[發(fā)明專利]光學(xué)顯微成像系統(tǒng)及其成像方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710476448.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107167912A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃偉;楊剛;李豐;楊立梅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 |
| 主分類號(hào): | G02B21/36 | 分類號(hào): | G02B21/36;G02B21/00 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44304 | 代理人: | 孫偉峰 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 顯微 成像 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,包括光源、依次遠(yuǎn)離所述光源并設(shè)置于所述光源的出射光路上的第一擴(kuò)束準(zhǔn)直器、顯微鏡、分光器、第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器及圖像獲取裝置,所述光源出射的光束依次經(jīng)過(guò)所述第一擴(kuò)束準(zhǔn)直器、顯微鏡后形成具有樣品信息的樣品光,所述樣品光經(jīng)過(guò)所述分光器分光后形成兩個(gè)光束,所述兩個(gè)光束經(jīng)過(guò)所述第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器后成像在所述圖像獲取裝置上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,所述第一擴(kuò)束準(zhǔn)直器包括第一透鏡、第二透鏡及設(shè)置于所述第一透鏡與所述第二透鏡之間的第一濾波器,所述第二透鏡位于所述第一濾波器與所述顯微鏡之間,所述第一濾波器位于所述第一透鏡的后焦平面處,所述第一透鏡的后焦平面與所述第二透鏡的前焦平面重合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,所述第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器包括第三透鏡、第四透鏡及設(shè)置于所述第三透鏡與所述第四透鏡之間的第二濾波器,所述第四透鏡位于所述圖像獲取裝置與所述第二濾波器之間,所述圖像獲取裝置位于所述第四透鏡的后焦平面處,所述第二濾波器位于所述第三透鏡的后焦平面處,所述第三透鏡的后焦平面與所述第四透鏡的前焦平面重合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,還包括設(shè)置于所述光源的出射光路上的光闌,所述光闌位于所述顯微鏡與所述分光器之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,還包括設(shè)置于所述光源的出射光路上的第三擴(kuò)束準(zhǔn)直器,所述第三擴(kuò)束準(zhǔn)直器位于所述分光器與所述第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,所述第三擴(kuò)束準(zhǔn)直器包括第五透鏡和第六透鏡,所述第五透鏡位于所述分光器與所述第六透鏡之間,所述分光器位于所述第五透鏡的前焦平面處,所述第五透鏡的后焦平面與所述第六透鏡的前焦平面重合。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,還包括設(shè)置于所述光源的出射光路上的光路調(diào)整器,所述光路調(diào)整器位于所述第三擴(kuò)束準(zhǔn)直器與所述第二擴(kuò)束準(zhǔn)直器之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,所述光路調(diào)整器包括第一反射鏡和第二反射鏡,所述第一反射鏡位于所述第三擴(kuò)束準(zhǔn)直器與所述第二反射鏡之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng),其特征在于,所述光源為激光器,和/或所述分光器為光柵,和/或所述圖像獲取裝置為CCD。
10.一種如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的成像方法,其特征在于,包括:
開(kāi)啟激光器,所述圖像獲取裝置獲取第一干涉圖;
將所述分光器移動(dòng)預(yù)定距離,所述圖像獲取裝置獲取第二干涉圖;
將所述第二干涉圖像與所述第一干涉圖像作差,獲得第三干涉圖像;
提取所述第三干涉圖像的相位信息,獲得相位圖。
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