[發(fā)明專利]材料磨損壽命預(yù)測(cè)方法、設(shè)備、和材料磨損測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710483939.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109115640B | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董強(qiáng);彭文駿;張旭東;中川路孝行 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社日立制作所 |
| 主分類號(hào): | G01N3/56 | 分類號(hào): | G01N3/56 |
| 代理公司: | 上海華誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖華 |
| 地址: | 日本國東京都千*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 材料 磨損 壽命 預(yù)測(cè) 方法 設(shè)備 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種材料磨損壽命的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,包括:
設(shè)定步驟,設(shè)定測(cè)試條件的參數(shù);
獲取步驟,獲取所述材料在所述測(cè)試條件中的摩擦性能的數(shù)據(jù)和所述材料的失效臨界硬度;
處理步驟,對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到所述材料的硬度保有率與定伸應(yīng)力保有率之間的變化關(guān)系;
計(jì)算步驟,根據(jù)所述變化關(guān)系和所述失效臨界硬度,計(jì)算所述材料的磨損壽命,
所述磨損壽命為所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率從100%下降至50%所需要的時(shí)間,
所述失效臨界硬度為所述定伸應(yīng)力保有率到達(dá)50%時(shí)所述材料的硬度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試條件的所述參數(shù)包括:對(duì)所述材料施加的應(yīng)力、環(huán)境溫度,以及測(cè)試時(shí)間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述磨損壽命通過所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率衡量。
4.一種材料磨損壽命預(yù)測(cè)設(shè)備,其特征在于,包括:
設(shè)定模塊,用于設(shè)定測(cè)試條件的參數(shù);
獲取模塊,用于獲取所述材料在所述測(cè)試條件中的摩擦性能的數(shù)據(jù)和所述材料的失效臨界硬度;
處理模塊,用于對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到所述材料的硬度保有率與定伸應(yīng)力保有率之間的變化關(guān)系;
計(jì)算模塊,用于根據(jù)所述變化關(guān)系和所述失效臨界硬度,計(jì)算所述材料的磨損壽命,
所述磨損壽命為所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率從100%下降至50%所需要的時(shí)間,
所述失效臨界硬度為所述定伸應(yīng)力保有率到達(dá)50%時(shí)所述材料的硬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試條件的所述參數(shù)包括:對(duì)所述材料施加的應(yīng)力、環(huán)境溫度,以及測(cè)試時(shí)間。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備,其特征在于,所述磨損壽命通過所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率衡量。
7.一種材料磨損壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:
存儲(chǔ)器,存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令;
處理器,所述處理器被配置為執(zhí)行所述指令以實(shí)施磨損壽命預(yù)測(cè)的過程,所述過程包括:設(shè)定步驟,設(shè)定測(cè)試條件的參數(shù);
獲取步驟,獲取所述材料在所述測(cè)試條件中的摩擦性能的數(shù)據(jù)和所述材料的失效臨界硬度;
處理步驟,對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到所述材料的硬度保有率與定伸應(yīng)力保有率之間的變化關(guān)系;
計(jì)算步驟,根據(jù)所述變化關(guān)系和所述失效臨界硬度,計(jì)算所述材料的磨損壽命,
所述磨損壽命為所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率從100%下降至50%所需要的時(shí)間,
所述失效臨界硬度為所述定伸應(yīng)力保有率到達(dá)50%時(shí)所述材料的硬度。
8.一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì),該非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)具有存儲(chǔ)在其中的指令,當(dāng)該指令被執(zhí)行時(shí),使得處理器執(zhí)行材料磨損壽命預(yù)測(cè)方法,該指令包括:
設(shè)定指令,設(shè)定測(cè)試條件的參數(shù);
獲取指令,獲取所述材料在所述測(cè)試條件中的摩擦性能的數(shù)據(jù)和所述材料的失效臨界硬度;
處理指令,對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到所述材料的硬度保有率與定伸應(yīng)力保有率之間的變化關(guān)系;
計(jì)算指令,根據(jù)所述變化關(guān)系和所述失效臨界硬度,計(jì)算所述材料的磨損壽命,
所述磨損壽命為所述材料的所述定伸應(yīng)力保有率從100%下降至50%所需要的時(shí)間,
所述失效臨界硬度為所述定伸應(yīng)力保有率到達(dá)50%時(shí)所述材料的硬度。
9.一種材料磨損測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
如權(quán)利要求4所述的材料磨損壽命預(yù)測(cè)設(shè)備;
基盤;
磨片,所述磨片用于與樣品進(jìn)行摩擦,所述磨片被固定在所述基盤上;
溫度控制單元,用于控制測(cè)試環(huán)境的溫度;
壓力控制單元,用于對(duì)所述樣品施加恒定壓力;
平衡臂,所述平衡臂的一端與所述樣品同軸線相連,通過調(diào)整所述平衡臂,改變所述樣品在所述磨片上的摩擦角度;
驅(qū)動(dòng)單元,與所述基盤相連,用于控制所述基盤的轉(zhuǎn)動(dòng)速度和轉(zhuǎn)動(dòng)方向。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社日立制作所,未經(jīng)株式會(huì)社日立制作所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710483939.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 電池壽命判斷裝置及電池壽命判斷方法
- 延長會(huì)話壽命裝置和延長會(huì)話壽命方法
- 壽命預(yù)測(cè)方法、壽命預(yù)測(cè)裝置、壽命運(yùn)算裝置、旋轉(zhuǎn)機(jī)械
- 電池壽命推測(cè)方法及電池壽命推測(cè)裝置
- 壽命預(yù)測(cè)方法、壽命預(yù)測(cè)程序以及壽命預(yù)測(cè)裝置
- 開關(guān)壽命檢測(cè)設(shè)備及開關(guān)壽命檢測(cè)系統(tǒng)
- 壽命評(píng)價(jià)裝置及壽命評(píng)價(jià)方法
- 電源壽命
- 壽命預(yù)測(cè)裝置、壽命預(yù)測(cè)方法及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 壽命測(cè)試裝置及壽命測(cè)試方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法、程序以及記錄介質(zhì)
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 基于時(shí)間序列預(yù)測(cè)模型適用性量化的預(yù)測(cè)模型選擇方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 分類預(yù)測(cè)方法及裝置、預(yù)測(cè)模型訓(xùn)練方法及裝置
- 幀內(nèi)預(yù)測(cè)的方法及裝置
- 圖像預(yù)測(cè)方法及裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 文本預(yù)測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備
- 模型融合方法、預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





