[發明專利]微孔板檢測抗干擾結構和微孔板檢測裝置

有效

• 申請號: 201710320688.5
• 申請日: 2017-05-09
• 公開（公告）號: CN106990047B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 劉劍
• 申請（專利權）人: 劉劍
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 山東眾成清泰律師事務所 37257
• 代理人: 丁修亭

本發明公開了一種微孔板檢測抗干擾結構和微孔板檢測裝置，微孔板檢測抗干擾結構，包括在微孔杯軸向具有工作行程的對接部件，該對接部件提供壁部和由壁部圍繞而形成的豎向的通道，該通道的上部用于納入微孔板檢測裝置的探頭下端或探頭延長管的下端，且對接部件到達工作行程的下止點時，通道的下部用于納入或部分納入微孔杯嵌入微孔板后露出板面的部分，到達工作行程的上止點時，通道與微孔杯恰好脫開或已經脫開；通道與探頭或探頭延長管間形成光密封或在對接部件的外圍設置光密封結構。依據本發明結構相對簡單且遮光效果好。

技術領域

本發明涉及一種微孔板被檢測對象光信號檢測時用于避免外部光線干擾的抗干擾結構，以及配置該抗干擾結構的微孔板檢測裝置。

背景技術

微孔板檢測的對象是微孔內（一般在微孔內嵌入微孔杯，微孔杯內容置樣本）所容置樣本產生、反射或標記的光信號，該光信號極為微弱，應當避免外部光線對微孔檢測的干擾。微孔在微孔板上的分布大致是一個行列矩陣，一般定義該行列矩陣的維度為X、Y兩個方向的維度，來表示行列矩陣行與列的方向。同時定義垂直于行列矩陣平面的維度為Z向。

微孔板上微孔的檢測通常是逐個、逐行或者逐列的方式進行檢測，以逐個方式為主，例如中國專利文獻CN201184885Y即公開了一種對微孔進行逐個檢測的檢測儀。但無論是對單個微孔的檢測還是整行或整列微孔的檢測，都需要屏蔽外部光線對待測對象的影響。目前光學測量儀器測量X、Y兩個方向運動的多孔板上單個孔時，由于檢測對象是極弱的光信號，如果待檢測孔以外的光進入將會嚴重影響檢測結果的準確性。

待測孔以外的光源包括環境光和其它非待測孔發出的光，一般而言，通過一定的在Z向上的行程控制，實現光學測量儀器相對微孔板移動時不產生干涉，而在檢測時屏蔽待測孔以外光源光線的要求。在一些實現中，Z向光學測量儀器相對固定，微孔板具有所述行程，微孔板在Z向的行程由凸輪機構提供。由于微孔板整體上是板件，凸輪實質上更適合桿件的驅動，當驅動對象是板件時，往往需要兩個凸輪軸，凸輪軸上設置至少兩個凸輪，同步控制兩凸輪軸，以實現板件在其法向的直線運動，結構相對非常復雜。

在一些實現中，在給定的Z向行程內，檢測孔部分的探入到微孔板的待測孔內，依靠孔壁間的接合，以消除外部光線的干擾。盡管孔壁間的接合可以滿足雜散光屏蔽的要求，然而，可以理解的是，微孔的加工精度決定了所有的微孔不可能都能達到理想的大小，同樣的Z向行程條件下，前述的孔壁間的接合未必滿足給定的技術要求，可能會存在接合過嚴而導致接合后脫開困難的問題，也可能因接合不足，而不能提供有效的光線屏蔽。此外，接合過程往往會產生孔壁間的摩擦，摩擦則會產生磨損，磨損所產生的磨屑若混入待測樣品，則會產生很大的噪聲。

中國專利文獻CN106017539A提出了一種使用遮光筒進行光線遮蔽的方法，該文獻中并沒有指出如何操作該遮光筒，并且其遮光筒是對微孔集的保護，而不是對單個微孔的保護，也欠缺逐個微孔檢測時如何控制遮光筒與微孔的位置關系的方法。

中國專利文獻CN103412117A則提出了一種具有底部封閉結構的遮光酶標板，底部封閉且不透光，以減少底部光線的干擾，但并沒有考慮上部或者相鄰格槽間的光污染問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種結構相對簡單且遮光效果好的微孔板檢測抗干擾結構，本發明還提供了一種使用該微孔板檢測抗干擾結構的微孔板檢測裝置。

依據本發明的實施例，提供一種微孔板檢測抗干擾結構，包括在微孔杯軸向具有工作行程的對接部件，該對接部件提供壁部和由壁部圍繞而形成的豎向的通道，該通道的上部用于納入微孔板檢測裝置的探頭下端或探頭延長管的下端，且對接部件到達工作行程的下止點時，通道的下部用于納入或部分納入微孔杯嵌入微孔板后露出板面的部分，到達工作行程的上止點時，通道與微孔杯恰好脫開或已經脫開；

通道與探頭或探頭延長管間形成光密封或在對接部件的外圍設置光密封結構。

上述微孔板檢測抗干擾結構，可選地，提供所述工作行程的結構具有：