[發明專利]一種數控機床的動態誤差檢驗方法及裝置

有效

• 申請號: 201710438895.0
• 申請日: 2017-06-12
• 公開（公告）號: CN107085409B
• 公開（公告）日: 2019-05-21
• 發明（設計）人: 陳吉紅;周會成;李雷
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G05B19/404
• 分類號: G05B19/404
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 周磊;曹葆青

1.一種數控機床的動態誤差檢驗方法，其特征在于，包括：

數據采集步驟，從數控機床獲取與該數控機床的刀位點的實際位置相關的第一數據和與測頭的探針的偏移量相關的第二數據；在此過程中，首先將所述探針貼合于“S”件的直紋加工面，然后以與數控加工此“S”件相同的進給速度以及與數控加工此“S”件時其中一刀具軌跡相同的運動軌跡，沿著此“S”件的外輪廓掃描測量一周圈，與此同時，同步采集與所述第一數據和第二數據；其中，所述測頭為接觸式三維掃描測頭，所述“S”件由一個呈“S”形狀的直紋加工面和一個矩形基座組合而成；

數據處理步驟，對所述第一數據和所述第二數據進行處理，將所述第一數據和所述第二數據還原成工件坐標系下的理論刀位軌跡，并基于所述理論刀位軌跡和所述第二數據來獲得實際刀位軌跡；

分析步驟，通過比較所述理論刀位軌跡和所述實際刀位軌跡，得到所述理論刀位軌跡和所述實際刀位軌跡之間的誤差，獲得所述數控機床的動態誤差。

2.根據權利要求1所述的動態誤差檢驗方法，其特征在于，

在對所述“S”件的外輪廓進行掃描測量時，當出現所述“S”件的直紋加工面上未掃描到的部位時，則用所述探針對該部位進行局部掃描測量，或者用所述探針觸碰該部位進行一次檢驗測量。

3.根據權利要求2所述的動態誤差檢驗方法，其特征在于，在對所述“S”件的外輪廓進行掃描測量時，當發現掃描測量過的部位已經不滿足數控機床的動態精度的要求時，則終止對其它未掃描部位的進一步檢驗測量。

4.根據權利要求1～3任意一項所述的動態誤差檢驗方法，其特征在于，所述實際刀位軌跡通過將所述理論刀位軌跡加上所述探針的偏移量數據而獲得。

5.根據權利要求1～3任意一項所述的動態誤差檢驗方法，其特征在于，所述第一數據為在數控機床坐標系下的與所述數控機床的刀位點的實際位置相關的數據；所述第二數據為在測頭坐標系下的與所述探針的偏移量相關的數據。

6.一種數控機床的動態誤差檢驗裝置，其用于執行權利要求1～5任意一項所述的動態誤差檢驗方法，其特征在于，包括：

顯示器；

處理器，其用于進行以下處理：

從數控機床獲取與該數控機床的刀位點的實際位置相關的上述第一數據以及與所述探針的偏移量相關的上述第二數據；

對所述第一數據和所述第二數據進行處理，將所述第一數據和所述第二數據還原成工件坐標系下的理論刀位軌跡，并基于所述理論刀位軌跡和所述第二數據獲得實際刀位軌跡；

通過比較所述理論刀位軌跡和所述實際刀位軌跡，得到所述理論刀位軌跡和所述實際刀位軌跡之間的誤差，獲得所述數控機床的動態誤差。

7.一種計算機存儲介質，其特征在于，其用于存儲使至少一個處理器執行如權利要求1～5任意一項所述的動態誤差檢驗方法的程序。