[發明專利]一種EMC準峰值測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201710338037.9
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN107015068B
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 李紅彬
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州視睿電子科技有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明實施例公開了一種EMC準峰值測試方法及裝置，該方法包括：掃描獲取天線在預設高度以及轉臺在預設角度時輻射信號的全頻率段中各頻率點對應的初始峰值；根據所述初始峰值在所述各頻率點中確認目標頻率點；保持所述目標頻率點的初始峰值，確認所述初始峰值對應的目標高度和目標角度；結合所述目標高度和所述目標角度獲取精確頻率點以及所述精確頻率點對應的準峰值。通過采用上述技術方案，可有效解決在天線的固定位置讀取準峰值時所造成的誤差，有效提高準峰值測試的準確性。

技術領域

本發明實施例涉及檢測技術領域，特別是涉及一種EMC準峰值測試方法及裝置。

背景技術

隨著電子產品的工作頻率以及數據傳輸速率的不斷提高，EMC(Electro MagneticCompatibility，電磁兼容)問題越來越突出。EMC標準成為國內外多數電子產品的強制性標準，并且幾乎所有的電子產品在銷售前都需要取得EMC認證。

目前利用半電波暗室測試EMC的方法是以峰值檢波的方式為主，而判斷頻率點是否合格則是通過準峰值檢波的方式進行。目前準峰值測試的程序如下：天線位于1米高度的時候，轉臺旋轉360度，然后升高天線到2米，轉臺再回轉360度，以此類推，當天線分別升到3米和4米時，連續測試各頻率點的峰值，并獲取最大峰值作為準峰值。

然而，由于不同測試樣品自身形狀、體積、電子電路或結構的不同，輻射發射情況也不同。圖1為現有技術提供的電磁波發射空間示意圖。如圖1所示，電磁波空間發射就像3D增益空間一樣為非規則形狀的分布。如果單純地讀取天線在固定高度時的準峰值，則可能將最大的準峰值忽略掉。例如，如果在天線位于非整數高度(例如天線位于2.2米的高度)出現最大準峰值時，那么利用現有技術的測試方式將造成測試結果不準確。而若是針對每個不同高度都進行一次測試，又會使得工作量加大，費時費力。因此，現有技術對準峰值的測試可靠性較差。

發明內容

本發明實施例提供了一種EMC準峰值測試方法及裝置，以解決現有技術EMC準峰值測試可靠性差的問題。

第一方面，本發明實施例提供了一種EMC準峰值測試方法，包括：

掃描獲取天線在預設高度以及轉臺在預設角度時輻射信號的全頻率段中各頻率點對應的初始峰值；

根據所述初始峰值在所述各頻率點中確認目標頻率點；

保持所述目標頻率點的初始峰值，掃描確認所述初始峰值對應的目標高度和目標角度；

結合所述目標高度和所述目標角度獲取精確頻率點以及所述精確頻率點對應的準峰值。

第二方面，本發明實施例還提供了一種EMC準峰值測試裝置，包括：

初始峰值掃描模塊，用于掃描獲取天線在預設高度以及轉臺在預設角度時輻射信號的全頻率段中各頻率點對應的初始峰值；

目標頻率點確認模塊，用于根據所述初始峰值在所述各頻率點中確認目標頻率點；

目標高度和角度確認模塊，用于保持所述目標頻率點的初始峰值，掃描確認所述初始峰值對應的目標高度和目標角度；

準峰值獲取模塊，用于結合所述目標高度和所述目標角度獲取精確頻率點以及所述精確頻率點對應的準峰值。

本發明通過提供一種EMC準峰值測試方案，通過掃描獲取天線在預設高度以及轉臺在預設角度時輻射信號的全頻率段中各頻率點對應的初始峰值后，根據初始峰值在各頻率點中確認目標頻率點，為準峰值的測試提供依據。在確定目標頻率點后，保持目標頻率點對應的初始峰值，通過掃描確認出現該初始峰值時，天線所在的目標高度以及轉臺所在的目標角度，并將目標高度以及目標角度相結合可獲取到精確頻率點，針對精確頻率點獲取該點對應的準峰值。解決了現有技術中在天線只位于整數高度位置下進行EMC測試所造成的誤差，使得EMC準峰值的測試結果更準確，提升準峰值測試的可靠性。