[發明專利]激光陣列掃描成像系統

有效

• 申請號: 201710328051.0
• 申請日: 2017-05-11
• 公開（公告）號: CN107219618B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 劉偉偉;蘇強;林列;孫陸
• 申請（專利權）人: 南開大學
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G02B21/24
• 代理公司: 天津耀達律師事務所 12223
• 代理人: 張耀

1.一種激光陣列掃描成像系統，顯微成像裝置以及信號接收裝置，其特征在于：還包括激光陣列產生裝置，所述激光陣列產生裝置包括接收準直后激光的相位板以及與所述相位板配合聚焦形成激光陣列的第一聚焦透鏡；

所述相位板上設置有若干厚區以及若干薄區，且所述厚區所述薄區相間設置，激光束透射所述厚區與透射所述薄區之間的相位差為π；

所述激光陣列產生裝置還包括準直鏡，且激光束經所述準直鏡透射至所述相位板上；

所述顯微成像裝置包括聚焦激光陣列至樣品上的透鏡組件以及反射攜帶樣品信息的激光陣列二向色鏡，所述信號接收裝置包括接收所述二向色鏡反射后激光陣列的第二聚焦透鏡以及收集所述第二聚焦透鏡透射光信號的探測器，所述探測器位于所述第二聚焦透鏡的焦平面處；

所述透鏡組件包括接收所述第一聚焦透鏡形成的激光陣列的第三聚焦透鏡以及接收所述第三聚焦透鏡透射光信號且聚焦激光陣列至樣品上的第四聚焦透鏡，所述二向色鏡位于所述第三聚焦透鏡至所述第四聚焦透鏡之間的光路上，且所述第三聚焦透鏡與所述第四聚焦透鏡之間的光軸與所述二向色鏡之間具有傾斜角；

所述傾斜角為45度，所述第二聚焦透鏡垂直于所述第三聚焦透鏡；

準直后的激光束先透射相位板形成具有相位差的激光束，該激光束透射第一聚焦透鏡后在第一聚焦透鏡的焦平面處形成激光陣列，激光陣列進入透鏡組件后，使得激光陣列聚焦于樣品上。

2.如權利要求1所述的激光陣列掃描成像系統，其特征在于：還包括數據處理裝置，用于將所述探測器采集到的光信號恢復出所述樣品的圖像。

3.如權利要求1所述的激光陣列掃描成像系統，其特征在于：所述探測器為CCD或者COMS。

4.如權利要求1所述的激光陣列掃描成像系統，其特征在于：應用在掃描近場顯微鏡、受激輻射光淬滅顯微鏡、光激活定位顯微鏡、隨機光學定位重構顯微鏡、結構照明顯微鏡、雙光子顯微鏡、單光子熒光顯微鏡、多光子顯微鏡、光學相干顯微鏡、共聚焦顯微鏡和拉曼顯微鏡上。