[發明專利]樣品分析系統

在審

• 申請號: 201710259756.1
• 申請日: 2017-04-19
• 公開（公告）號: CN107367621A
• 公開（公告）日: 2017-11-21
• 發明（設計）人: 村上幸雄
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司31300
• 代理人: 肖華

技術領域

本發明涉及用于通過比較目標樣品的測定數據與參照物的測定數據識別目標樣品的樣品分析系統，其中目標樣品的測定數據使用多種分析裝置獲取，該多種分析裝置包括從都適合于無機物的分析的熒光X射線分析儀，原子吸收光度計和電感耦合等離子體發射分析儀中選擇的至少一個裝置，以及從都適合于有機物的分析的紅外分光光度計和拉曼分光光度計中選擇的至少一個裝置。

背景技術

如果其中混入了乙烯基，金屬或者類似的異物的食品或者類似的產品被運送至市場，產品的可信賴性將顯著地降低。因此，在工廠或者類似的設施中，進行產品的污染檢查。如果在產品的檢查中發現了異物，則分析該異物以確定所包含物質或元素的種類，數量及其他特性。隨后通過使用參照物數據庫識別異物以揭示其起源以及混入路徑。

適合于乙烯基或者類似的由有機物組成的異物的分析的分析裝置是傅里葉變換紅外分光光度計(FTIR)。在FTIR中，利用通過包括固定鏡和移動鏡的邁克爾遜干涉儀產生的干涉波照射異物，并且測定透射光或者反射光作為干涉圖。通過傅立葉變換該干涉圖，獲取吸收光譜，橫軸表示波數并且縱軸表示強度(例如吸光度或者透射率)。在吸收光譜上，紅外吸收出現在對應于包含在異物中的各種物質的振動能或者轉動能的量的波長處。因此，通過比較異物的吸收光譜圖與預先存儲在參照物數據庫中的各種參照物的吸收光譜圖，可以從包含的物質的類似性來識別異物(例如，參見專利文獻1)。

另一方面，適合于金屬或者類似的包含無機物的異物的分析的分析裝置是能量分散型熒光X射線分析儀(EDX)。在EDX中，利用X射線照射異物以獲取熒光光譜。在熒光光譜上，X射線熒光峰值出現在各元素特有的能量位置上。因此，通過在熒光光譜上確定峰值位置可以識別包含在異物中的元素。識別出的元素的量可以通過兩種方法確定：FP法(基本參數法)以及校準曲線法。在FP法中，各元素的定量值通過使用具有假設的主要成分的組成的理論公式再現X射線熒光的測定強度確定(例如，參見專利文獻2或者3)。與需要通過測定多個具有相同組成和已知含量的標準樣品來制定校準曲線的校準曲線法相比，FP法有利在這種任務是不必要的并且分析可以被輕易地進行。通過FP法確定的定量值通常被稱為“半定量值”以將其與通過校準曲線法確定的精確的定量值相區分。通過比較由FP法確定的異物中元素的半定量值與包含在預先存儲于參照物數據庫的各種參照物中的元素的半定量值，可以從包含的物質的類似性識別異物。

引用列表

專利文獻

專利文獻1：JP 2001-74650 A

專利文獻2：JP 8-334481 A

專利文獻3：JP 2010-223908 A

發明內容

技術問題

關于既包含無機物又包含有機物的異物，傳統的識別方法是比較使用FTIR獲取的吸收光譜與存儲在參照物數據庫中的吸收光譜以及同樣比較使用EDX獲取的半定量確定結果與存儲在參照物數據庫中的半定量數值。使用FTIR的異物的識別主要基于有機物的匹配度，而使用EDX的異物的識別主要基于無機物的匹配度。因此，在一些情況下，通過FTIR的識別的結果不同于通過EDX的識別的結果。在這種情況下，分析操作員需要考慮使用兩個裝置獲取的識別結果進行最終的判斷。由于判斷依賴于分析操作員的經驗，不夠熟練的操作員可能將相同的異物錯誤地識別為不同的物(例如，對無機物具有足夠知識量的分析操作員，如果該操作員對有機物不具有足夠的知識量，可能會錯誤地判斷FTIR識別的結果)。

上述FTIR和EDX的組合是分析裝置的一個具體的實例。在一些情況下，原子吸收光度計或者電感耦合等離子體發射分析儀被用作對于無機物的分析的合適的裝置。此外，拉曼分光光度計可以被用作對于有機物的分析的合適的裝置。三個或者更多的裝置也可以被同時用以分析異物。這些變體的任何一種同樣具有上述問題。

本發明要解決的問題是提供能夠不用依賴于分析操作員的熟練度以及不管目標樣品是否是有機物或者無機物，而正確地識別目標樣品(例如，異物)的樣品分析系統。

問題的解決方案

被研究用于解決前述問題的本發明是用于從使用多個分析裝置獲取的目標樣品的測定數據來識別目標樣品的樣品分析系統，所述多個分析裝置包括從熒光X射線分析儀，原子吸收光度計和電感耦合等離子體發射分析儀中選擇的至少一個裝置，以及從紅外分光光度計和拉曼分光光度計中選擇的至少一個裝置，所述系統包含：

a)存儲部，使用每一個所述分析裝置對于多個參照物中的每一個參照物所獲取的測定數據被存儲在所述存儲部中；