[發明專利]一種閃爍探測器的增益校正裝置和方法有效
| 申請號: | 201710614096.4 | 申請日: | 2017-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN107247284B | 公開(公告)日: | 2023-09-22 |
| 發明(設計)人: | 姜浩;邢明俊;朱玉珍;謝慶國 | 申請(專利權)人: | 蘇州瑞派寧科技有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/202 | 分類號: | G01T1/202;G01T7/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215163 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 閃爍 探測器 增益 校正 裝置 方法 | ||
1.一種閃爍探測器的增益校正方法,其特征在于,所述閃爍探測器的增益G、溫度t和電壓x之間滿足增益溫度電壓方程G(x,t)=at+bx+c,其中參數a、b、c為常數;所述增益校正方法包括以下步驟:
第一步,確定標準閃爍探測器的增益溫度電壓方程,具體步驟為:
步驟S1:取一標準閃爍探測器,在溫度T0和電壓X0固定的情況下測量所述標準閃爍探測器的增益G0,將所述標準閃爍探測器的增益G0作為待測閃爍探測器的目標增益;
步驟S2:將溫度固定為T0,將電壓調整為X2,測量所述標準閃爍探測器的增益G2,代入所述增益溫度電壓方程,計算得到參數k2和p2,其中k2=b,p2=at0+c;
步驟S3:將電壓固定為X0,將溫度調整為T1,測量標準閃爍探測器的增益G1,代入所述增益溫度電壓方程,計算得到參數k1和p1,其中,k1=a,p1=bx0+c;
步驟S4:將參數k1、k2、p1和p2代入所述增益溫度電壓方程,計算得到標準閃爍探測器的參數a、b和c,從而確定標準閃爍探測器的增益溫度電壓方程為:
G(x,t)=at+bx+c,
步驟S5:當目標增益為G0時,根據增益溫度電壓方程可確定所述閃爍探測器的電壓x和溫度t之間的關系為:
x=(G0-at-c)/b;
第二步,測量待測閃爍探測器與所述標準閃爍探測器的增益差,獲取待測閃爍探測器在所述目標增益條件下的電壓溫度方程;具體步驟如下:
步驟S6:調整溫度為T0、電壓為X0,測量待測閃爍探測器的增益G',則待測閃爍探測器的增益溫度電壓方程為:
G(x,t)=at+bx+c+(G'-G0);
步驟S7:當目標增益為G0時,待測閃爍探測器的電壓溫度方程為:
x=(-at-c+2G0-G')/b;
第三步,將所述第二步中獲得的電壓溫度方程作為校正的參考,根據待測閃爍探測器的實測溫度計算得到對應的校正電壓,根據所述校正電壓改變所述閃爍探測器的電壓以實現待測閃爍探測器的增益校正。
2.根據權利要求1所述的閃爍探測器的增益校正方法,其特征在于,利用溫度傳感器得到待測閃爍探測器的實測溫度,利用單片微型計算機計算得到對應的所述校正電壓。
3.根據權利要求1所述的閃爍探測器的增益校正方法,其特征在于,對于同尺寸同規格的閃爍探測器,第一步只需執行一次,其他待測的閃爍探測器執行第二步以獲取目標增益下的電壓溫度方程。
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