[發(fā)明專利]粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段磁光譜測(cè)試方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710572965.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107219182B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 瓦西里·帕尼洛維奇;李娜;左文彬;付德君 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 宜昌后皇真空科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/33 | 分類號(hào): | G01N21/33;G01N21/21 |
| 代理公司: | 武漢華旭知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 42214 | 代理人: | 邱琳 |
| 地址: | 443500 湖北省*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 粒子束 激發(fā) 真空 紫外 可見(jiàn)光 波段 光譜 測(cè)試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試方法,其特征在于包括以下步驟:
(1)在真空環(huán)境下,利用激發(fā)源產(chǎn)生質(zhì)子束噴出,質(zhì)子束經(jīng)過(guò)離子束中和器發(fā)生中和,形成中性的載能原子束,載能原子束傳輸至樣品臺(tái)內(nèi)放置的樣品的表面,激發(fā)樣品的表面層中的原子,激發(fā)態(tài)的原子的電子躍遷產(chǎn)生紫外光譜;
(2)控制樣品臺(tái)內(nèi)的電磁鐵使其產(chǎn)生的磁場(chǎng)平行或垂直紫外光譜的傳播方向;在磁場(chǎng)作用下的紫外光譜依次經(jīng)過(guò)靜電聚焦透鏡、光彈性調(diào)制器和線偏振器進(jìn)入單色儀;
(3)紫外光譜經(jīng)單色儀處理后,經(jīng)過(guò)光電倍增管將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),再經(jīng)由穩(wěn)流器反饋至鎖相放大器;同時(shí)經(jīng)過(guò)光彈性調(diào)制器的振蕩信號(hào)作為基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)入鎖相放大器;
(4)鎖相放大器將信號(hào)輸入至計(jì)算機(jī)進(jìn)行控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試方法,其特征在于:步驟(1)所述質(zhì)子束經(jīng)過(guò)離子束光闌達(dá)到離子束中和器發(fā)生中和,形成中性的載能原子束后經(jīng)過(guò)粒子束光闌達(dá)到樣品的表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試方法,其特征在于:步驟(2)所述磁場(chǎng)為穩(wěn)恒磁場(chǎng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試方法,其特征在于:步驟(2)的樣品處于10-300K的低溫環(huán)境中。
5.一種基于權(quán)利要求1所述方法的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:包括真空環(huán)境內(nèi)的激發(fā)源和用于放置樣品的樣品臺(tái),激發(fā)源和樣品臺(tái)之間放置有離子束中和器;所述樣品臺(tái)配置有由直流變壓器控制磁場(chǎng)強(qiáng)度的電磁鐵,所述電磁鐵用于產(chǎn)生平行或垂直于樣品表面被激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的紫外光的磁場(chǎng);所述樣品臺(tái)的一側(cè)設(shè)有靜電聚焦透鏡,所述靜電聚焦透鏡用于將紫外光聚焦后依次通過(guò)光彈性調(diào)制器和線偏振器后進(jìn)入單色儀,所述單色儀的出口垂直安裝有光電倍增管,光電倍增管的出口通過(guò)穩(wěn)流器接入鎖相放大器;所述光彈性調(diào)制器的一端與單色儀的管路相連,一端與壓電陶瓷垂直固定連接,并通過(guò)壓電陶瓷與光彈性調(diào)制器電源振蕩器連接,光彈性調(diào)制器電源振蕩器接入鎖相放大器,鎖相放大器通過(guò)線纜與計(jì)算機(jī)連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述激發(fā)源出口設(shè)有用于讓激發(fā)源產(chǎn)生的質(zhì)子束對(duì)準(zhǔn)離子束中和器入口的離子束光闌,所述樣品臺(tái)前方設(shè)有用于讓從離子束中和器產(chǎn)生的原子束對(duì)準(zhǔn)樣品的粒子束光闌。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述電磁鐵活動(dòng)安裝于樣品臺(tái),在樣品臺(tái)中旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)至狀態(tài)一時(shí)電磁鐵的磁場(chǎng)方向垂直于樣品表面,旋轉(zhuǎn)至狀態(tài)二時(shí)電磁鐵的磁場(chǎng)方向平行于樣品表面;電磁鐵設(shè)有用于安裝低溫恒溫器的可擴(kuò)展間隙。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述光彈性調(diào)制器電源振蕩器安裝有光電耦合器。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述激發(fā)源采用離子源,其內(nèi)部的靜電吸極電壓為0~35kV連續(xù)可調(diào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子束激發(fā)真空紫外-可見(jiàn)光波段的磁光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述光彈性調(diào)制器的光軸和線偏振器的透射平面的相對(duì)角度為45°。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





