[發明專利]光學量測系統、光學量測裝置及其量測方法

有效

• 申請號: 201710598582.1
• 申請日: 2017-07-21
• 公開（公告）號: CN109282750B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 吳世傑;林典瑩;林辰泰;莊世昌
• 申請（專利權）人: 鐿鈦科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 徐金國

1.一種放大位移倍率的光學量測裝置，用以量測一待測物的一徑長，其特征在于，該放大位移倍率的光學量測裝置包含：

一架座，包含一定位槽；

一移動抵靠件，樞接于該架座上且對應該定位槽，該待測物夾抵于該移動抵靠件與該定位槽之間；

多個靜態光學感測件，設于該架座上；以及

一動態光學感測件，設于該移動抵靠件上，該動態光學感測件與其中一該靜態光學感測件相隔一光學感測間距，該動態光學感測件受該移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使該光學感測間距改變，該光學感測間距的改變程度大于該徑長的改變程度。

2.根據權利要求1所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，該架座還包含：

一座體，具有一底端與一頂端，該定位槽凹陷開設于該座體，該底端樞接該移動抵靠件；及

一動態參考框架，連接該頂端且具有多個光球定位端，各該靜態光學感測件分別定位于各該光球定位端上。

3.根據權利要求1所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，

該定位槽包含二抵靠斜面，該二抵靠斜面呈V形配置且彼此相交于一交界處，該待測物與該交界處相隔一間隙，該定位槽具有一定位深度，該定位深度小于等于該徑長與該間隙的總和。

4.根據權利要求3所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，

該二抵靠斜面彼此相交一角度，該角度大于等于80度且小于等于100度。

5.根據權利要求2所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，該架座還包含：

一阻擋件，凸設該座體且連接該定位槽，該阻擋件抵頂該待測物的一前端，借以阻止該待測物沿該定位槽的延伸方向位移。

6.根據權利要求2所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，該座體的該底端設有二凸耳，各該凸耳包含一孔洞；及

該移動抵靠件包含：一軸桿，穿設于二該孔洞；一樞接部，該軸桿銜接于該二凸耳與該樞接部之間；及一光球定位部，一體連接該樞接部，該動態光學感測件定位于該光球定位部上。

7.根據權利要求2所述的放大位移倍率的光學量測裝置，其特征在于，該座體具有一扶持面，該扶持面呈弧狀且與該定位槽相對，該扶持面位于該底端與該頂端之間。

8.一種放大位移倍率的光學量測系統，用以量測一待測物的一徑長與一軸長，其特征在于，該放大位移倍率的光學量測系統包含：

一放大位移倍率的光學量測裝置，包含：一架座，包含一定位槽；一移動抵靠件，樞接于該架座上且對應該定位槽，該待測物夾抵于該移動抵靠件與該定位槽之間；多個靜態光學感測件，設于該架座上；及一動態光學感測件，設于該移動抵靠件上，該動態光學感測件與其中一該靜態光學感測件相隔一光學感測間距，該動態光學感測件受該移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使該光學感測間距改變，該光學感測間距的改變程度大于該徑長的改變程度；

一光學追蹤器，感應所述多個靜態光學感測件及該動態光學感測件以辨識該待測物的該徑長；以及

一軸向光學量測裝置，包含：一握持本體，可拆卸地連接該待測物；及一光學感測器，設于該握持本體上，該光學感測器受該光學追蹤器感應以辨識該待測物的該軸長。

9.根據權利要求8所述的放大位移倍率的光學量測系統，其特征在于，該架座還包含：

一座體，具有一底端與一頂端，該定位槽凹陷開設于該座體，該底端樞接該移動抵靠件；及

一動態參考框架，連接該頂端且具有多個光球定位端，各該靜態光學感測件分別定位于各該光球定位端上。

10.根據權利要求8所述的放大位移倍率的光學量測系統，其特征在于，

該定位槽包含二抵靠斜面，該二抵靠斜面呈V形配置且彼此相交于一交界處，該待測物與該交界處相隔一間隙，該定位槽具有一定位深度，該定位深度小于等于該徑長與該間隙的總和。