[發明專利]光學計測裝置

有效

• 申請號: 201710472648.2
• 申請日: 2017-06-20
• 公開（公告）號: CN107588726B
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 金谷義宏;近藤智則;鈴木祐太
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 11127 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 李輝;馬建軍<國際申請>=<國際公布>=

1.一種光學計測裝置，該光學計測裝置構成為能夠與工業網絡連接，具有使時刻在主裝置與從裝置之間同步的同步功能，其特征在于，所述光學計測裝置具有：

接口部，其構成為接收從所述主裝置以固定的通信周期發送到所述工業網絡的同步信號，并且與所述同步信號同步地輸出所述光學計測裝置的測定結果和具有第1狀態及第2狀態的同步監視信號；以及

計測部，其構成為以相對于所述通信周期獨立的測定周期執行光學測定而生成所述測定結果，并且生成所述同步監視信號，

所述計測部與開始所述測定后所述接口部接收所述同步信號同步地，將所述同步監視信號設定為所述第1狀態，在從所述接口部輸出所述測定結果的情況下，與所述接口部接收所述同步信號同步地，將所述同步監視信號設定為所述第2狀態。

2.根據權利要求1所述的光學計測裝置，其特征在于，

所述計測部與所述接口部接收所述同步信號的時機同步地，將所述同步監視信號設定為所述第1狀態。

3.根據權利要求2所述的光學計測裝置，其特征在于，

所述計測部在所述接口部與所述同步信號同步地輸出所述測定結果的時機，將所述同步監視信號設定為所述第2狀態。

4.根據權利要求1～3中的任意一項所述的光學計測裝置，其特征在于，

所述計測部構成為能夠并行地執行開始的時機不同的多個所述測定，在由于所述多個所述測定，將所述同步監視信號設定為所述第1狀態的時機和將所述同步監視信號設定為所述第2狀態的時機重合的情況下，將所述同步監視信號設定為所述第1狀態及所述第2狀態中的任意狀態，使得所述同步監視信號的狀態發生變化。

5.根據權利要求1～3中的任意一項所述的光學計測裝置，其特征在于，

所述計測部構成為能夠并行地執行開始的時機不同的多個所述測定，并且能夠生成與所述多個所述測定分別對應的多個所述同步監視信號，根據所述多個所述測定中的第1測定的開始，將所述多個所述同步監視信號中的與所述第1測定對應的第1同步監視信號設定為所述第1狀態，在將所述第1同步監視信號設定為所述第2狀態之前開始所述第1測定之后的第2測定，并且將所述多個所述同步監視信號中的與所述第2測定對應的第2同步監視信號設定為所述第1狀態。

6.根據權利要求1所述的光學計測裝置，其特征在于，

所述通信周期比所述測定周期短，或者所述通信周期比所述測定周期長且比將所述計測部的測定處理時間與所述測定周期相加而得的時間短。