[發明專利]一種單驅差動兩組圓盤的四點接觸軸承球滑/滾摩擦磨損試驗機

有效

• 申請號: 201710263111.5
• 申請日: 2017-04-21
• 公開（公告）號: CN107084897B
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發明（設計）人: 陳曉陽;奚劍飛;沈雪瑾;張濤
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G01N3/56
• 分類號: G01N3/56
• 代理公司: 31205 上海上大專利事務所(普通合伙)
• 代理人: 陸聰明<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種單驅差動兩組圓盤的四點接觸軸承球滑-滾摩擦磨損試驗機，其特征在于，包括四圓盤機構（Ⅰ），第一陪試機構（Ⅱ），第二陪試機構（Ⅲ），傳動機構（Ⅳ），連桿機構（Ⅴ），在線測量機構（Ⅵ）；所述四圓盤機構（Ⅰ）與其對應的第一陪試機構（Ⅱ），第二陪試機構（Ⅲ）分別通過花鍵連接；所述第一陪試機構（Ⅱ）和第二陪試機構（Ⅲ）分別與傳動機構（Ⅳ），一端通過齒輪連接，另一端通過皮帶輪連接；所述連桿機構（Ⅴ）分別通過連桿連接在第一陪試機構（Ⅱ）和第二陪試機構（Ⅲ）上，所述在線測量機構（Ⅵ）安裝在四圓盤機構（Ⅰ）上，測量四圓盤機構（Ⅰ）的位移量；

所述四圓盤機構（Ⅰ）包括上陪試盤（1），下陪試盤（2），前陪試盤（3），后陪試盤（4），被試軸承球（5）；所述上陪試盤（1），下陪試盤（2），前陪試盤（3），后陪試盤（4）分別從上，下，前，后四個方向夾緊被試軸承球（5），使得被試軸承球（5）有四個接觸點；

上驅動軸（10）與上滑塊（7）、下驅動軸（11）與下滑塊（8）分別通過一對軸承連接，上驅動軸（10）隨著上滑塊（7）上下滑動，下驅動軸（11）隨著下滑塊（8）上下滑動；所述四圓盤機構（Ⅰ）上的陪試盤與上驅動軸（10）通過上彈簧（12）連接，所述四圓盤機構（Ⅰ）上的陪試盤與下驅動軸（11）通過下彈簧（13）連接，彈簧壓縮時，力加載到四圓盤機構（Ⅰ）上的陪試盤上。

2.根據權利要求1所述的單驅差動兩組圓盤的四點接觸軸承球滑-滾摩擦磨損試驗機，其特征在于，所述第一陪試機構（Ⅱ）和第二陪試機構（Ⅲ）結構相同，包括固定軸（6），上滑塊（7），下滑塊（8），螺紋軸（9），上驅動軸（10），下驅動軸（11），上彈簧（12），下彈簧（13）；所述上滑塊（7）和下滑塊（8）與固定軸（6）相連接，上滑塊（7）和下滑塊（8）能夠在固定軸（6）上滑動，但不能轉動；所述螺紋軸（9）分別通過螺紋連接上滑塊（7）和下滑塊（8），轉動螺紋軸（9）使得上滑塊（7）和下滑塊（8）同時向下加載。

3.根據權利要求1所述的單驅差動兩組圓盤的四點接觸軸承球滑-滾摩擦磨損試驗機，其特征在于，所述傳動機構（Ⅳ）包括主動軸（14），從動軸（15），主動軸惰輪（16），從動軸惰輪（17），主動軸皮帶（18），從動軸皮帶（19）；所述主動軸（14）與從動軸（15）通過一對錐齒輪相連接，改變速度的方向；所述主動軸（14）一側通過主動軸惰輪（16）與第二陪試機構（Ⅲ）的上驅動軸連接，另一側通過主動軸皮帶（18）與第二陪試機構（Ⅲ）的下驅動軸連接，使得第二陪試機構（Ⅲ）的上下驅動軸速度方向相反；所述從動軸（15）一側通過從動軸惰輪（17）與第一陪試機構（Ⅱ）的上驅動軸連接，另一側通過從動軸皮帶（19）與第一陪試機構（Ⅱ）的下驅動軸連接，使得第一陪試機構（Ⅱ）的上下驅動軸速度方向相反；通過改變主動軸（14）與第二陪試機構（Ⅲ）的驅動軸的傳動比，第一陪試機構（Ⅱ）與第二陪試機構（Ⅲ）產生速度差，從而使與第一陪試機構（Ⅱ），第二陪試機構（Ⅲ）連接的四圓盤機構（Ⅰ）與被試軸承球（5）產生相對滑動。

4.根據權利要求1所述的單驅差動兩組圓盤的四點接觸軸承球滑-滾摩擦磨損試驗機，其特征在于，所述在線測量機構（Ⅵ）包括上位移傳感器（20），下位移傳感器（21），上墊圈（22），下墊圈（23）；所述上墊圈（22），下墊圈（23）分別與四圓盤機構（Ⅰ）上的陪試盤相連接，四圓盤機構（Ⅰ）上的陪試盤的位移即墊圈位移；所述上位移傳感器（20），下位移傳感器（21）安裝在被試軸承球（5）的兩側，所述上位移傳感器（20），下位移傳感器（21）分別測量上墊圈（22），下墊圈（23）的位移量，即測得四圓盤機構（Ⅰ）的陪試盤的位移量，測得被試軸承球（5）兩側的位移，得到被試軸承球（5）實時的磨損量，實現磨損量在線測量。