[發明專利]具有圖像穩定功能的攝像設備及其控制方法和存儲介質有效
| 申請號: | 201710233846.3 | 申請日: | 2017-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN107360360B | 公開(公告)日: | 2020-05-15 |
| 發明(設計)人: | 柴田進洋 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | H04N5/232 | 分類號: | H04N5/232 |
| 代理公司: | 北京魏啟學律師事務所 11398 | 代理人: | 魏啟學 |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 圖像 穩定 功能 攝像 設備 及其 控制 方法 存儲 介質 | ||
1.一種攝像設備,用于通過在與光軸的方向不同的方向上移動用于校正圖像模糊的光學裝置來對攝像器件上所形成的被攝體圖像的圖像模糊進行校正,其特征在于,所述攝像設備包括:
調焦控制單元,用于通過使用在所述光軸的方向上移動的調焦透鏡的具有預定間隔的各位置處的AF評價值,來提供調焦控制;以及
校正單元,用于在調焦控制期間,根據位置檢測單元所檢測到的所述光學裝置在與所述光軸垂直的方向上的位置,來對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正,以使得所獲得的AF評價值和所獲得的位置信息之間的關系變化。
2.根據權利要求1所述的攝像設備,其中,還包括獲得單元,所述獲得單元用于獲得與所述攝像器件的讀出速率、變焦倍率和拍攝模式其中至少之一有關的信息,
其中,基于所述獲得單元所獲得的信息,所述校正單元選擇性地確定是對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正還是對所獲得的AF評價值進行校正。
3.根據權利要求2所述的攝像設備,其中,
所述獲得單元獲得與所述拍攝模式有關的模式信息,以及
在所述模式信息表示以黑暗的地方為前提的模式的情況下,所述校正單元選擇用于對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正的校正方法,以及在所述模式信息表示以明亮的地方為前提的模式的情況下,所述校正單元選擇用于對所獲得的AF評價值進行校正的校正方法。
4.根據權利要求2所述的攝像設備,其中,
所述獲得單元獲得與所述攝像器件的讀出速率有關的信息,以及
在與所述讀出速率有關的信息表示不大于預先確定的值的低讀出速率的情況下,所述校正單元選擇用于對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正的校正方法,以及在與所述讀出速率有關的信息表示大于預先確定的值的高讀出速率的情況下,所述校正單元選擇用于對所獲得的AF評價值進行校正的校正方法。
5.根據權利要求2所述的攝像設備,其中,
所述獲得單元獲得與所述變焦倍率有關的信息,以及
在與所述變焦倍率有關的信息表示不大于預先確定的值的廣角側變焦倍率的情況下,所述校正單元選擇用于對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正的校正方法,以及在與所述變焦倍率有關的信息表示大于預先確定的值的遠攝側變焦倍率的情況下,所述校正單元選擇用于對所獲得的AF評價值進行校正的校正方法。
6.根據權利要求1所述的攝像設備,其中,
所述校正單元通過將用于對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正的校正量乘以隨著AF評價值的水平而變化的權重系數來進行校正。
7.根據權利要求1所述的攝像設備,其中,
所述調焦控制單元通過使用所述AF評價值計算對比度的形狀、并且使用所述對比度處于峰的調焦透鏡的位置作為光束在所述攝像器件的光入射面上聚焦的位置,來提供調焦控制。
8.一種攝像設備的控制方法,所述攝像設備用于通過在與光軸的方向不同的方向上移動用于校正圖像模糊的光學裝置來對攝像器件上所形成的被攝體圖像的圖像模糊進行校正,其特征在于,所述控制方法包括以下步驟:
調焦控制步驟,用于通過使用在所述光軸的方向上移動的調焦透鏡的具有預定間隔的各位置處的AF評價值,來提供調焦控制;
位置檢測步驟,用于檢測所述光學裝置在與所述光軸垂直的方向上的位置;以及
校正步驟,用于在調焦控制期間,根據在所述位置檢測步驟中所檢測到的所述光學裝置在與所述光軸垂直的方向上的位置,來對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正,以使得所獲得的AF評價值和所獲得的位置信息之間的關系變化。
9.一種非暫時性計算機可讀存儲介質,其存儲用于使計算機執行攝像設備的控制方法的程序,所述攝像設備用于通過在與光軸的方向不同的方向上移動用于校正圖像模糊的光學裝置來對攝像器件上所形成的被攝體圖像的圖像模糊進行校正,其特征在于,所述控制方法包括以下步驟:
調焦控制步驟,用于通過使用在所述光軸的方向上移動的調焦透鏡的具有預定間隔的各位置處的AF評價值,來提供調焦控制;
位置檢測步驟,用于檢測所述光學裝置在與所述光軸垂直的方向上的位置;以及
校正步驟,用于在調焦控制期間,根據在所述位置檢測步驟中所檢測到的所述光學裝置在與所述光軸垂直的方向上的位置,來對獲得所述AF評價值時所獲得的與調焦透鏡的位置有關的位置信息進行校正,以使得所獲得的AF評價值和所獲得的位置信息之間的關系變化。
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