[發(fā)明專利]基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜IGZO薄膜晶體管及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710355891.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107123671B | 公開(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張磊;周斌;張珊珊;劉騰飛;袁毅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L29/10 | 分類號(hào): | H01L29/10;H01L29/24;H01L29/51;H01L29/786;H01L21/34;H01L21/02;H01L21/445 |
| 代理公司: | 成都弘毅天承知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51230 | 代理人: | 李春芳 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 有機(jī) 絕緣 梯度 摻雜 igzo 薄膜晶體管 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供一種基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜IGZO薄膜晶體管,涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,包括從下至上依次排列的襯底、柵電極、有機(jī)絕緣層、梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層,梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層上并列設(shè)有源電極和漏電極,其中,梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層包括濃度依次增大的最下層IGZO薄膜、最上層IGZO薄膜、中間層IGZO薄膜。本發(fā)明解決了IGZO半導(dǎo)體和有機(jī)絕緣層的晶格不匹配,從而導(dǎo)致后續(xù)直流磁控濺射IGZO薄膜對(duì)有機(jī)絕緣層的破壞,漏電流比較大的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜IGZO薄膜晶體管及其制備方法。
背景技術(shù)
平板顯示器(FPD)逐漸替代陰極射線顯示器(CRT),并已經(jīng)在顯示行業(yè)中占主導(dǎo)地位。而薄膜晶體管作為平板顯示器的驅(qū)動(dòng)電路的開關(guān)原件,它的性能直接決定著顯示器質(zhì)量的優(yōu)劣。在普通的有源驅(qū)動(dòng)液晶顯示器中,一般采用氫化非晶硅薄膜晶體管,但是由于其具有不透明、受可見光影響較大及載流子遷移率低等缺點(diǎn),限制了其進(jìn)一步發(fā)展。最近幾年由于有機(jī)發(fā)光二極管(AMOLED)顯示技術(shù)發(fā)展要求,傳統(tǒng)的氫化非晶硅已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不到有源驅(qū)動(dòng)的要求。
新材料IGZO的問世很好得解決了傳統(tǒng)氫化非晶硅的缺點(diǎn)。但由于IGZO屬于無機(jī)半導(dǎo)體材料,實(shí)踐表明,這種IGZO半導(dǎo)體沉積在無機(jī)絕緣層(比如SiO2,Si3N4等)能獲得非常好的器件性能。由于這類無機(jī)絕緣層不透明、沉積成本比較高、柔韌性差的特點(diǎn),因此它們?cè)谌嵝燥@示和透明穿戴設(shè)備領(lǐng)域的發(fā)展欠佳。而利用透明的有機(jī)絕緣層則能很好的解決這一問題,不僅可以得到柔性透明器件,而且通過旋涂有機(jī)絕緣層的方法大大降低了制作成本。但是由于IGZO半導(dǎo)體和有機(jī)絕緣層的晶格不匹配,絕緣層和半導(dǎo)體層表面出現(xiàn)很多缺陷,后續(xù)直流磁控濺射IGZO薄膜對(duì)有機(jī)絕緣層的破壞,從而導(dǎo)致漏電流比較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于:為解決IGZO半導(dǎo)體和有機(jī)絕緣層的晶格不匹配,從而導(dǎo)致后續(xù)直流磁控濺射IGZO薄膜對(duì)有機(jī)絕緣層的破壞,漏電流比較大的問題,本發(fā)明提供了一種基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜活性層IGZO的薄膜晶體管的制備方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜IGZO薄膜晶體管,包括從下至上依次排列的襯底、柵電極、有機(jī)絕緣層、梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層,梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層上并列設(shè)有源電極和漏電極,其中,梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層包括濃度依次增大的最下層IGZO薄膜、最上層IGZO薄膜、中間層IGZO薄膜。
進(jìn)一步地,所述梯度摻雜IGZO半導(dǎo)體層的最下層IGZO薄膜的氧分壓(O2流量/Ar流量)為5%-8%,厚度為1~3nm;中間層IGZO薄膜的氧分壓為0%-2%,厚度在2~4nm;最上層IGZO薄膜的氧分壓為2%-3%,厚度為30~60nm。
優(yōu)選地,所述襯底的材料為聚酰亞胺、聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯或玻璃基板中的一種。
優(yōu)選地,所述柵電極為氧化銦錫,柵電極的厚度為150~250nm。
優(yōu)選地,所述有機(jī)絕緣層的材料為聚甲基丙烯酸甲酯、聚乙烯醇、聚碳酸酯、聚苯乙烯中的一種,厚度為100~360nm。
優(yōu)選地,所述源電極和所述漏電極的材料均為氧化銦錫、氧化鋅、銦鎵鋅氧化物、石墨烯、金屬單質(zhì)銀、鋁、金中的一種,源電極和所述漏電極的厚度均為100~200nm。
另一方面,本發(fā)明提供一種基于有機(jī)絕緣層的梯度摻雜IGZO薄膜晶體管的制備方法,包括如下步驟:
S1:制備清洗襯底;先用丙酮擦拭襯底表面大的顆粒,然后用弱堿水、丙酮、去離子水、乙醇或異丙醇分別對(duì)玻璃襯底進(jìn)行超聲清洗,最后用氮?dú)?純度>99.99%)將襯底吹干;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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