[發明專利]一種基于頻分的近場天線測試系統及其測試方法

在審

• 申請號: 201710100693.5
• 申請日: 2017-02-23
• 公開（公告）號: CN106841828A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 周建華;毛小蓮;王玉峰
• 申請（專利權）人: 上海霍萊沃電子系統技術股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京酷愛智慧知識產權代理有限公司11514
• 代理人: 殷曉雪

1.一種基于頻分的近場天線測試系統，其特征是，待測天線為陣列天線或相控陣天線或反射面天線；當待測天線作為接收天線時，所述近場天線測試系統包括信號源、變頻單元、多個探頭、待測天線、接收機；信號源產生初始信號；一路初始信號經過變頻單元轉換為一組發射信號并分別送往多個探頭同時對外發射；所述一組發射信號的頻率各異且均近似于初始信號的頻率；多個探頭輻射出的電磁波在空間傳輸后被待測天線同時接收并送往接收機，所接收信號經過接收機檢測得到其中各不同頻率分量的幅度和相位。

2.根據權利要求1所述的基于頻分的近場天線測試系統，其特征是，所述變頻單元進一步包括分配單元、本振單元、多個混頻單元；一路初始信號經過分配單元復制為多路初始信號并分別提供給各個混頻單元；一路參考信號經過本振單元轉換為一組中間信號并分別提供給各個混頻單元；所述一組中間信號的頻率各異且均遠小于初始信號的頻率；每一路初始信號與每一個中間信號在每個混頻單元中經過混頻后輸出得到一個發射信號；多個混頻單元便輸出所述一組發射信號。

3.根據權利要求1或2所述的基于頻分的近場天線測試系統，其特征是，所述信號源與變頻單元省略，改為多個信號源；所述多個信號源產生一組相參的、頻率各異的發射信號；這一組發射信號分別送往多個探頭同時對外發射。

4.根據權利要求1所述的基于頻分的天線測試系統，其特征是，當待測天線作為發射天線時，所述天線測試系統包括信號源、待測天線、多個探頭、接收機；信號源產生發射信號；發射信號送往待測天線對外發射；待測天線輻射出的電磁波在空間傳輸后被多個探頭分別接收，每個探頭所接收的信號分別送往接收機檢測得到幅度和相位。

5.根據權利要求1或2所述的基于頻分的近場天線測試系統，其特征是，所述多個探頭固定在可移動的掃描架上。

6.一種基于頻分的天線測試方法，其特征是，當待測天線作為接收天線時，所述天線測試方法包括如下步驟：

步驟S201：信號源產生初始信號并送往變頻單元；

步驟S202：變頻單元將一路初始信號變換為一組發射信號并分別送往多個探頭；所述一組發射信號的頻率各異且均近似于初始信號的頻率；

步驟S203：每個探頭分別將一路發射信號同時對外發射；

步驟S204：待測天線同時接收多個探頭所發射的電磁波，所接收信號被送往接收機；

步驟S205：接收機從所接收信號中同時檢測出各不同頻率分量的幅度和相位值。

7.根據權利要求6所述的基于頻分的天線測試方法，其特征是，所述步驟S201至步驟S202改為步驟S501至步驟S504；

步驟S501：信號源產生初始信號并送往分配單元；

步驟S502：分配單元將一路初始信號復制為多路，并分別提供給各個混頻單元作為第一輸入；

步驟S503：本振單元產生一組中間信號并分別送往各個混頻單元作為第二輸入；所述一組中間信號的頻率各異且均遠小于初始信號的頻率；

或者，所述步驟S502與步驟S503的順序互換、或者同時進行；

步驟S504：每個混頻單元均將各自的第一輸入與第二輸入混頻后得到一個發射信號，多個混頻單元便輸出一組發射信號并分別送往多個探頭。

8.根據權利要求6或7所述的基于頻分的天線測試方法，其特征是，所述步驟S201至步驟S202、或者步驟S501至步驟S504改為步驟S701；

步驟S701：多個信號源分別產生一組相參的、頻率各異的發射信號，并分別送往多個探頭。

9.根據權利要求6或7所述的基于頻分的天線測試方法，其特征是，當待測天線作為發射天線時，所述天線測試方法包括如下步驟：

步驟S901：信號源產生發射信號并送往待測天線；

步驟S902：待測天線將一路發射信號對外發射；

步驟S903：多個探頭分別同時接收待測天線所發射的信號，并將所接收信號分別送往接收機；

步驟S904：接收機同時檢測多個所接收信號的幅度和相位值。

10.根據權利要求6或7所述的基于頻分的天線測試方法，其特征是，所述天線測試方法還包括以下步驟的一種或多種：采用頻率遍歷掃描、探頭覆蓋整個近場掃描面、進行近場到遠場的方向圖變換和口面場反演。