[發(fā)明專利]一種改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)及方法

在審

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• 申請日: 2017-03-24
• 公開（公告）號: CN108630729A
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 林哲瑋
• 申請（專利權(quán)）人: 上海和輝光電有限公司
• 主分類號: H01L27/32
• 分類號: H01L27/32;H01L51/52;H01L51/56
• 代理公司: 上海申新律師事務(wù)所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發(fā)明涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)及方法，通過在OLED像素定義層上制作側(cè)壁與底部之間的夾角大于90°的間隔物，以在OLED材料蒸鍍時，在間隔物與像素定義層之間生成不連續(xù)的膜層；進而在入侵的水氣與間隔物上刮傷的材料發(fā)生反應(yīng)時，該反應(yīng)會停止于鍍膜不連續(xù)的區(qū)域，進而防止缺陷擴大，減小RA失效的風險。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)及方法。

背景技術(shù)

OLED即有機發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode)，具備自發(fā)光、高亮度、寬視角、高對比度、可撓曲、低能耗等特性，因此受到廣泛的關(guān)注，并作為新一代的顯示方式，已開始逐漸取代傳統(tǒng)液晶顯示器，被廣泛應(yīng)用在手機屏幕、電腦顯示器、全彩電視等。

目前，一般OLED像素定義層(pixel define layer，簡稱PDL)上會制作間隔物(Spacer，簡稱SP)，其主要目的為防止OLED材料蒸鍍時，精細金屬掩模(Fine Metal Mask，簡稱FMM)與像素直接接觸，導(dǎo)致像素刮傷產(chǎn)生缺陷(Defect)。然而雖然由于間隔物的存在，F(xiàn)MM不會直接刮傷像素，但間隔物上的材料還是會被刮傷，而間隔物上若有刮傷會使得材料表面不平整，遇上較具活性的蒸鍍材料(例如：Mg，Yb)，會導(dǎo)致水氣入侵，直接傷害到像素，生成缺陷，進而導(dǎo)致RA(Reliability Analysis Test，可靠度分析測試)失效，這是本領(lǐng)域技術(shù)人員所不期望見到的。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述存在的問題，本發(fā)明公開了一種改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)，其中，包括：

襯底；

若干像素定義層，設(shè)置于所述襯底之上；

間隔物，設(shè)置于所述像素定義層上，且所述間隔物的側(cè)壁與所述間隔物的底部之間的夾角大于90°；以及

OLED材料層，設(shè)置于所述襯底、所述像素定義層以及所述間隔物的上表面，且所述OLED材料層在所述間隔物和所述像素定義層之間呈現(xiàn)非連續(xù)斷面。

上述的改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)，其中，所述間隔物的橫截面形狀為倒等腰梯形。

上述的改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)，其中，所述OLED材料層包括若干發(fā)光單元和共通層；

所述發(fā)光單元設(shè)置于相鄰所述像素定義層之間；

所述共通層設(shè)置于所述發(fā)光單元、所述像素定義層和所述間隔物的表面。

上述的改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)，其中，所述若干發(fā)光單元發(fā)射至少包括分別用以發(fā)射三種不同顏色的光的第一發(fā)光單元、第二發(fā)光單元和第三發(fā)光單元。

上述的改善OLED像素缺陷的結(jié)構(gòu)，其中，所述共通層包括空穴注入層、空穴傳輸層、電子傳輸層、電子注入層和陰極；

所述空穴注入層設(shè)置于所述襯底之上；

所述空穴傳輸層設(shè)置于所述空穴注入層和所述若干發(fā)光單元之間；

所述電子傳輸層設(shè)置于所述若干發(fā)光單元和所述電子注入層之間；以及

所述陰極設(shè)置于所述電子注入層之上。

還提出了一種改善OLED像素缺陷的方法，其中，包括：

提供一襯底；

于所述襯底之上形成若干像素定義層；

于所述像素定義層之上形成間隔物，且所述間隔物的側(cè)壁與所述間隔物的底部之間的夾角大于90°；以及

繼續(xù)于所述襯底之上蒸鍍OLED材料層，且所述OLED材料層在所述間隔物和所述像素定義層之間的區(qū)域有間斷。