[發(fā)明專利]一種鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710585688.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107504891B | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊勇;羅中杰;宋俊磊;楊文璐;張慶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢) |
| 主分類號(hào): | G01B7/06 | 分類號(hào): | G01B7/06 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立;朱毅 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)魯磨路3*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鋼鐵 表面 非鐵磁質(zhì) 金屬 厚度 測(cè)量方法 系統(tǒng) | ||
1.一種鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法,其特征在于,包括如下步驟:
取i(i≥2)個(gè)規(guī)格相同、鍍層厚度zi不同的系列標(biāo)樣,在每個(gè)標(biāo)樣上待測(cè)區(qū)域兩端選取兩個(gè)固定的檢測(cè)點(diǎn),并在所述兩個(gè)檢測(cè)點(diǎn)之間加上設(shè)定頻率范圍的激勵(lì)信號(hào),測(cè)得不同頻率f下每種鍍層厚度標(biāo)樣的電感Li(f),并繪制系列標(biāo)樣的電感隨頻率變化曲線Li~f;
根據(jù)系列標(biāo)樣的所述電感隨頻率變化曲線Li~f確定系列標(biāo)樣的電感Li隨鍍層厚度z變化最敏感的頻率,并標(biāo)記為最佳頻點(diǎn)f0;
根據(jù)標(biāo)樣的鍍層厚度zi和標(biāo)樣在最佳頻點(diǎn)f0處的電感Li0繪制校正曲線zi~Li0;
測(cè)量待測(cè)樣品在最佳頻點(diǎn)f0處的電感值Lx0,并根據(jù)所述校正曲線zi~Li0讀取待測(cè)樣品的鍍層厚度zx。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法,其特征在于,所述取i個(gè)規(guī)格相同、鍍層厚度zi不同的標(biāo)樣進(jìn)行電感隨頻率變化的測(cè)試包括:檢測(cè)不同已知鍍層厚度zi的標(biāo)樣上兩個(gè)所述檢測(cè)點(diǎn)之間部分的電感值Li(f);
所述測(cè)量待測(cè)樣品在最佳頻點(diǎn)f0處的電感值Lx0包括:在與系列標(biāo)樣規(guī)格相同、鍍層厚度zx未知的待測(cè)樣品上、與系列標(biāo)樣上所述檢測(cè)點(diǎn)相同的位置選取兩個(gè)檢測(cè)點(diǎn),并檢測(cè)待測(cè)樣品在頻率f0處的電感值Lx0。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法,其特征在于,所述激勵(lì)信號(hào)的頻率范圍為10Hz—10MHz。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法,其特征在于,根據(jù)所述電感隨頻率變化曲線Li~f確定系列標(biāo)樣的電感Li隨鍍層厚度z變化最敏感的頻率具體包括:
選取鍍層厚度差別最大的兩個(gè)標(biāo)樣對(duì)應(yīng)的兩條所述電感隨頻率變化曲線Li~f計(jì)算同一頻率對(duì)應(yīng)的電感變化量ΔL,并繪制不同厚度標(biāo)樣的電感變化量ΔL隨頻率變化曲線ΔL~f;
根據(jù)所述電感變化量ΔL隨頻率變化曲線ΔL~f讀取電感變化量最大值ΔLmax對(duì)應(yīng)的頻率f0,并將其標(biāo)記為最佳頻點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的鋼鐵表面非鐵磁質(zhì)金屬覆膜厚度測(cè)量方法,其特征在于,所述i個(gè)規(guī)格相同、鍍層厚度zi不同的標(biāo)樣中的一個(gè)所述標(biāo)樣的鍍層厚度為零。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢),未經(jīng)中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710585688.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





