[發(fā)明專利]一種電子整機貯存壽命評估方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710206016.1
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號: CN107015875B
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 范曄;李寶玉;陳津虎;馬曉東;楊志剛;賈生偉;胡彥平;陳文輝;王冀寧;張喆
• 申請（專利權(quán)）人: 北京強度環(huán)境研究所;中國運載火箭技術(shù)研究院;北京航天自動控制研究所
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子整機貯存壽命評估方法，其特征在于，包括：

獲取電子整機的性能退化數(shù)據(jù)和自然貯存年限；

根據(jù)所述性能退化數(shù)據(jù)中的試驗樣本構(gòu)建退化數(shù)據(jù)趨勢模型，并根據(jù)所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型以及所述性能退化數(shù)據(jù)中的驗證樣本，獲取所述電子整機的預(yù)測壽命；

根據(jù)所述自然貯存年限和預(yù)建立加速模型獲取加速因子；

根據(jù)所述電子整機的預(yù)測壽命和所述加速因子獲取所述電子整機的特征壽命；

其中，在根據(jù)所述自然貯存年限和預(yù)建立加速模型獲取加速因子之前，所述方法還包括：

根據(jù)所述性能退化數(shù)據(jù)包括的溫度應(yīng)力數(shù)據(jù)，結(jié)合所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型，獲取不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命；

根據(jù)不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命以及各試驗電子整機的自然貯存年限構(gòu)建加速模型；

相應(yīng)地，所述根據(jù)所述自然貯存年限和預(yù)建立加速模型獲取加速因子包括：

根據(jù)不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命評估所述加速模型中的參數(shù)；

根據(jù)所述加速模型計算獲取所述電子整機在不同溫度應(yīng)力下的加速因子。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能退化數(shù)據(jù)包括：多組包括產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)和與所述產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)對應(yīng)的檢測時間樣本數(shù)據(jù)；

相應(yīng)地，所述根據(jù)所述性能退化數(shù)據(jù)中的試驗樣本構(gòu)建退化數(shù)據(jù)趨勢模型包括：

根據(jù)所述檢測時間將所述性能退化數(shù)據(jù)劃分為試驗樣本和驗證樣本；

利用支持向量機建立初始退化數(shù)據(jù)趨勢模型；

以所述試驗樣本中的產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)為輸入向量，性能退化數(shù)據(jù)值為輸出向量，利用最小二乘支持向量機算法對所述初始退化數(shù)據(jù)趨勢模型進行訓(xùn)練，構(gòu)建退化數(shù)據(jù)趨勢模型。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型以及所述性能退化數(shù)據(jù)中的驗證樣本，獲取所述電子整機的預(yù)測壽命包括：

按照檢測時間的先后順序，執(zhí)行預(yù)測步驟；

所述預(yù)測步驟包括：

以所述驗證樣本中的第一組樣本數(shù)據(jù)中的檢測時間為輸入，結(jié)合所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型，獲取對應(yīng)的產(chǎn)品性能參數(shù)的預(yù)測值；

判斷所述產(chǎn)品性能參數(shù)的預(yù)測值是否達(dá)到產(chǎn)品失效閥值的上限或者下限；

若是，則將所述產(chǎn)品性能參數(shù)的預(yù)測值對應(yīng)的檢測時間作為所述電子整機的預(yù)測壽命。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，若所述產(chǎn)品性能參數(shù)的預(yù)測值未達(dá)到產(chǎn)品失效閥值的上限或者下限，則根據(jù)所述驗證樣本中的第一組樣本數(shù)據(jù)對所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型進行更新；

將所述驗證樣本中的第一組樣本數(shù)據(jù)刪除；

重復(fù)執(zhí)行所述預(yù)測步驟，直至獲取所述電子整機的預(yù)測壽命。

5.一種電子整機貯存壽命評估裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取電子整機的性能退化數(shù)據(jù)和自然貯存年限；

評估模塊，用于根據(jù)所述性能退化數(shù)據(jù)中的試驗樣本構(gòu)建退化數(shù)據(jù)趨勢模型，并根據(jù)所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型以及所述性能退化數(shù)據(jù)中的驗證樣本，獲取所述電子整機的預(yù)測壽命；

處理模塊，用于根據(jù)所述自然貯存年限和預(yù)建立加速模型獲取加速因子；

優(yōu)化模塊，用于根據(jù)所述電子整機的預(yù)測壽命和所述加速因子獲取所述電子整機的特征壽命；

其中，所述裝置還包括：建模模塊；

所述建模模塊，用于根據(jù)所述性能退化數(shù)據(jù)包括的溫度應(yīng)力數(shù)據(jù)，結(jié)合所述退化數(shù)據(jù)趨勢模型，獲取不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命；根據(jù)不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命以及各試驗電子整機的自然貯存年限構(gòu)建加速模型；

相應(yīng)地，所述處理模塊，用于根據(jù)不同溫度應(yīng)力下多個試驗電子整機的預(yù)測壽命評估所述加速模型中的參數(shù)；根據(jù)所述加速模型計算獲取所述電子整機在不同溫度應(yīng)力下的加速因子。