[發明專利]一種CT圖像重建方法和裝置

有效

• 申請號: 201710561658.3
• 申請日: 2017-07-11
• 公開（公告）號: CN107341838B
• 公開（公告）日: 2021-01-01
• 發明（設計）人: 張笛兒
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 上海思捷知識產權代理有限公司 31295
• 代理人: 王宏婧

1.一種CT圖像重建方法，其特征在于，包括：

通過自適應低通插值，將第一組位置上的第一組扇束投影數據轉換為第二組位置上的第二組扇束投影數據，所述第一組位置包括檢測器的測量位置，而所述第二組位置包括由系統設計參數確定的理想位置；以及

根據所述第二組位置上的第二組扇束投影數據重建CT圖像，其中

所述自適應低通插值包括通過插值來計算所述第二組位置中的每一個位置上的扇束投影數據，所述插值基于所述第一組扇束投影數據中緊鄰該插值位置的兩個位置上的兩個數據，并且還基于所述第一組扇束投影數據中除所述兩個位置以外離該插值位置最近的至少一個其他位置上的數據；

所述CT圖像重建方法用于對非均勻幾何結構的檢測器的重建。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，進一步包括：在所述自適應低通插值之后，進一步進行重構高通濾波以得到所述第二組扇束投影數據。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，還包括：基于所述第二組扇束投影數據來進行重排算法以將所述第二組扇束投影數據轉換為平行束形式的數據。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述重構高通濾波被合并到所述重排算法中。

5.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述重構高通濾波與所述自適應低通插值被合并為帶通自適應插值。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述自適應低通插值包括高階插值算法。

7.一種CT圖像重建設備，其特征在于，包括：

用于通過自適應低通插值，將第一組位置上的第一組扇束投影數據轉換為第二組位置上的第二組扇束投影數據的裝置，所述第一組位置包括檢測器的測量位置，而所述第二組位置包括由系統設計參數確定的理想位置；以及

用于根據所述第二組位置上的第二組扇束投影數據重建CT圖像的裝置，以用于針對非均勻幾何結構的檢測器的重建，其中,

所述自適應低通插值包括通過插值來計算所述第二組位置中的每一個位置上的扇束投影數據，所述插值基于所述第一組扇束投影數據中緊鄰該插值位置的兩個位置上的兩個數據，并且還基于所述第一組扇束投影數據中除所述兩個位置以外離該插值位置最近的至少一個其他位置上的數據。

8.一種CT圖像重建裝置，其特征在于，包括：

處理器，配置成通過自適應低通插值，將第一組位置上的第一組扇束投影數據轉換為第二組位置上的第二組扇束投影數據，所述第一組位置包括檢測器的測量位置，而所述第二組位置包括由系統設計參數確定的理想位置；以及

根據所述第二組位置上的第二組扇束投影數據重建CT圖像，以用于針對非均勻幾何結構的檢測器的重建，其中

所述自適應低通插值包括通過插值來計算所述第二組位置中的每一個位置上的扇束投影數據，所述插值基于所述第一組扇束投影數據中緊鄰該插值位置的兩個位置上的兩個數據，并且還基于所述第一組扇束投影數據中除所述兩個位置以外離該插值位置最近的至少一個其他位置上的數據；以及

耦合到所述處理器的存儲器。

9.一種存儲有計算機程序代碼的計算機可讀介質，所述計算機程序代碼在由處理器執行時實現CT圖像重建，其特征在于，包括：

用于通過自適應低通插值，將第一組位置上的第一組扇束投影數據轉換為第二組位置上的第二組扇束投影數據的代碼，所述第一組位置包括檢測器的測量位置，而所述第二組位置包括由系統設計參數確定的理想位置；以及

用于根據所述第二組位置上的第二組扇束投影數據重建CT圖像的代碼，以用于針對非均勻幾何結構的檢測器的重建，其中

所述自適應低通插值包括通過插值來計算所述第二組位置中的每一個位置上的扇束投影數據，所述插值基于所述第一組扇束投影數據中緊鄰該插值位置的兩個位置上的兩個數據，并且還基于所述第一組扇束投影數據中除所述兩個位置以外離該插值位置最近的至少一個其他位置上的數據。