[發明專利]一種體源測量探測器的校準方法有效
| 申請號: | 201710131041.8 | 申請日: | 2017-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN108572387B | 公開(公告)日: | 2023-07-14 |
| 發明(設計)人: | 唐智輝;陳立;韋應靖;商潔;王勇;李強;馮梅;方登富;張慶利;以恒冠;黃亞雯;崔偉 | 申請(專利權)人: | 中國輻射防護研究院 |
| 主分類號: | G01T7/00 | 分類號: | G01T7/00 |
| 代理公司: | 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 任曉航;周敏毅 |
| 地址: | 030006 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 探測器 校準 方法 | ||
本發明屬于輻射探測技術領域,涉及一種體源測量探測器的校準方法。所述的校準方法包括如下步驟,(1)對體源測量探測器進行蒙特卡洛模擬;(2)若蒙特卡洛模擬結果不符合要求,則修改體源測量探測器的探頭的尺寸重新進行蒙特卡洛模擬;(3)若蒙特卡洛模擬結果符合要求,則提取體源測量探測器的探頭的尺寸數據;(4)在步驟(3)的基礎上,結合被測樣品數據、體源測量探測器除探頭外其他部件的尺寸及空間結構,采用蒙特卡洛模擬對實際測量進行模擬;(5)獲得體源測量探測器對體源的探測效率,并找出模擬探測效率與此探測效率相同的點,用固體點源擺點加以驗證。利用本發明的校準方法,可以方便、準確的進行體源測量探測器的校準。
技術領域
本發明屬于輻射探測技術領域,涉及一種體源測量探測器的校準方法。
背景技術
用于測量體源活度的探測器(以下稱體源測量探測器)由于結構的復雜和測量對象形狀多變,不易制備相應的標準源,其校準工作一直是一個難題。一般情況下此類探測器都只通過檢查其對某一固定位置的點源的效率變化來判斷其是否處于正常工作狀態,而不是進行具有溯源的校準工作。
體源測量探測器一般在核設施氣液排出口用于測量氣態排出物或是液態排出物的活度值。此類探測器一般可分為取樣測量和在線測量兩類,其共同點是被測樣品為體源,探測效率很難準確校準。一般的校準方法是用與樣品一致的放射性標準源,在與被測樣品相同的條件下替代被測樣品,此時將探測器所測的數值與放射性標準源活度值相比較就能達到校準的目的。但由于被測樣品的體積大,樣品的自吸收和屏蔽較復雜,導致放射性標準源制備困難,且由于標準氣體或標準液體的制備、儲存和運輸等存在的一系列問題,導致對于體源測量探測器一般的校準方法難以使用。
發明內容
本發明的目的是提供一種體源測量探測器的校準方法,以可以利用其方便、準確的進行體源測量探測器的校準。
為實現此目的,在基礎的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,所述的校準方法包括如下步驟,
(1)對所述的體源測量探測器進行蒙特卡洛模擬;
(2)若蒙特卡洛模擬結果不符合要求,則修改所述的體源測量探測器的探頭的尺寸重新進行蒙特卡洛模擬;
(3)若蒙特卡洛模擬結果符合要求,則提取所述的體源測量探測器的探頭的尺寸數據;
(4)在步驟(3)的基礎上,結合被測樣品數據、體源測量探測器除探頭外其他部件的尺寸及空間結構,采用蒙特卡洛模擬對實際測量進行模擬;
(5)獲得體源測量探測器對體源的探測效率,并找出模擬探測效率與此探測效率相同的點,用固體點源擺點加以驗證。
在一種優選的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,其中步驟(1)的蒙特卡洛模擬是建立最初的探頭模型,通過不斷調整探頭模型中的參數來獲得不同探頭尺寸的模型對于實驗同樣的點位的探測效率的模擬數據。
在一種優選的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,其中所述的參數包括晶體的直徑d1和高度h1、前窗的厚度h3、晶體與前窗的距離h2和反光層厚度d2。
在一種優選的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,其中實驗同樣的點位時將固體點源置于探頭正前方10cm和20cm處,以及正側方10cm和20cm處測量。
在一種優選的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,其中判斷所述的蒙特卡洛模擬結果是否符合要求的標準是,將蒙特卡羅模擬不同探頭尺寸的模擬數據與實驗測量同樣點位的探測效率的實驗數據進行對比,與實驗數據差異最小的模擬數據對應的模型尺寸就是符合要求的探頭標準尺寸。
在一種優選的實施方案中,本發明提供一種體源測量探測器的校準方法,其中步驟(4)中所述的被測樣品數據包括被測樣品的空間范圍數據和物質特性數據。
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