[發(fā)明專利]一種觸控顯示面板、其測試方法及顯示裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710322072.1
• 申請日: 2017-05-09
• 公開（公告）號: CN106933426B
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王立森;馬俊才;徐朝哲;黃式強;王盛
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;G01R31/02
• 代理公司: 11291 北京同達信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 郭潤湘<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種觸控顯示面板的測試方法，其特征在于，所述觸控顯示面板，包括：襯底基板，位于所述襯底基板的觸控區(qū)域的多個呈陣列排布的觸控電極，位于所述襯底基板的非觸控區(qū)域的至少四條測試信號線，以及連接所述觸控電極與對應(yīng)的所述測試信號線的多條觸控走線；其中，所述觸控電極與周圍的各所述觸控電極對應(yīng)不同的所述測試信號線；所述周圍的各所述觸控電極為所述觸控電極沿行方向、列方向以及對角線方向上相鄰的各所述觸控電極；

所述測試方法，包括：

檢測任意兩條測試信號線之間的電阻；

判斷檢測到的電阻是否小于預(yù)設(shè)閾值；若是，則與電阻小于預(yù)設(shè)閾值的兩條所述測試信號線相連的兩個觸控電極之間或兩條觸控走線之間存在短路。

2.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述檢測任意兩條測試信號線之間的電阻之前或之后，還包括：

向各所述測試信號線輸入相同的測試信號；

檢測各所述觸控電極所在位置的顯示亮度是否存在顯示異常；若是，則確定顯示異常所在位置對應(yīng)的所述觸控走線存在斷路。

3.如權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述觸控顯示面板還包括位于所述非觸控區(qū)域的多個開關(guān)晶體管，且各所述觸控走線分別通過所述開關(guān)晶體管連接至對應(yīng)的所述測試信號線；

在所述檢測任意兩條測試信號線之間的電阻，以及所述向各所述測試信號線輸入相同的測試信號之前，還包括：

開啟各所述開關(guān)晶體管，以使各所述觸控走線與對應(yīng)的測試信號線導(dǎo)通。

4.如權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述觸控顯示面板還包括：位于所述非觸控區(qū)域的與各所述開關(guān)晶體管的柵極相連的開關(guān)信號線；

所述開啟各所述開關(guān)晶體管，具體包括：

向所述開關(guān)信號線輸入開啟信號。

5.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試信號線為四條；

在行方向、列方向以及對角線方向上，與所述觸控電極相鄰的兩個所述觸控電極對應(yīng)相同的所述測試信號線。

6.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括：位于所述非觸控區(qū)域的分別與各所述測試信號線連接的多個金屬測試墊；

所述金屬測試墊，用于在測試時間段與電阻檢測裝置的輸入端相連，以及向?qū)?yīng)的所述測試信號線輸入測試信號。

7.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括：位于所述非觸控區(qū)域的多個開關(guān)晶體管；

各所述觸控走線分別通過所述開關(guān)晶體管連接至對應(yīng)的所述測試信號線。

8.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，還包括：位于所述非觸控區(qū)域的與各所述開關(guān)晶體管的柵極相連的開關(guān)信號線。

9.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，還包括：位于所述非觸控區(qū)域的分別與各所述觸控走線連接的金屬襯墊；

所述金屬襯墊位于所述開關(guān)晶體管與對應(yīng)的觸控電極之間，用于連接觸控檢測芯片。

10.如權(quán)利要求1-9任一項所述的測試方法，其特征在于，所述觸控電極和所述觸控走線位于不同的膜層；

各所述觸控電極通過通孔與對應(yīng)的所述觸控走線相連。

11.如權(quán)利要求1-9任一項所述的測試方法，其特征在于，各所述觸控電極復(fù)用為公共電極。

12.一種顯示裝置，其特征在于，所述顯示裝置由如權(quán)利要求1～11任一項所述的測試方法得到。