[發(fā)明專利]電阻測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710301766.7
• 申請(qǐng)日: 2017-05-02
• 公開（公告）號(hào): CN107219398B
• 公開（公告）日: 2019-12-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉銘
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東長(zhǎng)盈精密技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02;G01R1/073;G01R1/04
• 代理公司: 44224 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 鄧云鵬

1.一種電阻測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

底座；

支承部，設(shè)置于所述底座，具有用于支承產(chǎn)品的支承面；

固定機(jī)構(gòu)，包括升降組件、固定部及壓持部，所述升降組件設(shè)置于所述底座，所述固定部設(shè)置于所述升降組件的一側(cè)，且位于所述支承面上方，所述升降組件用于驅(qū)動(dòng)所述固定部沿垂直于所述支承面的方向遠(yuǎn)離或靠近所述支承面，所述壓持部設(shè)置于所述固定部朝向所述支承面的一側(cè)，用于在所述固定部靠近所述支承面移動(dòng)到達(dá)預(yù)設(shè)位置時(shí)壓緊產(chǎn)品；

測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括探針固定座、第一驅(qū)動(dòng)件及裝設(shè)于所述探針固定座的至少兩個(gè)探針，所述探針固定座活動(dòng)連接于所述固定部朝向所述支承面的一側(cè)，至少兩個(gè)所述探針相對(duì)所述支承面呈不同方向延伸，所述第一驅(qū)動(dòng)件設(shè)置于所述固定部遠(yuǎn)離所述支承面的另一側(cè)，并可驅(qū)動(dòng)與其相對(duì)應(yīng)的所述探針固定座沿預(yù)設(shè)方向移動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括至少一個(gè)測(cè)試組件，每組所述測(cè)試組件包括一個(gè)所述探針固定座、一個(gè)所述第一驅(qū)動(dòng)件及若干所述探針，若干所述探針相對(duì)所述支承面呈不同方向地裝設(shè)于所述探針固定座。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述探針固定座包括檢測(cè)位置，所述第一驅(qū)動(dòng)件驅(qū)動(dòng)所述探針固定座沿預(yù)設(shè)方向移動(dòng)終止于所述檢測(cè)位置，所述探針觸接所述產(chǎn)品上的檢測(cè)位。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述升降組件包括支座、升降部及第二驅(qū)動(dòng)件，所述支座設(shè)置于所述底座，所述固定部固接于所述升降部，所述支座設(shè)有滑軌，所述第二驅(qū)動(dòng)元件設(shè)置于所述支座，并與所述升降部連接，用于驅(qū)動(dòng)所述升降部在垂直于所述支承面的方向沿所述滑軌移動(dòng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述固定部沿所述預(yù)設(shè)方向開設(shè)有滑槽，所述探針固定座包括主體部及連接于所述主體部的滑動(dòng)部，所述主體部設(shè)有供所述探針裝設(shè)的安裝位，所述滑動(dòng)部伸入所述滑槽，并與所述第一驅(qū)動(dòng)件連接，以在所述第一驅(qū)動(dòng)件的驅(qū)動(dòng)下沿所述滑槽移動(dòng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述探針固定座還包括設(shè)置于所述固定部遠(yuǎn)離所述支承面一側(cè)的配合部，所述配合部固定連接于所述滑動(dòng)部遠(yuǎn)離所述主體部的一側(cè)，且所述配合部一端與所述第一驅(qū)動(dòng)件的輸出端配接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試組件還包括導(dǎo)向座，所述導(dǎo)向座設(shè)置于所述固定部遠(yuǎn)離所述支承面的一側(cè)，所述導(dǎo)向座具有一與所述配合塊相匹配的導(dǎo)向通道，所述配合部至少部分收容于所述導(dǎo)向通道；

其中，所述導(dǎo)向通道的導(dǎo)向方向與所述滑槽的延伸方向相互平行。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述電阻測(cè)試裝置還包括定位機(jī)構(gòu)，所述定位機(jī)構(gòu)包括若干定位塊，若干所述定位塊設(shè)置于所述支承面，圍設(shè)形成與所述產(chǎn)品形狀相配的固定位。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述支承部沿遠(yuǎn)離或靠近所述升降組件的方向可移動(dòng)地設(shè)置于所述底座。

10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電阻測(cè)試裝置，其特征在于，所述電阻測(cè)試裝置還包括控制裝置，所述控制裝置分別與所述升降組件及第一驅(qū)動(dòng)件連接，用于控制升降組件驅(qū)動(dòng)所述固定部到達(dá)垂直于所述支承面的方向的預(yù)設(shè)位置后，控制所述第一驅(qū)動(dòng)件驅(qū)動(dòng)所述探針固定座沿預(yù)設(shè)方向移動(dòng)，以使所述探針到達(dá)并觸接檢測(cè)位。