[發(fā)明專(zhuān)利]存儲(chǔ)器件及其制造方法及包括該存儲(chǔ)器件的電子設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710273427.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106992182B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱慧瓏 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L27/11556 | 分類(lèi)號(hào): | H01L27/11556;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ) 器件 及其 制造 方法 包括 電子設(shè)備 | ||
1.一種存儲(chǔ)器件,包括:
在襯底上形成的從襯底向上延伸的多個(gè)柱狀有源區(qū);以及
在襯底上從下向上依次排列、彼此隔開(kāi)且分別圍繞各柱狀有源區(qū)的多層?xùn)烹姌O層,其中各柵電極層介由存儲(chǔ)柵介質(zhì)疊層面對(duì)各柱狀有源區(qū),
其中,柱狀有源區(qū)中包括與各柵電極層相對(duì)的第一摻雜區(qū)和位于各第一摻雜區(qū)相對(duì)兩側(cè)的第二摻雜區(qū),其中,第一摻雜區(qū)中的摻雜特性不同于第二摻雜區(qū)中的摻雜特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,第二摻雜區(qū)中的摻雜濃度高于第一摻雜區(qū)中的摻雜濃度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,第一摻雜區(qū)中的摻雜類(lèi)型與第二摻雜區(qū)中的摻雜類(lèi)型相同或者不同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器件,還包括:
位于各柵電極層之間的摻雜劑源層,其中,摻雜劑源層包含與第二摻雜區(qū)相同類(lèi)型的摻雜劑。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器件,其中,第二摻雜區(qū)呈環(huán)狀,其外壁是柱狀有源區(qū)的外壁。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器件,還包括:位于各柵電極層與各摻雜劑源層之間的擴(kuò)散阻擋層。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器件,其中,摻雜劑源層包括n型摻雜的磷硅玻璃或砷硅玻璃,或者p型摻雜的硼硅玻璃,其中所含的摻雜劑的濃度為0.01%-10%。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,柵電極層包括摻雜的多晶硅或金屬。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,柱狀有源區(qū)中的半導(dǎo)體材料是同質(zhì)的。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,柱狀有源區(qū)中第一摻雜區(qū)所在的部分相對(duì)于柱狀有源區(qū)中的其余部分向外突出,且柱狀有源區(qū)中第一摻雜區(qū)和第二摻雜區(qū)之外的部分具有高于第一摻雜區(qū)且低于第二摻雜區(qū)的濃度。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)器件,其中,第一摻雜區(qū)的摻雜濃度為1E16cm-3-1E18cm-3,第二摻雜區(qū)的摻雜濃度為1E18cm-3-5E21cm-3,柱狀有源區(qū)中第一摻雜區(qū)和第二摻雜區(qū)之外的部分的摻雜濃度為1E17cm-3-5E19cm-3。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,柱狀有源區(qū)是中空的,其中填充有電介質(zhì)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,存儲(chǔ)柵介質(zhì)疊層包括依次疊置的第一柵介質(zhì)層、電荷俘獲層和第二柵介質(zhì)層。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,第一摻雜區(qū)中的摻雜分布與第二摻雜區(qū)中的摻雜分布基本對(duì)準(zhǔn)。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器件,其中,在存儲(chǔ)柵介質(zhì)疊層的法線(xiàn)方向上,柱狀有源區(qū)包括位于第一摻雜區(qū)內(nèi)側(cè)且摻雜濃度比第一摻雜區(qū)中的摻雜濃度高的區(qū)域。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的存儲(chǔ)器件,其中,第一摻雜區(qū)中的摻雜濃度為1E16cm-3-3E18cm-3。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的存儲(chǔ)器件,其中,所述區(qū)域中的摻雜濃度為1E17cm-3-2E19cm-3。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專(zhuān)門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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