[發明專利]一種精密分級篩選電子晶粒的裝置

在審

• 申請號: 201710515568.0
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107051888A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發明（設計）人: 李穎
• 申請（專利權）人: 杭州小橙工業設計有限公司
• 主分類號: B07B15/00
• 分類號: B07B15/00;B07B13/065
• 代理公司: 合肥市科融知識產權代理事務所(普通合伙)34126
• 代理人: 劉備

技術領域

本發明涉及一種電子儀器，具體是一種精密分級篩選電子晶粒的裝置。

背景技術

電子儀器是指檢測、分析、測試電子產品性能、質量、安全的裝置。大體可以概括為電子測量儀器、電子分析儀器和應用儀器三大塊，有光學電子儀器、電子元件測量儀器、動態分析儀器等分類。

電子晶粒其主要功能是:把電能轉化為光能，芯片的主要材料為單晶硅。半導體晶片由兩部分組成，一部分是P型半導體，在它里面空穴占主導地位，另一端是N型半導體，在這邊主要是電子。但這兩種半導體連接起來的時候，它們之間就形成一個P-N結；當電流通過導線作用于這個晶片的時候，電子就會被推向P區，在P區里電子跟空穴復合，然后就會以光子的形式發出能量，這就是LED發光的原理。而光的波長也就是光的顏色，是由形成P-N結的材料決定的。

現有電子元件技術對于電子篩選主要采用震動過濾篩選或者AOI檢測篩選，震動過濾篩選無法精確的區分晶粒的大小，同時易造成晶粒的損傷，AOI檢測時采用攝像放大技術，對晶粒的大小進行判斷，雖然精確度高，但是效率低下，成本高昂。

發明內容

本發明的目的在于提供一種精密分級篩選電子晶粒的裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種精密分級篩選電子晶粒的裝置，包括底座，所述的底座上安裝有機架，所述的機架上設有粗篩裝置和精篩裝置，所述的粗篩裝置的頂端安裝有入料斗，入料斗的底端安裝有降溫管，所述降溫管的左右兩側均設有冷卻器，所述的入料斗的底端設有篩選腔，所述的入料斗的出料口處連接有除雜斗，除雜斗的底端連接有細導管，所述的細導管伸入篩選腔中，所述的篩選腔的左側安裝有吹分機，所述的篩選腔的右側安裝有靜電集料袋，所述的吹分機的吹風口與靜電集料袋的入料口相對應，所述的篩選腔的下方設有集料斗，所述的集料斗與篩選腔之間設有過濾網，所述的集料斗的底端設有輸料管，所述的精篩裝置位于粗篩裝置的左下側位置，所述的精篩裝置上設有若干道傳動裝置，所述的輸料管與最右側的傳動裝置的輸料端相對應，所述的傳動裝置上均設有傳送帶，相鄰的傳動裝置之間均設有精篩器，所述的精篩器中設有一對篩板，所述的篩板左右兩側各有一個，左右兩側的篩板的底端均連接有連接桿，所述的連接桿一端均安裝在篩板上，連接桿的一端均連接有齒條，所述的齒條的內平面均設有鎖合齒，所述的左右兩側的齒條之間均設有齒輪，所述的左右兩側的齒條均通過鎖合齒相嵌合，所述的齒輪的底端安裝有轉軸，所述的轉軸的底端安裝有千分尺，所述的左右兩側的篩板之間均存在間隙，所述的篩板的底端均設有下料斗，下料斗的底端均設有軟管，所述的軟管的底端均連接有靜電集料盒。

作為本發明進一步的方案：所述的篩板與傳送帶位于同一水平面上。

作為本發明進一步的方案：所述的篩板與傳送帶之間無縫連接。

作為本發明進一步的方案：所述的軟管的內壁設有靜電滑層。

作為本發明進一步的方案：所述的最左側的傳動裝置的末端設有導料斜板。

作為本發明進一步的方案：所述的傳動裝置的傾斜角度要求最小不低于10°，最大不超過15°。

作為本發明再進一步的方案：所述的輸料管的直徑小于兩個電子晶體的直徑總和。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：對于不同工藝大小的電子晶粒進行區分，使用傳統的濾網篩選的方式將粗工藝制作的電子晶粒篩選出，再使用千分尺調節傳動齒輪，進而調節精篩器的精度，對于精工藝制作的電子晶粒根據尺寸的大小進行分級篩選，同時整個裝置能有效的避免震動、摩擦、靜電對電子晶粒造成的損傷。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

圖2為本發明中篩板與傳送帶的連接示意圖。

圖3為本發明中精篩器的結構示意圖。

圖中：1-底座、2-機架、3-粗篩裝置、4-精篩裝置、5-入料斗、6-降溫管、7-冷卻器、 8-除雜斗、9-細導管、10-篩選腔、11-吹分機、12-靜電集料袋、13-過濾網、14-集料斗、 15-輸料管、16-傳動裝置、17-傳送帶、18-精篩器、19-篩板、20-間隙、21-下料斗、22- 軟管、23-靜電集料盒、24-導料斜板、25-連接桿、26-齒條、27-鎖合齒、28-齒輪、29- 轉軸、30-千分尺。

具體實施方式