[發(fā)明專利]二分區(qū)間的數(shù)據(jù)壓縮方法及集成電路的測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710233374.1
• 申請(qǐng)日: 2017-04-11
• 公開（公告）號(hào): CN107026651B
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 詹文法;程一飛;張振林
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安慶師范大學(xué)
• 主分類號(hào): H03M7/30
• 分類號(hào): H03M7/30;G01R31/28
• 代理公司: 合肥市浩智運(yùn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34124
• 代理人: 丁瑞瑞

1.一種二分區(qū)間的數(shù)據(jù)壓縮方法，其特征在于，將若干個(gè)測(cè)試向量甚至整個(gè)測(cè)試集映射到區(qū)間(0，1)，再通過(guò)多次二分區(qū)間的方法找到該區(qū)間，存儲(chǔ)該二分區(qū)間的規(guī)律即存儲(chǔ)該若干個(gè)測(cè)試向量甚至整個(gè)測(cè)試集，

具體步驟為：

步驟1：統(tǒng)計(jì)原始測(cè)試數(shù)據(jù)的游程長(zhǎng)度Y₁、Y₂、……，Y_n，其中，Y_n表示為第n個(gè)測(cè)試向量的游程長(zhǎng)度，n為正整數(shù)，將該測(cè)試向量按0類型游程統(tǒng)計(jì)游程長(zhǎng)度，直到無(wú)關(guān)位結(jié)束；

步驟2：轉(zhuǎn)化成小數(shù)，默認(rèn)小數(shù)的整數(shù)部分為0，步驟1所統(tǒng)計(jì)的游程長(zhǎng)度依次組成小數(shù)部分，轉(zhuǎn)化的小數(shù)為0.Y₁Y₂……Y_n，0.Y₁Y₂……Y_n屬于區(qū)間(0，1)；

步驟3：初始化區(qū)間和原始編碼，記t₀＝0，t₁＝1，t₀是代表了初始化區(qū)間轉(zhuǎn)化后的小數(shù)，t₁代表了原始編碼轉(zhuǎn)化后的小數(shù)；原始編碼為空；

步驟4：二分區(qū)間，令比較t′與t大小并編碼，t是代表了轉(zhuǎn)化后的小數(shù)，規(guī)則為：若t≤t′，編碼增加1位數(shù)據(jù)0，令t₁＝t′；若t＞t′，t′代表了t₀、t₁之和的一半，編碼增加1位數(shù)據(jù)1，令t₀＝t′，重復(fù)執(zhí)行該步驟直到t＝t′。

2.如權(quán)利要求1所述的一種二分區(qū)間的數(shù)據(jù)壓縮方法，其特征在于，所述步驟1中，若無(wú)關(guān)位與前一游程可以組成同一游程，舍棄最后一游程長(zhǎng)度，只記前若干游程長(zhǎng)度；否則記前所有游程長(zhǎng)度。

3.一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟10：根據(jù)待測(cè)試集成電路的電路結(jié)構(gòu)生成包含若干故障的故障列表；

步驟20：選擇任一故障，運(yùn)行自動(dòng)測(cè)試向量生成工具以此生成該故障的測(cè)試向量，同時(shí)將該故障點(diǎn)從故障列表中刪除，最終形成級(jí)聯(lián)后原始測(cè)試數(shù)據(jù)即測(cè)試向量序列S；

步驟30：將若干個(gè)測(cè)試向量甚至整個(gè)測(cè)試集映射到區(qū)間(0，1)，再通過(guò)多次二分區(qū)間的方法找到該區(qū)間，存儲(chǔ)該二分區(qū)間的規(guī)律即存儲(chǔ)該若干個(gè)測(cè)試向量甚至整個(gè)測(cè)試集；

所述步驟30具體包括以下步驟：

步驟301：游程長(zhǎng)度統(tǒng)計(jì)，統(tǒng)計(jì)級(jí)聯(lián)后原始測(cè)試數(shù)據(jù)的游程長(zhǎng)度Y₁、Y₂、……，Y_n，其中，Y_n表示為第n個(gè)測(cè)試向量的游程長(zhǎng)度，n為正整數(shù)，將該測(cè)試向量按0類型游程統(tǒng)計(jì)游程長(zhǎng)度，直到無(wú)關(guān)位結(jié)束；

步驟302：轉(zhuǎn)化成小數(shù)，默認(rèn)小數(shù)的整數(shù)部分為0，步驟301所統(tǒng)計(jì)的游程長(zhǎng)度依次組成小數(shù)部分，轉(zhuǎn)化的小數(shù)為0.Y₁Y₂……Y_n，0.Y₁Y₂……Y_n屬于區(qū)間(0，1)；

步驟303：初始化區(qū)間和原始編碼，記t₀＝0，t₁＝1，t₀是代表了初始化區(qū)間轉(zhuǎn)化后的小數(shù)，t₁代表了原始編碼轉(zhuǎn)化后的小數(shù)；原始編碼為空；

步驟304：二分區(qū)間，令比較t′與t大小并編碼，t是代表了轉(zhuǎn)化后的小數(shù)，規(guī)則為：若t≤t′，編碼增加1位數(shù)據(jù)0，令t₁＝t′；若t＞t′，編碼增加1位數(shù)據(jù)1，令t₀＝t′，t′代表了t₀、t₁之和的一半，重復(fù)該步驟直到t＝t′。

4.如權(quán)利要求3所述的集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)方法，其特征在于，步驟302中，若無(wú)關(guān)位與前一游程可以組成同一游程，舍棄最后一游程長(zhǎng)度，只記前若干游程長(zhǎng)度；否則記前所有游程長(zhǎng)度。