[發(fā)明專利]一種導(dǎo)電比色皿及其制造方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710201749.6
• 申請(qǐng)日: 2017-03-30
• 公開（公告）號(hào): CN107064037A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳毅挺;李艷霞;黃露;方潤(rùn);林棋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 閩江學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/33
• 分類號(hào): G01N21/33;G01N27/48;G01N21/78;G01N21/01
• 代理公司: 福州市鼓樓區(qū)京華專利事務(wù)所(普通合伙)35212
• 代理人: 宋連梅

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種導(dǎo)電比色皿及其制造方法。

背景技術(shù)

在某些化學(xué)分析中，需要在進(jìn)行光譜學(xué)分析的同時(shí)，能進(jìn)行電化學(xué)處理或者測(cè)量，這就要求比色皿中具備電極材料。而目前多為薄層光譜電化學(xué)池，這在研究物質(zhì)電化學(xué)反應(yīng)機(jī)理等方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。但是，由于其薄層設(shè)計(jì)，導(dǎo)致電解過程中若形成氣泡則很容易滯留于光路當(dāng)中，造成電化學(xué)和光譜測(cè)量的嚴(yán)重誤差。同時(shí)由于薄層設(shè)計(jì)的特殊性，不少光譜電化學(xué)池?zé)o法直接放入公知技術(shù)的光譜儀中使用，需要對(duì)儀器進(jìn)行一定的改裝。此外，在很多領(lǐng)域，如環(huán)境污染物的電化學(xué)降解研究中，需要對(duì)一定量的溶液進(jìn)行降解，并同時(shí)檢測(cè)溶液的光譜變化，而這時(shí)薄層設(shè)計(jì)是不合適的。

有人將電極直接置于比色皿中，但電極的存在會(huì)對(duì)吸光度的測(cè)量帶來(lái)一定的影響。也有出現(xiàn)將玻璃鍍膜材料用于比色皿中的技術(shù)，如在原有比色皿中黏貼上一個(gè)氟摻雜錫氧化物導(dǎo)電玻璃作為電極，這樣的問題是氟摻雜錫氧化物導(dǎo)電玻璃的側(cè)面會(huì)對(duì)吸光度的測(cè)量產(chǎn)生嚴(yán)重的影響，而且測(cè)量結(jié)果與氟摻雜錫氧化物導(dǎo)電玻璃黏貼的角度有很大關(guān)系。而且作為參比比色皿，對(duì)導(dǎo)電材料的黏貼角度和位置也要求和測(cè)量比色皿高度一致，否則會(huì)帶來(lái)較大的誤差。此外，如果采用將氧化銦錫導(dǎo)電玻璃或者氟摻雜錫氧化物導(dǎo)電玻璃黏貼于比色皿內(nèi)部的方法，比色皿的清洗將不夠方便，而如果用超聲，又可能會(huì)使得粘結(jié)的部位發(fā)生部分脫落，從而導(dǎo)致測(cè)量時(shí)氣泡或者角度變化。

因此，現(xiàn)有技術(shù)中光電檢測(cè)的比色皿，或是結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，需要對(duì)原有的光度計(jì)進(jìn)行一定的系統(tǒng)加裝，或是清洗不易、檢測(cè)有誤差，不容易操作，不具有實(shí)用性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題，在于提供一種導(dǎo)電比色皿及其制造方法，該導(dǎo)電比色皿可以在對(duì)比色皿內(nèi)溶液進(jìn)行電化學(xué)處理的同時(shí)檢測(cè)光信號(hào)，并且能解決現(xiàn)有具有導(dǎo)電功能的比色皿存在的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、不容易操作以及檢測(cè)有誤差的問題。

