[發(fā)明專利]一種單板測(cè)試裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710294817.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107064777B | 公開(公告)日: | 2019-09-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王志浩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州云海信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 張亮 |
| 地址: | 450000 河南省鄭州市*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 計(jì)數(shù)器 控制模塊 測(cè)試系統(tǒng) 繼電器 單板測(cè)試裝置 測(cè)試時(shí)間段 繼電器關(guān)閉 控制繼電器 單板測(cè)試 電源模塊 計(jì)數(shù)數(shù)據(jù) 模塊啟動(dòng) 預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng) 整機(jī)測(cè)試 整機(jī)系統(tǒng) 中斷信號(hào) 定量性 批量性 導(dǎo)出 掉電 斷開 上電 預(yù)設(shè) 存儲(chǔ) 測(cè)試 供電 保證 | ||
本發(fā)明提供一種單板測(cè)試裝置及方法,包括:計(jì)數(shù)器A,計(jì)數(shù)器B,控制模塊,待測(cè)試系統(tǒng)模塊,繼電器以及給控制模塊供電的電源模塊;在測(cè)試初始階段,控制模塊控制繼電器斷開,AC上電;開啟整機(jī)測(cè)試,當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊啟動(dòng),待測(cè)試系統(tǒng)模塊給控制模塊一個(gè)中斷信號(hào),計(jì)數(shù)器B加一,控制模塊將繼電器關(guān)閉,AC掉電,計(jì)數(shù)器A加一;當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊未啟動(dòng),控制模塊在等待預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)后,關(guān)閉繼電器,計(jì)數(shù)器B數(shù)據(jù)不變,計(jì)數(shù)器A加一;在經(jīng)過(guò)預(yù)設(shè)的測(cè)試時(shí)間段或計(jì)數(shù)器A到達(dá)指定數(shù)值后,控制模塊中導(dǎo)出計(jì)數(shù)器A和計(jì)數(shù)器B的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)了單板測(cè)試的批量性及定量性,保證存儲(chǔ)整機(jī)系統(tǒng)的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及單板測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種單板測(cè)試裝置及方法。
背景技術(shù)
單板的可靠性是整機(jī)可靠性的重要基礎(chǔ),特別是在存儲(chǔ)領(lǐng)域中,可靠性就是存儲(chǔ)系統(tǒng)的生命,所以單板的可靠性就顯得尤為重要。存儲(chǔ)控制器在剛上電開機(jī)但系統(tǒng)BBU還沒(méi)受控的時(shí)候如果發(fā)生意外掉電,容易造成整機(jī)軟件系統(tǒng)的崩潰。在傳統(tǒng)的單板疲勞測(cè)試中,AC掉電是發(fā)生在系統(tǒng)軟件關(guān)機(jī)之后才進(jìn)行,直接的AC掉電被視為異常操作,但是隨著整機(jī)系統(tǒng)可靠性的發(fā)展,必須要將直接的AC上下電作為存儲(chǔ)單板的一項(xiàng)可靠性測(cè)試,采用何種測(cè)試裝置是當(dāng)下丞待解決的技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,本發(fā)明提供一種單板測(cè)試裝置,包括:計(jì)數(shù)器A,計(jì)數(shù)器B,控制模塊,待測(cè)試系統(tǒng)模塊,繼電器以及給控制模塊供電的電源模塊;
計(jì)數(shù)器A,計(jì)數(shù)器B,待測(cè)試系統(tǒng)模塊,繼電器分別與控制模塊連接;
控制模塊用于在測(cè)試初始階段,控制模塊控制繼電器斷開,AC上電;開啟整機(jī)測(cè)試,當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊啟動(dòng),待測(cè)試系統(tǒng)模塊給控制模塊一個(gè)中斷信號(hào),計(jì)數(shù)器B加一,控制模塊將繼電器關(guān)閉,AC掉電,計(jì)數(shù)器A加一;
當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊未啟動(dòng),控制模塊在等待預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)后,關(guān)閉繼電器,計(jì)數(shù)器B數(shù)據(jù)不變,計(jì)數(shù)器A加一;
在經(jīng)過(guò)預(yù)設(shè)的測(cè)試時(shí)間段或計(jì)數(shù)器A到達(dá)指定數(shù)值后,控制模塊中導(dǎo)出計(jì)數(shù)器A和計(jì)數(shù)器B的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,待測(cè)試系統(tǒng)模塊包括:OS操作系統(tǒng)模塊,CPLD系統(tǒng)模塊,LS系統(tǒng)模塊;
CPLD系統(tǒng)模塊用于當(dāng)CPLD正常啟動(dòng)且所設(shè)定引腳邏輯狀態(tài)正確后向計(jì)數(shù)器B反饋計(jì)數(shù)加一的信號(hào);
LS系統(tǒng)模塊用于當(dāng)所設(shè)定電平信號(hào)正常且穩(wěn)定后向計(jì)數(shù)器B反饋計(jì)數(shù)加一的信號(hào);
OS操作系統(tǒng)模塊用于當(dāng)操作系統(tǒng)正常啟動(dòng)且穩(wěn)定后向計(jì)數(shù)器B反饋計(jì)數(shù)加一的信號(hào)。
優(yōu)選地,電源模塊包括:常用電源模塊,第一二極管,備用電源模塊以及第二二極管;
常用電源模塊與第一二極管陽(yáng)極連接,第一二極管陰極與控制模塊連接;
備用電源模塊與第二二極管陽(yáng)極連接,第二二極管陰極與控制模塊連接。
優(yōu)選地,備用電源模塊采用鋰二氧化錳電池CR1220。
常用電源模塊采用供電電壓為3.3V的外接電源。
優(yōu)選地,控制模塊采用STM32FI03ZET6處理器。
一種單板測(cè)試方法,測(cè)試方法包括:
在測(cè)試初始階段,控制模塊控制繼電器斷開,AC上電;
開啟整機(jī)測(cè)試,當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊啟動(dòng),待測(cè)試系統(tǒng)模塊給控制模塊一個(gè)中斷信號(hào),計(jì)數(shù)器B加一,控制模塊將繼電器關(guān)閉,AC掉電,計(jì)數(shù)器A加一;
當(dāng)待測(cè)試系統(tǒng)模塊未啟動(dòng),控制模塊在等待預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)后,關(guān)閉繼電器,計(jì)數(shù)器B數(shù)據(jù)不變,計(jì)數(shù)器A加一;
在達(dá)到預(yù)設(shè)的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)后,測(cè)試結(jié)束,控制模塊中導(dǎo)出計(jì)數(shù)器A和計(jì)數(shù)器B的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù);
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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