[發明專利]一種基于無監督分割和ELM的織物缺陷檢測和分類方法有效
| 申請號: | 201710381898.5 | 申請日: | 2017-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN107341499B | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發明(設計)人: | 劉驪;張建紅;付曉東;黃青松;劉利軍 | 申請(專利權)人: | 昆明理工大學 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06K9/34;G06K9/46 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 650093 云*** | 國省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 監督 分割 elm 織物 缺陷 檢測 分類 方法 | ||
1.一種基于無監督分割和ELM的織物缺陷檢測和分類方法,其特征在于:首先輸入織物缺陷圖像,實現織物缺陷圖像分割,得到分割后的織物缺陷圖像;其次提取分割后的織物缺陷圖像的形狀特征、以及織物缺陷圖像的紋理特征,實現織物缺陷圖像的特征提取;然后將待分類織物缺陷圖像的特征集和標簽作為訓練集,訓練ELM分類器,得到ELM分類器參數;最后通過訓練后的分類器,根據貝葉斯概率融合,實現織物缺陷圖像分類,輸出織物缺陷圖像分類結果;
具體步驟如下:
Step1、輸入織物缺陷圖像G’,通過抽取圖像G’補丁{xi}建立數據矩陣X=[x1,x2,…,xi,…,xn],xi∈Rw,w表示圖像G’補丁xi的維度,n表示圖像G’補丁xi的總數,即X包含維度是w的n個列向量;基于歐幾里得距離E(i)=||xi-x||2,其中x是{xi}的均值,消除數據矩陣X的離群值得到訓練數據,Xc=[x1,x2,…,xi,…,xc],1≤i≤c<n,xi∈Rw,w表示圖像G’補丁xi的維度,其中c表示訓練數據Xc中圖像G’補丁xi總數,即Xc包含維度是w的c個列向量;尋找一個字典D,以最小平方誤差代表訓練數據Xc中每一個點,由非凸函數公式ai是維數為k的每個xi的系數向量,通過假設變量D或a已知,使非凸函數變成一個凸函數,根據迭代優化公式產生了一個學習后字典D=[d1,d2,...,di,...,dk],di∈Rw,i≤k<n,其中k表示學習后字典D中元素總數,表示迭代求解次數,A=[a1,a2,...,ai,...,an];然后,計算原始補丁xψ和基于學習后字典D近似補丁的像素差來構建異常圖,γ是用戶自定義的用來控制分割靈敏性的參數,是用來減少遠離中心像素ψ的那些像素的影響的權重項,由二維對稱高斯函數計算出,其中標準偏差σ'決定曲線形狀,σ'=2,以保證異常圖中發現更多缺陷區域,用來控制補丁像素ψ’上的加權分布;最后,使用2D最大熵及形態學操作分割異常圖中缺陷區域,得到分割后織物缺陷圖像G”;
Step2、采用Hu不變矩提取分割后的織物缺陷圖像G”形狀特征;采用基于最優小波包技術的小波包分解織物缺陷圖像G’,得到織物缺陷圖像G’的最優分解的小波包系數,計算香農熵提取織物缺陷圖像G’的紋理特征;
Step3、將待分類織物缺陷圖像集G={G1,G2,...Gz}通過Step1、Step2的方法處理后得到形狀、紋理特征集以及織物缺陷所屬標簽,輸入兩個ELM-OAA分類器進行分類訓練;
Step4、基于提取的織物缺陷圖像G’的紋理特征以及分割后的織物缺陷圖像G”的形狀特征集,采用訓練后的ELM-OAA分類器和貝葉斯概率融合,實現織物缺陷圖像G’的分類,輸出織物缺陷圖像G’分類結果。
2.根據權利要求1所述的基于無監督分割和ELM的織物缺陷檢測和分類方法,其特征在于:所述Step3和Step4中為標記一個無標簽織物缺陷圖像G’,從織物缺陷圖像G’的紋理特征以及分割后的織物缺陷圖像G”的形狀特征Kt,Kt=2選擇一個單一特征分別輸入到每一個訓練的ELM-OAA分類器,并利用貝葉斯概率融合標記織物缺陷類別,最終實現織物缺陷圖像G’分類。
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