[發明專利]灰階補償電路以及灰階補償方法有效
| 申請號: | 201710396707.2 | 申請日: | 2017-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN107039001B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發明(設計)人: | 黑亞君;周井雄 | 申請(專利權)人: | 武漢天馬微電子有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3258 | 分類號: | G09G3/3258 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 補償 電路 以及 方法 | ||
本申請公開了一種有機發光顯示面板的灰階補償電路以及應用于灰階補償電路的灰階補償方法,灰階補償電路包括:信號采集單元,用于將采集到的各有機發光二極管陣列中的有機發光二極管的發光電流信號轉換為數據電壓信號;電壓補償單元,基于信號采集單元傳輸的數據電壓信號,生成差值電壓,將差值電壓作為補償電壓提供至灰階生成單元;灰階生成單元,基于補償電壓,生成與各有機發光二極管的灰階值對應的電壓值,并提供至有機發光顯示面板的像素電路。灰階補償電路通過設置信號采集單元、電壓補償單元以及灰階生成單元,可以更加準確的對有機發光二極管的顯示灰階進行補償,提高顯示灰階的補償精度,從而提高顯示面板的顯示效果。
技術領域
本發明一般涉及顯示技術領域,尤其涉及一種有機發光顯示面板的灰階補償電路以及應用于灰階補償電路的灰階補償方法。
背景技術
隨著顯示技術的發展,人們對顯示面板的要求也逐漸提高。為了提高有機發光顯示面板的顯示灰階的準確性,通常需要在顯示面上設置檢測裝置對每一幀畫面的顯示灰階進行校驗。現有的對顯示灰階的校驗技術通常利用灰階校驗設備對顯示畫面的平均灰階亮度值以及顏色坐標進行校驗。
然而,現有的檢測設備在灰階亮度較低的情況下,由于受到檢測設備自身的影響,導致實際測量的顯示灰階值存在一定誤差。此外,現有的灰階檢測通常需要接入外部的CCD(Charge-coupled Device,電荷耦合元件)傳感器檢測,灰階值的準確性通常還需要取決于CCD傳感器的檢測精度。這樣一來,降低了對顯示灰階校驗的準確性,從而影響顯示面板的顯示效果。
發明內容
鑒于現有技術中的上述缺陷或不足,期望提供一種有機發光顯示面板的灰階補償電路以及應用于灰階補償電路的灰階補償方法,以期解決現有技術中存在的技術問題。
第一方面,本申請實施例提供了一種有機發光顯示面板的灰階補償電路,有機發光顯示面板包括有機發光二極管陣列,有機發光二極管陣列劃分為多個子陣列,其特征在于,灰階補償電路包括:信號采集單元,信號采集單元包括多個輸入端,各輸入端用于采集有機發光二極管陣列中的其中一個子陣列中有機發光二極管的發光電流信號,并將發光電流信號轉換為與之一一對應的數據電壓信號,其中,任意一個子陣列中的各有機發光二極管的顯示灰階相同;電壓補償單元,電壓補償單元與信號采集單元電連接,用于基于信號采集單元傳輸的數據電壓信號,將各數據電壓信號與預先存儲的灰階-電壓數據表中相同灰階下的目標電壓值進行比較,將比較后的差值電壓作為補償電壓提供至灰階生成單元;灰階生成單元,灰階生成單元的輸入端與電壓補償單元電連接,灰階生成單元的輸出端連接至有機發光顯示面板的像素電路,灰階生成單元用于基于補償電壓,生成與各有機發光二極管的灰階值對應的電壓值,并提供至有機發光顯示面板的像素電路。
第二方面,本申請實施例提供了一種應用于灰階補償電路的灰階補償方法,灰階補償電路應用于有機發光顯示面板,有機發光顯示面板包括有機發光二極管陣列,有機發光二極管陣列劃分為多個子陣列,其特征在于,方法包括:響應于有機發光顯示面板進入灰階補償模式,執行灰階補償步驟:獲取有機發光二極管陣列中的各子陣列中的有機發光二極管的電流信號;將各有機發光二極管的電流信號分別轉換為數據電壓信號;將數據電壓信號與預先存儲的灰階-電壓數據表中在相同灰階下的目標電壓值進行比較,確定各數據電壓信號與目標電壓值之間的電壓差值;將各電壓差值與預設的電壓差閾值范圍進行比較,檢測電壓差值是否超過電壓差閾值范圍;響應于電壓差值沒有超過電壓差閾值范圍,將各電壓差值作為反饋電壓經過灰階生成單元處理后,生成與各有機發光二極管的灰階值對應的電壓,并提供至有機發光顯示面板的像素電路;響應于電壓差值超過電壓差閾值范圍,將各電壓差值作為反饋電壓經過灰階生成單元處理后,生成與各有機發光二極管的灰階值對應的電壓,并提供至有機發光顯示面板的像素電路之后,繼續執行灰階補償的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于武漢天馬微電子有限公司,未經武漢天馬微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710396707.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:金屬件表面的不導電層破損點測試方法
- 下一篇:酶電極





