[發(fā)明專利]一種分析致密膠體老化機(jī)理的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710284489.3
• 申請(qǐng)日: 2017-04-25
• 公開（公告）號(hào): CN107144667B
• 公開（公告）日: 2019-07-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁英杰;陳文;肖銳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 河海大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N33/00
• 分類號(hào): G01N33/00
• 代理公司: 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204
• 代理人: 徐瑩

1.一種分析致密膠體老化機(jī)理的方法，其特征在于：包括以下步驟：

(1)選定致密膠體作為研究對(duì)象，確定膠體粒子的個(gè)數(shù)N和觀測(cè)時(shí)間間隔t_w，并通過粒子追蹤試驗(yàn)方法獲取老化過程中膠體粒子的運(yùn)動(dòng)軌跡；

(2)結(jié)合步驟(1)中的運(yùn)動(dòng)軌跡，計(jì)算N個(gè)膠體粒子的平均均方位移＜r²(t)＞；

其中＜r_i²(t)＞為第i個(gè)膠體粒子的均方位移，該均方位移通過第i個(gè)膠體粒子在不同時(shí)刻t的位置計(jì)算得到；

(3)采用擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率描述致密膠體粒子的均方位移；

＜r²(t)＞～(lnt^α)^λ

其中，0＜α≤1為擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率的階數(shù)，直接刻畫致密膠體老化過程偏離對(duì)數(shù)特慢過程的程度，λ＞0描述了致密膠體老化過程的特征速率，稱為速率指數(shù)；

(4)結(jié)合步驟(2)中的均方位移＜r²(t)＞，計(jì)算步驟(3)中擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率中參數(shù)的值；

(5)驗(yàn)證步驟(3)中的擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率，并將滿足擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率的老化過程稱為擴(kuò)展對(duì)數(shù)特慢老化過程。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析致密膠體老化機(jī)理的方法，其特征在于：步驟(3)也可采用擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率的等價(jià)形式，即

＜r²(t)＞～(αlnt)^λ

其中，α為擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率的階數(shù)，λ為速率指數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的分析致密膠體老化機(jī)理的方法，其特征在于：步驟(4)采用最小二乘法確定擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率的階數(shù)α和速率指數(shù)λ。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析致密膠體老化機(jī)理的方法，其特征在于：步驟(5)變換不同的觀測(cè)時(shí)間間隔t_w，重復(fù)步驟(2)～(4)，確定該致密膠體老化過程的擴(kuò)展對(duì)數(shù)擴(kuò)散率。