[發明專利]一種圖像結構邊緣的定位方法及裝置

有效

• 申請號: 201710517455.4
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107464245B
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 伍更新;高大帥;李健;張連毅;武衛東
• 申請（專利權）人: 北京捷通華聲科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/10
• 分類號: G06T7/10;G06T7/13
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本發明實施例提供了一種圖像結構邊緣的定位方法及裝置，所述方法通過邊緣檢測模型，對待檢測圖像的結構邊緣進行檢測，生成一個與待檢測圖像大小一樣的邊緣得分矩陣，感興趣的結構邊緣像素點得分高，不感興趣的結構邊緣和非結構邊緣像素點得分低；再對邊緣得分矩陣進行直線檢測，根據直線檢測結果獲得候選結構邊緣；再根據預設的約束條件，在候選結構邊緣中最終確定目標結構邊緣；此方法根據邊緣得分矩陣、直線檢測以及約束條件對結構邊緣進行定位，對光照和陰影等具有較強的魯棒性，使圖像結構邊緣的定位更準確。

技術領域

本發明涉及計算機科學技術領域，特別是涉及一種圖像結構邊緣的定位方法和一種圖像結構邊緣的定位裝置。

背景技術

在現有的圖像文本識別中，無論是拍照圖像還是掃描圖像，在文本識別前往往需要將圖像中的結構邊緣分離出來，然后再進行四點透視變換和版面分析。因此圖像結構邊緣的定位具有重要的意義。

現有的圖像結構邊緣檢測往往使用顏色或灰度梯度檢測方法確定二值化圖像，如Canny算子、sobel算子等，然后從二值化圖像中檢測直線并定位結構邊緣。根據梯度確定二值化圖像的過程中往往需要設定二值化閾值參數，而這些閾值參數對光照和陰影等因素非常敏感，往往產生漏檢和誤檢的情況，導致其在自然場景下的應用受到很大的局限。

因此，目前需要本領域技術人員迫切解決的一個技術問題就是：如何使圖像結構邊緣的定位更準確。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題是提供一種圖像結構邊緣的定位方法，使圖像結構邊緣的定位更準確。

相應的，本發明實施例還提供了一種圖像結構邊緣的定位裝置，用以保證上述方法的實現及應用。

為了解決上述問題，本發明公開了一種圖像結構邊緣的定位方法，所述方法包括：

獲取待檢測圖像；

采用預先訓練好的邊緣檢測模型，對所述待檢測圖像進行邊緣檢測，得到邊緣得分矩陣；

對所述邊緣得分矩陣進行直線檢測；

根據所述直線檢測結果確定候選結構邊緣；

根據預設的約束條件，在所述候選結構邊緣中確定目標結構邊緣。

優選地，所述根據所述直線檢測結果確定候選結構邊緣的步驟，包括：

根據所述直線檢測結果，確定潛在直線；

根據所述潛在直線的角度，確定水平線和垂直線；

根據所述水平線和所述垂直線，獲得候選結構邊緣。

優選地，所述根據所述潛在直線的角度，確定水平線和垂直線的步驟，包括：

當所述潛在直線與預設參考直線的夾角大于45度時，確定所述潛在直線為垂直線；

當所述潛在直線與預設參考直線的夾角小于或等于45度時，確定所述潛在直線為水平線。

優選地，所述根據所述水平線和所述垂直線，獲得候選結構邊緣的步驟，包括：

根據任意兩條所述水平線和任意兩條所述垂直線，獲得候選結構邊緣，所述候選結構邊緣的形狀為四邊形。

優選地，所述直線檢測的方法，包括：hough變換或radon變換。

優選地，所述約束條件至少包括：角度約束、長寬比約束、面積約束、推薦區域約束和得分矩陣約束中的一種。

優選地，獲取所述邊緣檢測模型的步驟，包括：

獲取圖像樣本；