[發明專利]閃存的優化裝置、優化方法及設備有效
| 申請號： | 201710618761.7 | 申請日： | 2017-07-26 |
| 公開（公告）號： | CN109308162B | 公開（公告）日： | 2022-04-01 |
| 發明（設計）人： | 蘇志強;李建新;劉璐 | 申請（專利權）人： | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F3/06 | 分類號： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 閃存 優化 裝置 方法 設備 | ||
1.一種閃存的優化裝置，其特征在于，包括：
環境信息獲取模塊，用于獲取并記錄至少一種使用環境中的使用環境信息；
測試結果記錄模塊，用于在每種使用環境下基于所述使用環境信息對閃存進行測試，并記錄測試結果；
參數設置調整模塊，用于根據所述測試結果調整所述閃存的參數設置直到所述測試結果達到該使用環境對應的目標結果；
對應記錄模塊，在根據所述測試結果調整所述閃存的參數設置直到所述測試結果達到該使用環境對應的目標結果之后，對應記錄使用環境和所述閃存在所述使用環境下最終設置的參數；
所述使用環境信息包括：環境溫度信息和/或操作頻率信息；
所述測試結果記錄模塊具體用于：
在每種使用環境對應的環境溫度下使用不同的操作頻率對閃存進行測試，得到測試數據；
對所述測試數據進行收集與分析，記錄與所述測試數據對應的測試結果；
測試流程優化模塊，用于在每種使用環境下基于所述使用環境信息對閃存進行測試，并記錄測試結果之前，根據所述使用環境信息對測試流程進行優化，其中，所述測試流程包括測試順序和/或測試參數。
2.一種閃存的優化方法，其特征在于，包括：
獲取并記錄至少一種使用環境中的使用環境信息；
在每種使用環境下基于所述使用環境信息對閃存進行測試，并記錄測試結果；
根據所述測試結果調整所述閃存的參數設置直到所述測試結果達到該使用環境對應的目標結果；
在所述根據所述測試結果調整所述閃存的參數設置直到所述測試結果達到該使用環境對應的目標結果之后，還包括：
對應記錄使用環境和所述閃存在所述使用環境下最終設置的參數；
所述使用環境信息包括：環境溫度信息和/或操作頻率信息；
所述在每種使用環境下基于所述使用環境信息對閃存進行測試，并記錄測試結果包括：
在每種使用環境對應的環境溫度下使用不同的操作頻率對閃存進行測試，得到測試數據；
對所述測試數據進行收集與分析，記錄與所述測試數據對應的測試結果；
所述在每種使用環境下基于所述使用環境信息對閃存進行測試，并記錄測試結果之前，還包括：
根據使用環境信息對測試流程進行優化，其中，測試流程包括測試順序和/或測試參數。
3.一種終端設備，其特征在于，所述設備包括權利要求1中所述的閃存的優化裝置。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京兆易創新科技股份有限公司，未經北京兆易創新科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710618761.7/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：用于閃存的參數調整裝置、方法及設備
- 下一篇：非揮發性記憶體磁區規劃方法
