[發明專利]具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法

有效

• 申請號: 201710159581.7
• 申請日: 2017-03-17
• 公開（公告）號: CN107026696B
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 趙安平;艾付強;尹鴻焰
• 申請（專利權）人: 深圳市信維通信股份有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 張明

1.一種具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，包括：

在待測設備上確定待測點；

根據測試設備設定的各測試點，移動待測設備，直至所述待測點依順序與各測試點重合；

分別判斷各測試點對應的參數是否均滿足其對應的預設條件；

若是，則確定所述待測點為基準點；

若否，則確定新的待測點；

繼續進行所述根據測試設備設定的各測試點，移動待測設備，直至所述待測點依順序與各測試點重合的步驟；

所述待測設備上設有兩個開孔和一個縫隙，所述“在待測設備上確定待測點”具體為：

在待測設備上確定磁場零點；

在待測設備上的縫隙及其延伸線上確定第一點和第二點，所述第一點到磁場零點的距離M與所述第二點到磁場零點的距離N滿足下述條件：M+2m60mm，N-2n10mm，其中，m為與所述第一點距離較遠的開孔的中心點到磁場零點的距離，n為與所述第一點距離較近的開孔的中心點到磁場零點的距離；

在所述縫隙及其延伸線上且在所述第一點和第二點之間確定待測點。

2.根據權利要求1所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，所述測試設備還包括參考天線，將參考天線的中心點與所述待測點重合，以確定參考天線的位置。

3.根據權利要求1所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，移動待測設備時，將待測設備與測試天線線圈平行且待測設備上縫隙的長度方向與測試設備中預設的三維直角坐標系中的X軸方向或Y軸方向平行設置。

4.根據權利要求1所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，所述“待測點依順序與各測試點重合”具體為：先將待測點與遠離測試天線線圈的一個或兩個測試平面上的測試點重合，判斷所述測試點對應的參數是否均滿足其對應的預設條件，若是，則繼續將待測點與其他測試平面的測試點重合。

5.根據權利要求4所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，若所述測試點中一測試點對應的參數不滿足其對應的預設條件，則以所述一測試點所在的測試平面上半徑為零的圓上的點為基點，根據所述基點到所述一測試點的方向，移動待測點，得到新的待測點。

6.根據權利要求4所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，若其他測試平面上的測試點中存在不滿足對應的預設條件的測試點，則沿所述待測點的四周方向，確定新的待測點。

7.根據權利要求4所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，所述遠離測試天線線圈的一個或兩個測試平面為Z＝30mm和/或Z＝40mm的測試平面。

8.根據權利要求1所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，當待測點與測試點重合時，獲取測試點對應的參數，所述參數為電壓、電流或波形曲線。

9.根據權利要求1-8任一項所述的具有雙天線模式的NFC天線的認證測試方法，其特征在于，所述待測設備的金屬后殼上設有兩個開孔以及連接所述兩個開孔的縫隙，NFC天線以O字形圍繞一個開孔或以8字形圍繞兩個開孔。