本發(fā)明之一是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種導(dǎo)電比色皿，包括一底面、一第一側(cè)壁、一第二側(cè)壁、一第三側(cè)壁以及一第四側(cè)壁；所述底面、一第一側(cè)壁、一第二側(cè)壁、一第三側(cè)壁以及一第四側(cè)壁圍成一矩形容器；所述第一側(cè)壁與所述第三側(cè)壁相對(duì)，且第一側(cè)壁以及第三側(cè)壁為透光；所述第二側(cè)壁與所述第四側(cè)壁相對(duì)，且第二側(cè)壁與所述第四側(cè)壁為非透光；所述第二側(cè)壁以及第四側(cè)壁上設(shè)有導(dǎo)電極。

進(jìn)一步地，所述第一側(cè)壁與第三側(cè)壁高度相等，所述第二側(cè)壁與第四側(cè)壁高度相等；所述第二側(cè)壁的高度高于第一側(cè)壁的高度。

進(jìn)一步地，所述第二側(cè)壁的高度高于第一側(cè)壁的高度5～20mm。

進(jìn)一步地，所述第二側(cè)壁高于第一側(cè)壁的部分覆蓋焊錫、金膜、鉑膜、導(dǎo)電膠帶以及導(dǎo)電銅箔中的任意一種或多種，且連接至所述第二側(cè)壁的導(dǎo)電極。

進(jìn)一步地，所述第四側(cè)壁高于第一側(cè)壁的部分覆蓋焊錫、金膜、鉑膜、導(dǎo)電膠帶以及導(dǎo)電銅箔中的任意一種或多種，且連接至所述第四側(cè)壁的導(dǎo)電極。

本發(fā)明之二是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種導(dǎo)電比色皿的制造方法，包括一底面、一第一側(cè)壁、一第二側(cè)壁、一第三側(cè)壁以及一第四側(cè)壁；所述第一側(cè)壁與所述第三側(cè)壁相對(duì)，且第一側(cè)壁以及第三側(cè)壁為透光；所述第二側(cè)壁與所述第四側(cè)壁相對(duì)，且第二側(cè)壁與所述第四側(cè)壁為非透光；所述第二側(cè)壁以及第四側(cè)壁上設(shè)有導(dǎo)電極；具體包括如下步驟：

所述底面、一第一側(cè)壁、一第二側(cè)壁、一第三側(cè)壁以及一第四側(cè)壁通過粘合圍成一矩形容器。

進(jìn)一步地，將第一側(cè)壁、第二側(cè)壁、第三側(cè)壁以及第四側(cè)壁的兩個(gè)側(cè)面均打磨成相互配合的斜角，然后使用粘結(jié)劑將第一側(cè)壁、第二側(cè)壁、第三側(cè)壁以及第四側(cè)壁依次粘接成一柱狀體，之后將該柱狀體的一側(cè)面使用粘結(jié)劑連接底面形成比色皿。

進(jìn)一步地，所述制造方法具體為：所述斜角等于45°。

進(jìn)一步地，所述第一側(cè)壁與第三側(cè)壁高度相等，所述第二側(cè)壁與第四側(cè)壁高度相等；所述第二側(cè)壁的高度高于第一側(cè)壁的高度。

進(jìn)一步地，所述第二側(cè)壁的高度高于第一側(cè)壁的高度5～20mm。

進(jìn)一步地，所述第二側(cè)壁高于第一側(cè)壁的部分覆蓋焊錫、金膜、鉑膜、導(dǎo)電膠帶以及導(dǎo)電銅箔中的任意一種或多種，且連接至所述第二側(cè)壁的導(dǎo)電極。

進(jìn)一步地，所述第四側(cè)壁高于第一側(cè)壁的部分覆蓋焊錫、金膜、鉑膜、導(dǎo)電膠帶以及導(dǎo)電銅箔中的任意一種或多種，且連接至所述第四側(cè)壁的導(dǎo)電極。

本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)：

1、本發(fā)明將導(dǎo)電材料直接用于比色皿的非透光面，可以方便地進(jìn)行電化學(xué)處理或測(cè)量，原有的透光材料形成的透光面也能檢測(cè)光信號(hào)，從而滿足在某些化學(xué)分析中，需要在進(jìn)行光譜學(xué)分析的同時(shí)，能進(jìn)行電化學(xué)處理或者測(cè)量的需求。