補(bǔ)償值與所述電容閾值進(jìn)行加法或減法處理，得到修正電容閾值；
比較所述修正電容閾值和所述電容閥值的大小，如果所述修正電容閾值大于或等于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)成功，如果所述修正電容閾值小于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)不成功。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的觸發(fā)測試方法，其特征在于，所述步驟S100中的按壓所述產(chǎn)品具體通過金屬仿真手指按壓所述產(chǎn)品。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的觸發(fā)測試方法，其特征在于，所述金屬仿真手指通過機(jī)器人手臂帶動進(jìn)行按壓和釋放操作，所述步驟S100具體為：
S101、向所述機(jī)器人手臂發(fā)送按壓指令，控制所述機(jī)器人手臂帶動所述金屬仿真手指按壓所述產(chǎn)品；
S102、獲取所述產(chǎn)品發(fā)送的經(jīng)過按壓后形成的所述第一電容值；
所述步驟S200具體為：
S201、向所述機(jī)器人手臂發(fā)送釋放指令，控制所述機(jī)器人手臂帶動所述金屬仿真手指從所述產(chǎn)品上釋放；
S202、獲取所述產(chǎn)品被釋放后形成的所述第二電容值。
7.一種含電容傳感器的產(chǎn)品的觸發(fā)測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
處理器，用于獲取按壓所述產(chǎn)品后形成的第一電容值，獲取釋放所述產(chǎn)品后形成的第二電容值，根據(jù)所述第一電容值和所述第二電容值得到所述產(chǎn)品的電容標(biāo)定值，所述電容標(biāo)定值為所述第一電容值和所述第二電容值之間差值，根據(jù)所述電容標(biāo)定值和所述產(chǎn)品的電容閥值得到電容偏差值，所述電容偏差值為所述電容標(biāo)定值與所述電容閥值之間的偏差，所述電容閥值是根據(jù)批量產(chǎn)品的多個所述電容標(biāo)定值得到的一個平均參考值，將所述電容偏差值作為電容補(bǔ)償值寫入所述產(chǎn)品的觸發(fā)算法中，得到補(bǔ)償觸發(fā)算法，其中，所述觸發(fā)算法為：釋放所述產(chǎn)品后形成的釋放電容值減去按壓所述產(chǎn)品后形成的按壓電容值，得到電容閾值；比較所述電容閾值和所述電容閥值的大小，如果所述電容閾值大于或等于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)成功，如果所述電容閾值小于所述電容閥值，則產(chǎn)品觸發(fā)不成功；
通訊模塊，所述處理器通過所述通訊模塊與所述產(chǎn)品通訊連接；
測試夾具，用于固定所述產(chǎn)品。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸發(fā)測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括金屬仿真手指，用于按壓所述產(chǎn)品。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸發(fā)測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括機(jī)器人手臂，所述金屬仿真手指連接于所述機(jī)器人手臂上，所述機(jī)器人手臂與所述處理器連接，所述處理器還用于向所述機(jī)器人手臂發(fā)送按壓指令，控制所述機(jī)器人手臂帶動所述金屬仿真手指按壓所述產(chǎn)品，向所述機(jī)器人手臂發(fā)送釋放指令，控制所述機(jī)器人手臂帶動所述金屬仿真手指從所述產(chǎn)品上釋放。
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