[發明專利]電機、用于電機的校正裝置和校正方法

在審

• 申請號: 201710243199.4
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN108736656A
• 公開（公告）日: 2018-11-02
• 發明（設計）人: 李良梓;陳蘇濤;姚文東
• 申請（專利權）人: 舍弗勒技術股份兩合公司
• 主分類號: H02K11/20
• 分類號: H02K11/20;H02K15/16
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張亞利;吳敏

1.一種電機，包括：轉子、環繞所述轉子的定子及環繞所述轉子分布的若干定子繞組對；其特征在于，還包括：

若干開關，每一個所述定子繞組通過相應的開關與相應的總線電連接。

2.如權利要求1所述的電機，其特征在于，所述開關為IGBT開關。

3.如權利要求1所述的電機，其特征在于，所有的所述開關集成于同一連接器。

4.一種權利要求1所述電機的校正方法，其特征在于，包括：

檢測所述轉子的徑向偏移位置；

確定與所述徑向偏移位置徑向相對的定子繞組對作為調節繞組對；

控制與所述調節繞組對電連接的所述開關導通，進而控制向所述調節繞組對通入直流電，以使其中的每一個定子繞組與所述轉子極性相斥。

5.如權利要求4所述的校正方法，其特征在于，檢測所述轉子的徑向偏移位置包括：沿所述定子的徑向，檢測所述轉子到所述定子的多個徑向距離；

比較所述徑向距離與標準距離，確定異常徑向距離所對應徑向為所述徑向偏移位置，所述異常徑向距離不同于所述標準距離。

6.如權利要求5所述的校正方法，其特征在于，檢測多個所述徑向距離包括：檢測所述轉子到每個所述定子繞組對的徑向距離，從而獲得若干徑向距離。

7.如權利要求6所述的校正方法，其特征在于，確定所述調節繞組對包括：確定異常徑向距離所對應徑向上的定子繞組對為所述調節繞組對。

8.如權利要求5所述的校正方法，其特征在于，所述異常徑向距離與所述標準距離的差值最大或最小。

9.如權利要求4所述的校正方法，其特征在于，檢測所述轉子的徑向偏移位置包括：采集所述轉子在旋轉過程中產生于所述定子繞組對中的反電動勢；

比較所述反電動勢與標準值，確定具有異常反電動勢的所述定子繞組對所對應徑向為所述徑向偏移位置，所述異常反電動勢不同于所述標準值。

10.如權利要求9所述的校正方法，其特征在于，確定所述調節繞組對包括：

確定具有異常反電動勢的所述定子繞組對作為所述調節繞組對。

11.如權利要求4所述的校正方法，其特征在于，在控制向所述調節繞組對通入直流電之前，檢測所述轉子的磁極的位置；

確定所述磁極位于所述徑向偏移位置；

在控制向所述調節繞組對通入直流電之前，根據所述磁極控制直流電的方向。

12.一種權利要求1所述的電機的校正方法，其特征在于，包括：

依次控制每個所述開關導通，從而控制向與導通的開關對應的定子繞組對中通入直流電，以使其中每一個定子繞組與所述轉子極性相斥。

13.如權利要求12所述的校正方法，其特征在于，在控制向所述對應的定子繞組對中通入直流電之前，檢測所述轉子的磁極的位置；

確定所述磁極位于所述對應的定子繞組對所對應的徑向上；

根據所確定的磁極控制向所述對應的定子繞組對中通入直流電的方向。

14.一種用于權利要求1所述電機的校正裝置，其特征在于，包括：

檢測單元，用于檢測所述轉子的徑向偏移位置；

第一確定單元，用于確定與所述徑向偏移位置徑向相對的定子繞組對；

控制單元，用于控制與所確定的定子繞組對電連接的所述開關導通，進而控制向所確定的所述定子繞組對通入直流電，以使其中的每一個定子繞組與所述轉子極性相斥。