[發(fā)明專利]微型熱保護(hù)器中發(fā)熱絲平整度的檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710573488.0 | 申請日: | 2017-07-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107270862B | 公開(公告)日: | 2019-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫海;孫華民;徐宇軍;陳曉強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 杭州星帥爾電器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B21/30 | 分類號(hào): | G01B21/30 |
| 代理公司: | 杭州天欣專利事務(wù)所(普通合伙) 33209 | 代理人: | 陳紅 |
| 地址: | 311422 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微型 保護(hù) 發(fā)熱 平整 檢測 方法 | ||
1.一種微型熱保護(hù)器中發(fā)熱絲平整度的檢測方法,該微型熱保護(hù)器包括外殼、雙金屬片、靜觸點(diǎn)、絕緣件和帶有兩端部的彎曲形發(fā)熱絲,其特征在于:還設(shè)置有
插片,其上固定有插片胖點(diǎn)、插片輸出端、以及向內(nèi)彎并彼此對應(yīng)的插片第一卡爪和插片第二卡爪,所述的插片胖點(diǎn)與插片輸出端分別位于插片中段的兩側(cè),插片胖點(diǎn)與所述發(fā)熱絲第一端部焊接;
靜腳,其上固定有靜腳胖點(diǎn)、以及向內(nèi)彎并彼此對應(yīng)的靜腳第一卡爪和靜腳第二卡爪,所述的靜腳胖點(diǎn)與發(fā)熱絲第二端部焊接;
非金屬底座,其為四邊形,其上設(shè)置有與插片、靜腳和發(fā)熱絲相匹配的插片型腔、靜腳型腔、發(fā)熱絲型腔,所述的發(fā)熱絲型腔位于中間,插片型腔和靜腳型腔位于兩側(cè),
在非金屬底座上還設(shè)置有四個(gè)封閉臺(tái)階,其中至少有兩個(gè)中部臺(tái)階;
在發(fā)熱絲平整度檢測前,將已經(jīng)與插片胖點(diǎn)和靜腳胖點(diǎn)焊接固定的發(fā)熱絲組件對應(yīng)安裝到非金屬底座的插片型腔、靜腳型腔和發(fā)熱絲型腔內(nèi),構(gòu)成底座組件;
然后按以下方法對發(fā)熱絲平整度進(jìn)行檢測:
檢測方法包括對發(fā)熱絲定型平整度和發(fā)熱絲定型高度的檢測;
1)對發(fā)熱絲平整度的檢測:在非金屬底座兩個(gè)中部臺(tái)階的上表面分別選取左、右兩個(gè)測量點(diǎn),并分別測量出所述左、右兩個(gè)測量點(diǎn)的高度,其差值小于所要求的設(shè)置值即為非金屬底座平整度合格,否則為不合格;
再在發(fā)熱絲的上表面選取左、右兩個(gè)測量點(diǎn),并分別測量出所述左、右兩個(gè)測量點(diǎn)的高度,其差值小于所要求的設(shè)置值即為發(fā)熱絲平整度合格,否則為不合格;
發(fā)熱絲高度的檢測:計(jì)算非金屬底座中兩個(gè)中部臺(tái)階測量值的分別平均值,然后將該兩個(gè)平均值再平均一下得出最終平均值,再計(jì)算發(fā)熱絲兩點(diǎn)測量值的平均值,將上述非金屬底座中的最終平均值與發(fā)熱絲兩點(diǎn)的平均值相減即為發(fā)熱絲和非金屬底座中兩個(gè)中部臺(tái)階的平均高度差,該平均高度差小于或等于所要求的設(shè)置值即發(fā)熱絲高度合格,否則為不合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型熱保護(hù)器中發(fā)熱絲平整度的檢測方法,其特征在于:所述的檢測方法通過發(fā)熱絲高度測試儀采用激光測試頭無接觸測量法進(jìn)行,在對發(fā)熱絲平整度的檢測中:當(dāng)選定非金屬底座兩個(gè)中部臺(tái)階的左、右兩個(gè)測量點(diǎn)后,通過移動(dòng)測試頭分別測量出所述左、右兩個(gè)測量點(diǎn)的高度;當(dāng)選定發(fā)熱絲的左、右兩個(gè)測量點(diǎn)后,通過移動(dòng)測試頭分別測量出所述左、右兩個(gè)測量點(diǎn)的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微型熱保護(hù)器中發(fā)熱絲平整度的檢測方法,其特征在于:所述的檢測方法先將發(fā)熱絲高度測試儀放在原始位置,并將底座組件放入夾具,取好基準(zhǔn)點(diǎn)即可進(jìn)行發(fā)熱絲定型平整度和發(fā)熱絲定型高度的檢測,最后通過發(fā)熱絲高度測試儀自動(dòng)計(jì)算出差額值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州星帥爾電器股份有限公司,未經(jīng)杭州星帥爾電器股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710573488.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





