[發(fā)明專利]一種用于光纖中子探測系統(tǒng)測試與標定的探頭及其測試標定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710122548.7
• 申請日: 2017-03-03
• 公開（公告）號: CN108535769B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳寶維;朱慶福;周琦;李健;楊中建;白召樂;謝偉民;程昊;楊楠
• 申請（專利權(quán)）人: 中國輻射防護研究院
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311
• 代理人: 任曉航;周敏毅

1.一種探頭進行微弱光探測計數(shù)系統(tǒng)標定的方法，其特征在于，

所述的探頭包括光纖末端、均勻涂覆在光纖末端表面的探測材料，及覆蓋在探測材料外的金屬蓋帽，

所述的探測材料由含²³²Th的物質(zhì)以及閃爍體材料組成；

所述的金屬蓋帽起到既能保證被測中子順利通過，又能避光的作用，

所述的方法包括如下步驟：

(1)將所述的探頭與已知探測效率η的微弱光探測計數(shù)系統(tǒng)相連接，由此可得到探頭自動發(fā)射光子的速率；

(2)將探頭與未知探測效率的微弱光探測計數(shù)系統(tǒng)相連接，如該系統(tǒng)無計數(shù)，可判斷該系統(tǒng)發(fā)生故障，可起到測試該系統(tǒng)能否正常工作的作用；如該系統(tǒng)能夠正常工作，則由該系統(tǒng)每秒鐘測得的計數(shù)除以探頭每秒鐘發(fā)射的光子數(shù)，即得到該微弱光探測計數(shù)系統(tǒng)的探測效率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述的含²³²Th的物質(zhì)為²³²ThO₂；所述的閃爍體材料為ZnS:Ag。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：所述的含²³²Th的物質(zhì)與所述的ZnS的摩爾比為1:0.1-1:10。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纖為傳導光纖，所述的傳導光纖為石英光纖或塑料光纖。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于：所述的探測材料涂覆在所述的傳導光纖末端的頂端。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纖為波長轉(zhuǎn)換光纖。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于：所述的探測材料涂覆在所述的波長轉(zhuǎn)換光纖末端的頂端及側(cè)面。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述的光纖為相互連接的傳導光纖與波長轉(zhuǎn)換光纖，所述的探測材料涂覆在所述的波長轉(zhuǎn)換光纖末端的頂端及側(cè)面。