[發明專利]微納衛星磁場測量偏差修正方法及裝置

有效

• 申請號: 201710295653.0
• 申請日: 2017-04-28
• 公開（公告）號: CN107422281B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 繩濤;趙勇;白玉鑄;庹洲慧;陳小前;何亮;冉德超
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科學技術大學
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 北京奧文知識產權代理事務所(普通合伙) 11534
• 代理人: 張文;陰亮

1.一種微納衛星磁場測量偏差修正方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取磁強計在微納衛星預設工況下測量得到的第一磁場偏差B_R0；

獲取所述磁強計在所述微納衛星上每個部組件單獨工作時測量得到的第二磁場偏差B_Ri，其中，1≤i≤n，n為所述微納衛星上需要開關機部組件的總數量；單個部組件磁場測量時，首先在衛星工作最小系統模式下測量一次然后對應組件開機，測量開機狀態下磁強計的測量輸出B_m，然后關閉該組件后，再次測量衛星在最小系統狀態下的磁場其中

獲取所述磁強計在微納衛星上太陽電池陣在最大輸出電流下測量得到的第三磁場偏差B_Sj；其中，1≤j≤m，m為所述微納衛星上太陽電池陣的總數量；

在所述微納衛星在軌運行時，確定各個部組件的第一磁場修正量P_i；確定第i個部組件的工作狀態K_i，其中，當第i個部組件開機時，將K_i確定為1，當第i個部組件關機時，將K_i確定為0；利用第i個部組件在單獨工作時對應第二磁場偏差B_Ri以及第i個部組件的工作狀態K_i，確定第i個部組件的第一磁場修正量P_i，其中，P_i＝K_i*B_Ri；

在所述微納衛星在軌運行時，確定各個部組件對應的太陽電池陣的第二磁場修正量Q_j；測量各個太陽電池陣的實際輸出電流I_j；利用所述實際輸出電流I_j、最大輸出電流I_mj_ax以及第三磁場偏差B_Sj計算所述第二磁場修正量Q_j，其中，

利用所述第一磁場偏差B_R0、第二磁場偏差B_Ri、第三磁場偏差B_Sj、第一磁場修正量P_i以及第二磁場修正量Q_j，計算所述微納衛星在軌運行時的平臺磁場修正量B_R；

根據預設磁場測量模型以及所述平臺磁場修正量B_R計算所述微納衛星的環境磁場值B。

2.根據權利要求1所述的微納衛星磁場測量偏差修正方法，其特征在于，所述計算所述微納衛星在軌運行時的平臺磁場修正量B_R，包括：

利用

3.根據權利要求2所述的微納衛星磁場測量偏差修正方法，其特征在于，所述根據預設磁場測量模型以及所述平臺磁場修正量B_R計算所述微納衛星的環境磁場值B，包括：

利用B＝R^-1(B_M-B₀)-B_R，計算所述環境磁場值B，其中，R和B₀為磁強計的預設特征參數，B_M為磁強計的測量值。