[發(fā)明專利]一種同步檢測的方法及同步檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710580614.5
• 申請日: 2017-07-17
• 公開（公告）號: CN107708145B
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 林旺東;陳力;劉凱
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市銳能微科技有限公司
• 主分類號: H04W24/08
• 分類號: H04W24/08;H04W56/00
• 代理公司: 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414
• 代理人: 張全文

1.一種同步檢測的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取連續(xù)輸入的第一數(shù)據(jù)信號序列；

對所述第一數(shù)據(jù)信號序列進行緩存，并對所述第一數(shù)據(jù)信號序列進行二階差分檢測，其中，所述二階差分檢測通過將待匹配的目標(biāo)數(shù)據(jù)的一階差分檢測結(jié)果與所述第一數(shù)據(jù)信號序列的一階差分檢測結(jié)果進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果確定所述二階差分檢測的檢測結(jié)果；

若所述二階差分檢測成功，則獲取對所述第一數(shù)據(jù)信號序列進行所述二階差分檢測的起始信號位置；

從緩存的所述第一數(shù)據(jù)信號序列的所述起始信號位置開始進行數(shù)據(jù)同步采集。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述第一數(shù)據(jù)信號序列進行二階差分檢測包括：

獲取k比特待匹配的目標(biāo)數(shù)據(jù)的一階差分處理結(jié)果c₀c₁c₂c₃.....c_k-2，其中，c_z＝b_z-b_z+1，b_z∈{0,1}，b₀b₁b₂b₃.....b_k-1為所述待匹配的目標(biāo)數(shù)據(jù)，z＝0,1,2,......,k-2，k為大于1的整數(shù)；

對連續(xù)輸入的第一數(shù)據(jù)信號序列a₀a₁a₂a₃.....a_k-1進行一階差分處理，得到一階差分處理后的信號e₀e₁e₂e₃.....e_k-2；其中，e_y＝a_y-a_y+1，y＝0,1,2,...,k-2；

根據(jù)e₀e₁e₂e₃.....e_k-2和預(yù)設(shè)的第一門限值，按照如下公式得到二階差分處理后的k-1比特信號g₀g₁g₂g₃....g_k-2：

g_i＝c_i-f_i

其中，g_i∈{-2,-1,0,1,2}，i＝0,1,2,......,k-2，Thre₀為所述第一門限值；

按照公式sum＝abs(g₀)+abs(g₁)+abs(g₂)+........+abs(g_k-2)計算g₀g₁g₂g₃....g_k-2的絕對值之和sum；

若所述絕對值之和小于預(yù)設(shè)的第二門限值，則所述二階差分檢測成功。