[發明專利]一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法

在審

• 申請號: 201710569176.2
• 申請日: 2017-07-13
• 公開（公告）號: CN107478565A
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 李保松;張薇薇
• 申請（專利權）人: 河海大學
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01N17/02
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司32200
• 代理人: 沈進

1.一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法，其特征在于：該方法包括如下步驟：

步驟a、配制n份含有不同鹵離子濃度的溶液作為電解液，記鹵離子濃度為c₁，c₂，…，c_n的溶液為s₁，s₂，…，s_n，其中鹵離子濃度c₁<c₂<…<c_n，n為大于1的自然數；

步驟b、選取電解液s₁將其注入電解池內，充氮氣除氧15-40分鐘；以待測金屬樣品為工作電極，將其浸入電解液s₁中與輔助電極、參比電極組成三電極體系，記錄該待測金屬樣品的腐蝕電位E_corr；然后用動電位極化法依次用v₁， v₂，…，v_m的掃描速度從距E_corr -100 mV的起始電位E_int開始向陽極極化方向掃描，直至過鈍化區的終止電位E_t，掃描速度v₁< v₂<…<v_m， m為自然數，記錄并保存相關數據；

步驟c、對其它濃度的電解液（s₂，s₃，…，s_n）重復步驟b，記錄相關數據；

步驟d、根據實驗數據，采用相同的坐標，繪制不同掃描速率（v₁， v₂，…，v_m）下樣品的Evs log i曲線，得到樣品在不同掃描速率下的極化曲線圖；繪制不同鹵離子濃度（c₁，c₂，…，c_n）電解液（s₁，s₂，…，s_n）中樣品在相同掃描速率下的E vs log i曲線圖，得到不同鹵離子濃度電解液中樣品在相同掃描速率下的極化曲線圖；

步驟e、對繪制的極化曲線圖進行分析，獲得不同鹵離子濃度下腐蝕電位及腐蝕電流的變化，測量鹵離子對金屬鈍化膜的影響。

2.根據權利要求1所述一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法，其特征在于：

所述步驟b中，在電化學工作站選擇動電位極化法依次用v₁， v₂，…，v_m的掃描速度從起始電位E_int向陽極極化方向掃描，直至過鈍化區的終止電位E_t，記錄并保存相關數據。

3.根據權利要求1或2所述一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法，其特征在于：所述步驟b中，待測金屬樣品浸入電解液60分鐘后，記錄待測金屬樣品的腐蝕電位E_corr。

4.根據權利要求1或2所述的一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法，其特征在于：所述步驟b中，以待測金屬樣品為工作電極，以鉑片或鉑網為輔助電極、飽和甘汞電極或銀/氯化銀電極為參比電極，參比電極以鹽橋與電解液相連，工作電極表面與參比電極鹽橋末端的距離為3-5mm。

5.根據權利要求1或2所述一種測量鹵離子對金屬鈍化膜影響的循環極化方法，其特征在于：所述鹵離子為第ⅦA族元素中的氟、氯、溴或碘的離子，所述溶液為各種酸、堿或鹽的溶液。