[發明專利]用于焦平面成像器件絕對光譜響應的通用快速測量方法

在審

• 申請號: 201710130429.6
• 申請日: 2017-03-07
• 公開（公告）號: CN106932174A
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 李豫東;文林;郭旗;施煒雷;于剛;周東;張興堯;于新
• 申請（專利權）人: 中國科學院新疆理化技術研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 烏魯木齊中科新興專利事務所65106
• 代理人: 張莉

1.一種用于焦平面成像器件絕對光譜響應的通用快速測量方法，其特征在于按下列步驟進行：

a、采用光闌限制光束，保證焦平面成像器件的感光區域完全覆蓋光斑，通過光譜掃描測試，獲得焦平面成像器件的相對光譜響應：按照光譜分辨率的要求，在待測的光譜范圍λ_min—λ_max內取n個波長點，標記為λ₁—λ_n，含參考探測器校準波長λ_ref，以單色光斑照射焦平面成像器件，測試獲得每個波長點的相對光譜響應R_{r_λ1}至R_{r_λn}。；

b、以波長為λ_ref的單色光照射參考探測器，測試獲得參考探測器的輸出電流I_ref；

c、計算焦平面成像器件的絕對光譜響應：通過I_ref和參考探測器在波長λ_ref點的校準值Q_λref，單位A/W，計算校準波長單色光斑的功率L_ref，根據L_ref和焦平面成像器件λ_ref點的相對光譜響應R_{r_λref}，計算得出焦平面成像器件λ_ref點的絕對光譜響應R_λref，然后以公式R_λm＝R_{r_λm}/R_{r_λref}×R_λref，其中m為1—n中的任意整數，計算獲得其它波長點的絕對光譜響應。

2.根據權利要求1中所述的測試方法，其特征在于步驟a中采用n個波長點λ₁—λ_n的單色光斑照射下，直接采集焦平面成像器件整幅輸出圖像，根據圖像序列計算焦平面成像器件的相對光譜響應，波長λ_m單色光斑照射下焦平面成像器件的整幅輸出圖像所有像元的灰度累加值為S_{light_λm}，與暗場輸出圖像的灰度累加值S_{dark_λm}相減，獲得扣除暗場本底后的信號輸出S_{signal_λm}，根據焦平面成像器件的轉換增益、積分時間，計算出相對光譜響應R_{r_λm}。

3.根據權利要求2所述的通過整幅圖像輸出計算相對光譜響應的方法，其特征在于：獲取灰度累加值S_{light_λm}和S_{dark_λm}時，均采用多幅圖像取均值的方法，以減小測量誤差以及時間、溫度等因素導致的測量值起伏。