[發(fā)明專(zhuān)利]一種掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710370403.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107045074B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張敬涵;孫文博 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01Q60/16 | 分類(lèi)號(hào): | G01Q60/16 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立;姜海榮 |
| 地址: | 10008*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 掃描 隧道 顯微鏡 針尖 制備 裝置 及其 方法 | ||
1.一種掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置,其特征在于:包括探針?biāo)?、溶液?12)、溶液塔和可測(cè)定行進(jìn)距離的驅(qū)動(dòng)部件,所述驅(qū)動(dòng)部件與所述探針?biāo)B接,所述溶液槽(12)設(shè)置在所述探針?biāo)路?,待腐蝕銀絲一端固定設(shè)置在所述探針?biāo)?,所述待腐蝕銀絲另一端可解除插設(shè)在所述溶液塔內(nèi),所述探針?biāo)?nèi)部設(shè)置有定值電阻,所述定值電阻與待腐蝕銀絲連接,所述定值電阻并聯(lián)設(shè)置有微控板;
所述探針?biāo)ń獬齻鲃?dòng)部件、壓電陶瓷(6)和針尖連接部件,所述解除傳動(dòng)部件通過(guò)轉(zhuǎn)子與所述驅(qū)動(dòng)部件連接,所述針尖連接部件通過(guò)所述壓電陶瓷(6)與所述解除傳動(dòng)部件連接;
所述解除傳動(dòng)部件包括軸承(5)和連接件(4),所述軸承(5)套設(shè)在所述轉(zhuǎn)子外側(cè),所述軸承(5)內(nèi)側(cè)與所述轉(zhuǎn)子固定連接,所述連接件(4)套設(shè)在所述軸承(5)外側(cè),所述連接件(4)內(nèi)側(cè)與所述軸承(5)外側(cè)固定卡接,所述壓電陶瓷(6)與所述連接件(4)固定連接;
所述溶液塔包括基座(9)、蠕動(dòng)泵(10)、導(dǎo)管和環(huán)形鉑銥環(huán)(11),所述溶液塔卡設(shè)在所述基座(9)上,所述環(huán)形鉑銥環(huán)(11)設(shè)置在所述基座(9)的上部,所述蠕動(dòng)泵(10)外側(cè)設(shè)置有導(dǎo)管通道,所述導(dǎo)管設(shè)置在所述導(dǎo)管通道內(nèi),所述導(dǎo)管一端與所述溶液槽(12)連通,所述導(dǎo)管另一端設(shè)置在所述環(huán)形鉑銥環(huán)(11)位置處。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置,其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)部件包括絲桿步進(jìn)電機(jī)(1)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)和旋轉(zhuǎn)安裝座(3),所述絲桿步進(jìn)電機(jī)(1)固定設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)上,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)下部可旋轉(zhuǎn)插設(shè)在所述旋轉(zhuǎn)安裝座(3)上,所述旋轉(zhuǎn)安裝座(3)上設(shè)置有電機(jī)啟動(dòng)開(kāi)關(guān),所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(2)側(cè)面與所述電機(jī)啟動(dòng)開(kāi)關(guān)可解除式相抵,所述絲桿步進(jìn)電機(jī)(1)上設(shè)置有螺旋測(cè)微器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置,其特征在于:所述針尖連接部件包括夾持部件(8)和夾持部件固定件(7),所述夾持部件固定件(7)一側(cè)與所述壓電陶瓷(6)固定連接,所述夾持部件固定件(7)另一側(cè)與所述夾持部件(8)可拆卸連接,所述待腐蝕銀絲夾設(shè)在所述夾持部件(8)內(nèi)側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置,其特征在于:還包括底座(13),所述溶液槽(12)設(shè)置在所述底座(13)中部上方,所述驅(qū)動(dòng)部件和所述溶液塔設(shè)置在所述溶液槽(12)兩側(cè)。
5.一種利用權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的掃描隧道顯微鏡針尖制備裝置制備針尖的方法,其特征在于:包括如下步驟:
S1:將待腐蝕銀絲插入探針?biāo)欢耍?/p>
S2:驅(qū)動(dòng)部件驅(qū)動(dòng)探針?biāo)蛉芤核苿?dòng);
S3:微控板檢測(cè)定值電阻的電壓是否等于0,電壓等于0,重復(fù)步驟2;
S4:驅(qū)動(dòng)部件停止行進(jìn),探針?biāo)鐾鶑?fù)伸縮,待腐蝕銀絲進(jìn)行腐蝕;
S5:微控板檢測(cè)定值電阻的電壓是否小于等于最小電壓值,電壓大于最小電壓值,重復(fù)步驟4;
S6:溶液塔和探針?biāo)V构ぷ鳎?qū)動(dòng)部件退回至原位置,腐蝕結(jié)束。
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G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備;掃描探針技術(shù)的應(yīng)用,例如,掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q60-00 特殊類(lèi)型的SPM [掃描探針顯微術(shù)]或其設(shè)備;其基本組成
G01Q60-02 .多個(gè)類(lèi)型SPM,即包括兩種或更多種SPM技術(shù)
G01Q60-10 .STM [掃描隧道顯微術(shù)]或其設(shè)備,例如STM探針
G01Q60-18 .SNOM [掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備,例如,SNOM探針
G01Q60-24 .AFM [原子力顯微術(shù)]或其設(shè)備,例如AFM探針
G01Q60-44 .SICM [掃描離子電導(dǎo)顯微術(shù)]或其設(shè)備,例如SICM探針





