[發明專利]控制調試請求的裝置及數據處理器

在審

• 申請號: 201710153281.8
• 申請日: 2017-03-15
• 公開（公告）號: CN106970877A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發明（設計）人: 郭宇波
• 申請（專利權）人: 杭州中天微系統有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司11228
• 代理人: 張瑾

1.一種控制調試請求的裝置，其特征在于，所述控制調試請求的裝置包括調試電路、調試異常狀態寄存器、數據處理電路，其中，

所述調試電路，與所述數據處理電路相連，用于實時獲取所述數據處理電路的應用程序狀態信息，并對所述應用程序狀態信息進行處理產生調試請求，以及發送所述調試請求至所述數據處理電路，所述調試請求用于指示所述數據處理電路執行調試異常服務程序；

所述調試異常狀態寄存器，與所述數據處理電路相連，用于讀取并顯示所述數據處理電路正在執行的應用程序是否具有可中斷性；所述調試異常狀態寄存器包括調試異常使能位和調試異常掛起位，其中，所述調試異常使能位為高代表所述數據處理電路執行的應用程序具有可中斷性，所述調試異常使能位為低代表所述數據處理電路執行的應用程序不具有可中斷性，所述調試異常掛起位為高表示存在調試異常請求等待被處理，調試異常掛起位為低表示不存在調試異常請求等待被處理；

所述數據處理電路，用于接收所述調試電路發送的調試請求，同時獲取所述調試異常狀態寄存器的信息，當所述調試異常狀態寄存器的所述調試異常使能位為高時，響應所述調試異常請求，并執行所述調試異常服務程序；當所述調試異常狀態寄存器的所述調試異常使能位為低時，置高所述調試異常掛起位，繼續完成當前操作。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述應用程序狀態信息為所述數據處理電路發送的指令執行信息或內存訪問地址信息。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述調試請求為所述調試電路在內部調試模式下產生的調試異常請求。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述調試異常請求為，所述調試電路接收所述數據處理電路發送的指令執行信息，并對所述指令執行信息進行處理后產生的指令觸發型調試異常請求。

5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述調試異常請求為，所述調試電路接收所述數據處理電路發送的內存訪問地址信息，并對所述內存訪問地址信息進行處理后產生的內存觸發型調試異常請求。

6.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數據處理電路還用于，在響應所述調試異常請求后，置低所述調試異常使能位。

7.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數據處理電路還用于，在完成執行所述調試異常服務程序，并退出所述調試異常服務程序后，置高所述調試異常使能位。

8.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，當所述數據處理電路同時接收到調試異常請求和中斷請求時，所述數據處理電路優先處理調試異常請求。

9.一種數據處理器，其特征在于，所述數據處理器包括如權利要求1至8中任一項所述的控制調試請求的裝置。