[發(fā)明專利]一種用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀

在審

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• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN106990050A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發(fā)明（設計）人: 羅峰;肖淵甫;祁凌;易小宇
• 申請（專利權）人: 成都理工大學
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G02B21/00;G02B27/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及偏光顯微鏡領域，尤其涉及一種用于礦物鑒定偏光顯微鏡的偏光儀領域。

背景技術

偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質學領域的巖石礦物鑒定中有重要應用，凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的必備儀器，可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。目前大部分偏光顯微鏡的起振片和檢振片在使用時均固定角度，不能夠轉動，而是通過轉動載玻片，從而改變載玻片上的物質在偏振光下的角度，再通過計算機或者人眼進行識別，識別度較低，同時不能夠進行二次檢驗。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的問題是提供一種用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀，該偏光儀可以實現(xiàn)交偏振光鏡檢和單偏振光鏡檢的自動化操作，進行精確度量，增加鏡檢準確度。

本發(fā)明所采用的技術方案是：一種偏光顯微鏡的自動偏光儀，包括基座底板、基座支架、下偏光組件和上偏光組件，所述基座支架豎直設置在所述基座底板的一側，所述偏光顯微鏡通過固定裝置安裝在所述基座底板上，所述下偏光組件安裝在所述基座支架的中下部，所述上偏光組件安裝在所述基座支架的上部。

具體地，所述上偏光組件包括上偏光架殼體、上偏光片和上偏光驅動系統(tǒng)，所述上偏光架殼體的第一端設置在所述基座支架內，所述上偏光架殼體的第二端設置有第一透光孔，所述上偏光片通過上偏光片輪安裝在所述第一透光孔內，所述上偏光驅動系統(tǒng)設置在所述上偏光架殼體的第一端內部，且與所述上偏光片輪連接，所述上偏光架殼體上設置有上偏光架蓋板。

具體地，所述上偏光架殼體的第二端插入所述偏光顯微鏡的檢振片插口，所述上偏光驅動系統(tǒng)包括上偏光步進電機、上偏光控制器、上傳動輪、第一上同步帶和第二上同步帶，所述上偏光控制器和所述上偏光步進電機通過控制器支架和電機支架固定在所述上偏光架殼體的上側面，所述上傳動輪的轉軸與所述上偏光控制器連接，所述上傳動輪的輪體通過第一上同步帶與所述上偏光步進電機的轉矩輸出軸連接，所述上傳動輪的輪體通過第二上同步帶與所述上偏光片輪連接，所述上偏光控制器的控制信號輸出端與所述上偏光步進電機連接。

進一步，所述上偏光架殼體的第二端還設置有第二透光孔，所述第二透光孔位于所述第一透光孔的外端，所述第二透光孔內設置有減光片。

進一步，所述上偏光架殼體的第二端還設置有第二透光孔，所述第二透光孔位于所述第一透光孔的外端，所述第二透光孔內設置有減光片。

具體地，所述上偏光驅動系統(tǒng)還包括單光步進電機、光電開關、電機連接板和直線滑軌，所述直線滑軌設置在所述電機連接板的上表面，所述上偏光架殼體的下表面設置有導軌滑塊，所述導軌滑塊設置在所述直線滑軌內，所述單光步進電機與所述電機連接板的下表面固定連接，所述上偏光架殼體的底面?zhèn)冗吷显O置有齒條，所述單光步進電機的轉矩輸出軸上設置有齒輪，所述齒輪與所述齒條嚙合，所述光電開關設置在所述直線滑軌的外端，所述光電開關的信號輸出端與所述上偏光控制器的信號輸入端連接，所述單光步進電機的控制信號輸入端與所述上偏光控制器的控制信號輸出端連接。

具體地，所述下偏光組件包括下偏光架殼體、下偏光片和下偏光驅動系統(tǒng)，所述下偏光架殼體的第一端設置在所述基座支架內，所述下偏光架殼體的第二端設置有第二透光孔，所述下偏光片通過下偏光片輪安裝在所述第三透光孔內，所述下偏光驅動系統(tǒng)設置在所述上偏光架殼體的第一端內部，且與所述下偏光片輪連接，所述下偏光架殼體上設置有下偏光架蓋板。

具體地，所述下偏光驅動系統(tǒng)包括下偏光步進電機、下偏光控制器和下傳動輪，所述下偏光控制器通過固定套安裝在所述下偏光架殼體的上表面上，所述下偏光步進電機安裝在所述下偏光架的下表面上，所述下傳動輪的轉軸分別與所述下偏光步進電機的轉矩輸出軸和所述下偏光控制器連接，所述下傳動輪的轉輪通過下同步帶與所述下偏光片輪連接，所述下偏光控制器的控制信號輸出端與所述下偏光步進電機的控制信號輸入端連接。

本發(fā)明的有益效果在于：本發(fā)明用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀通過上偏光組件和下偏光組件的配合實現(xiàn)正交偏振光鏡檢和單偏振光鏡檢的自動化操作，同時能夠進行精確度量，增加鏡檢準確度。

附圖說明

圖1是本發(fā)明所述用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀的使用示意圖；

圖2是本發(fā)明所述用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀的整體剖視圖；

圖3是本發(fā)明所述上偏光組件的立體圖；