[發明專利]拋光補償裝置及其檢測機構在審
| 申請號: | 201710284577.3 | 申請日: | 2017-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN107053004A | 公開(公告)日: | 2017-08-18 |
| 發明(設計)人: | 劉文強;張建 | 申請(專利權)人: | 廣東天機工業智能系統有限公司 |
| 主分類號: | B24B47/25 | 分類號: | B24B47/25;B24B49/10 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224 | 代理人: | 劉雯 |
| 地址: | 523808 廣東省東莞市松*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 拋光 補償 裝置 及其 檢測 機構 | ||
技術領域
本發明涉及機械加工輔助設備的技術領域,特別是涉及一種拋光補償裝置及其檢測機構。
背景技術
在拋光過程中,拋光輪的輪面不斷被磨損,造成拋光輪的外徑不斷減小,因此一般需要設置進給補償機構,對拋光輪的進給量予以補償。但一般的進給補償機構難以準確計算拋光輪的進給補償值。
發明內容
基于此,有必要針對一般的進給補償機構難以準確計算拋光輪的進給補償值的問題,提供一種拋光補償裝置及其檢測機構。
一種檢測機構,用于檢測拋光輪的磨損量,所述檢測機構包括:
支撐件;
絲杠組件,包括傳動桿和移動件,所述傳動桿分別與所述支撐件和所述移動件轉動連接,當所述傳動桿轉動時,所述移動件能夠沿所述傳動桿的延伸方向移動以靠近所述拋光輪;及
轉輪組件,包括轉軸與轉輪,所述轉軸與所述轉輪固定連接,且所述轉軸與所述支撐件轉動連接;當所述移動件靠近所述拋光輪時,所述轉輪能夠與所述拋光輪的輪面抵接,以使所述拋光輪能夠帶動所述轉輪旋轉。
在其中一個實施例中,所述檢測機構還包括阻尼輪,所述阻尼輪分別與所述轉軸和所述支撐件連接,所述阻尼輪用于調整所述轉軸旋轉的阻力。
在其中一個實施例中,所述檢測機構還包括編碼器,所述編碼器分別與所述轉軸和所述支撐件連接,所述編碼器用于檢測所述轉輪的轉速。
在其中一個實施例中,所述檢測機構還包括防塵罩,所述防塵罩與所述支撐件固定連接,所述防塵罩罩設于所述阻尼輪和所述編碼器上。
在其中一個實施例中,所述檢測機構還包括伺服馬達,所述伺服馬達包括本體和輸出軸,所述本體與所述輸出軸轉動連接,所述本體能夠驅動所述輸出軸轉動;所述本體與所述支撐件固定連接,所述輸出軸與所述傳動桿固定連接。
在其中一個實施例中,所述檢測機構還包括限位傳感器,所述限位傳感器固定連接于所述支撐件上,所述限位傳感器與所述伺服馬達通信連接,所述限位傳感器用于限定所述移動件在所述傳動桿上的移動范圍。
在其中一個實施例中,所述轉輪包括內圈和外圈,所述內圈和所述外圈一體成型,所述內圈與所述轉軸固定連接;所述內圈和所述外圈的材質均為陶瓷。
在其中一個實施例中,所述傳動桿為絲杠軸,所述移動件包括連接板和絲杠螺母,所述連接板與所述絲杠螺母固定連接,所述絲杠軸與所述絲杠螺母轉動連接。
在其中一個實施例中,所述的檢測機構還包括保護罩,所述保護罩與所述支撐件固定連接,且所述保護罩罩設于所述傳動桿上,所述保護罩的材質為橡膠。
一種拋光補償裝置,用于拋光輪的進給補償,所述拋光補償裝置包括機架、機械手和以上所述的檢測機構,所述機械手與所述機架連接,所述支撐件固定連接于機架上,所述檢測機構與所述機械手通信連接;所述檢測機構能夠檢測所述拋光輪的磨損量,所述機械手能夠根據所述磨損量調整所述拋光輪的進給量。
上述的拋光補償裝置及其檢測機構,檢測機構的傳動桿能夠帶動移動件靠近拋光輪的輪面,以使轉輪能夠與拋光輪的輪面抵接,拋光輪即可帶動轉輪旋轉。在支撐件上可以指定參考零位,移動件在初始時刻位于參考零位處;拋光輪的初始半徑值(設為R)為已知,拋光輪的中心與參考零位間的距離(設為D)為已知,傳動桿與移動件的傳動關系(即傳動桿的旋轉角度與移動件的移動距離間的換算關系)為已知,移動件與轉輪中心之間的距離(設為d)為已知,轉輪的外徑(設為r)為已知;當轉輪穩定旋轉時,通過傳動桿的旋轉角度即可計算出移動件相對于參考零位的移動距離(設為L),則(R-(D-d-r-L))即為拋光輪的的磨損量。上述檢測機構,結構簡單、易于使用,采用簡單的機械結構即能夠精確計算出拋光輪的磨損量,從而有利于根據磨損量對拋光輪的進給進行補償,以提高拋光輪的拋光質量。
附圖說明
圖1為一實施例中檢測機構的立體圖;
圖2為圖1所示檢測機構拆除防塵罩和保護罩的立體圖;
圖3為圖1所示檢測機構的爆炸圖;
圖4為圖2所示檢測機構與拋光輪的位置關系圖。
具體實施方式
為了便于理解本發明,下面將參照相關附圖對本發明進行更全面的描述。附圖中給出了本發明的較佳的實施例。但是,本發明可以以許多不同的形式來實現,并不限于本文所描述的實施例。相反地,提供這些實施例的目的是使對本發明的公開內容的理解更加透徹全面。
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