[發(fā)明專利]集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710266654.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107194915B | 公開(公告)日: | 2020-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曹源文;梁乃興;馬麗英;楊芬;歸少雄;劉廣平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 重慶謝成律師事務(wù)所 50224 | 代理人: | 鄔劍星 |
| 地址: | 400074 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集料 顆粒 有害 評(píng)價(jià) 方法 | ||
1.一種集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法,其特征在于:包括如下步驟:
S1.采集集料顆粒的圖像,并根據(jù)所采集的圖像獲取集料顆粒圖像邊緣信息;
S2.根據(jù)集料顆粒圖像邊緣信息獲取有害顆粒的評(píng)價(jià)參數(shù);
S3.根據(jù)有害顆粒的評(píng)價(jià)參數(shù)篩選出有害顆粒以及有害顆粒的含量,其中,有害顆粒包括針狀顆粒和片狀顆粒;
評(píng)價(jià)參數(shù)包括集料顆粒的平面形狀指數(shù)Yi、顆粒最大直徑Dimax、顆粒最小直徑Dimin、顆粒的厚度Hi以及顆粒的平均直徑Dimean,其中,集料顆粒的平面形狀指數(shù)Yi是指集料顆粒的等效橢圓的長(zhǎng)軸和短軸的比值,i表示樣本中第i個(gè)顆粒;
步驟S3中,根據(jù)如下方法評(píng)價(jià)針狀顆粒:
S3a1.求取集料顆粒i的最大直徑和最小直徑的比值Xi:
S3a2.求取所有集料顆粒的比值Xi和平面形狀指數(shù)之間的誤差σ1:
S3a3.計(jì)算誤差修正系數(shù)δ:
S3a4.計(jì)算針狀系數(shù)Zi:
當(dāng)σ1σ′1,則:Zi=Y(jié)i+δ;
當(dāng)σ1≤σ′1,則:Zi=Y(jié)i,其中,σ′1為設(shè)定誤差閾值;
S3a5.根據(jù)針狀系數(shù)Zi判斷集料顆粒是否為針狀顆粒:
若1≤Zi2,則當(dāng)前集料顆粒為理想顆粒;
若2≤Zi2.4,則當(dāng)前集料顆粒為針狀趨勢(shì)顆粒;
若Zi≥2.4,則當(dāng)前集料顆粒為針狀顆粒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法,其特征在于:步驟S3中,根據(jù)如下方法評(píng)價(jià)片狀顆粒:
S3b1.計(jì)算集料顆粒的片狀系數(shù)Pi:
S3b2.根據(jù)片狀系數(shù)Pi判斷集料顆粒是否為片狀顆粒:
若:0Pi≤0.4,當(dāng)前集料顆粒為片狀顆粒;
若:0.4Pi≤0.5,當(dāng)前集料顆粒為片狀趨勢(shì)顆粒;
若:0.5Pi≤1,當(dāng)前集料顆粒為理想顆粒。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法,其特征在于:建立針片狀顆粒的聯(lián)合判斷指標(biāo):
集料顆粒的針狀程度通過如下公式表示:
集料顆粒的片狀程度通過如下公式表示:
集料顆粒的針片狀程度則通過如下公式表示:
其中,i表示第i個(gè)集料顆粒,當(dāng)ci=0時(shí),表明該顆粒為理想的飽滿顆粒;當(dāng)ci=1時(shí),表明該顆粒為輕度針狀或輕度片狀顆粒;當(dāng)ci=2時(shí),表明該顆粒為輕度針片狀顆粒、針狀顆粒或片狀顆粒;當(dāng)ci=3時(shí),表明該顆粒為針狀加輕度片狀顆粒或片狀加輕度針狀顆粒;當(dāng)ci=4時(shí),表明該顆粒為針片狀顆粒;且當(dāng)ci≥2時(shí)集料顆粒為有害顆粒。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法,其特征在于:通過如下方法評(píng)價(jià)集料顆粒中有害顆粒的含量:
其中,α表示有害顆粒在集料顆粒中的含量,Vz表示集料顆粒的體積;Vi表示有害顆粒的體積。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述集料顆粒中有害顆粒的評(píng)價(jià)方法,其特征在于:根據(jù)如下方法獲取集料顆粒圖像邊緣信息:
S11.建立集料顆粒圖像f(x,y)在像素(x,y)的梯度向量
其中,Gx(x,y)表示圖像中顆粒邊緣點(diǎn)在x方向上的一階差分,Gy(x,y)表示圖像中顆粒邊緣點(diǎn)在y方向上的一階差分;
S12.計(jì)算梯度幅度
其中,mag{}為幅度函數(shù);
S13.將計(jì)算出的梯度幅度值與設(shè)定的閾值進(jìn)行比較,如果大于設(shè)定的閾值,則認(rèn)為像素點(diǎn)(x,y)為集料圖像的邊緣點(diǎn)。
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